[發明專利]晶體模塊、檢測器及其高度解碼方法有效
申請號: | 201810366676.0 | 申請日: | 2018-04-23 |
公開(公告)號: | CN110389373B | 公開(公告)日: | 2022-12-09 |
發明(設計)人: | 張熙;謝思維;楊靜梧;趙指向;翁鳳花;黃秋;彭旗宇 | 申請(專利權)人: | 中派科技(深圳)有限責任公司;廣東影諾數字醫學科技有限公司 |
主分類號: | G01T1/202 | 分類號: | G01T1/202;G01T1/164 |
代理公司: | 北京睿邦知識產權代理事務所(普通合伙) 11481 | 代理人: | 徐丁峰;付偉佳 |
地址: | 518063 廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 晶體 模塊 檢測器 及其 高度 解碼 方法 | ||
本發明提供一種晶體模塊、檢測器和高度解碼方法。晶體模塊的閃爍晶體陣列大小為4N×4N,N為自然數,除第1列、第4N列的閃爍晶體外,其余閃爍晶體中的位于第2n列的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1列的閃爍晶體耦合的面上設置有第一透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1列的閃爍晶體的與相鄰的第2n列的閃爍晶體耦合的面上設置有第二透光窗口;除第1行、第4N行的閃爍晶體外,其余閃爍晶體中的位于第2n行的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1行的閃爍晶體耦合的面上設置有第三透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1行的閃爍晶體的與相鄰的第2n行的閃爍晶體耦合的面上設置有第四透光窗口。本發明的檢測器具備較高的DOI解碼精度及位置解碼能力。
技術領域
本發明涉及發射成像系統,具體地,涉及一種晶體模塊、檢測器以及檢測器的高度解碼方法。
背景技術
正電子發射斷層成像技術(Positron Emission tomography,PET)是功能分子成像技術中最靈敏的、能夠定量測量的方法之一,廣泛應用于早期疾病的檢測,如心血管、腫瘤和癌癥等。PET前端探測器模塊通常由離散晶體陣列耦合光電傳感器陣列(如PMTs(photomultipliers tubes),SiPMs(silicon photomultipliers))組成。511KeV伽馬光子與閃爍晶體發生湮滅反應轉化為可見光子群,被光電傳感器接收,傳感器檢測的能量信號分布利用重心算法(Anger Logic)解碼反應晶體位置。為了能夠早期發現人體的代謝異常和滿足臨床研究要求,PET系統必須同時滿足具有較高的空間分辨率和靈敏度性能。隨著系統邊緣半徑的增加,空間分辨率因視覺誤差(Parallax errors)嚴重降低。PET系統能夠實現高的靈敏度而不降低系統空間分辨率,必須具有能力獲得伽馬光子在閃爍晶體的反應深度(Depth of Interaction,DOI)信息。
因此,有必要提出一種晶體模塊、檢測器以及檢測器的高度解碼方法,以準確獲取閃爍晶體的反應深度,提高成像系統的空間分辨率。
發明內容
根據本發明的一個方面,提供一種用于檢測器的晶體模塊,包括閃爍晶體陣列,所述晶體模塊具有上端面和下端面,所述閃爍晶體陣列大小為4N×4N,N為自然數,除第1列、第4N列的閃爍晶體外,其余閃爍晶體中的位于第2n列的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1列的閃爍晶體耦合的面上設置有第一透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1列的閃爍晶體的與相鄰的第2n列的閃爍晶體耦合的面上設置有第二透光窗口;除第1行、第4N行的閃爍晶體外,其余閃爍晶體中的位于第2n行的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1行的閃爍晶體耦合的面上設置有第三透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1行的閃爍晶體的與相鄰的第2n行的閃爍晶體耦合的面上設置有第四透光窗口;其中,n為自然數,且4N-1≧n≧1。
優選地,所述第一透光窗口、第二透光窗口、第三透光窗口和第四透光窗口皆靠近所述上端面設置,且所有透光窗口的上端與其所在的閃爍晶體的頂面相平齊。
優選地,所述第一透光窗口、第二透光窗口、第三透光窗口和第四透光窗口皆靠近所述下端面設置,且所有透光窗口的下端與其所在的閃爍晶體的底面相平齊。
優選地,所述第一透光窗口與所述第二透光窗口面對面設置,所述第三透光窗口與所述第四透光窗口面對面設置。
根據本發明的另一個方面,提供一種用于發射成像設備的檢測器,包括晶體模塊和光電傳感器陣列,所述晶體模塊具有出光面,所述光電傳感器陣列耦合至所述晶體模塊的出光面,所述晶體模塊為上述的晶體模塊。
優選地,所述出光面為所述晶體模塊的下端面,所有透光窗口靠近所述晶體模塊的上端面設置,且所有透光窗口的上端與其所在的閃爍晶體的頂面相平齊。
優選地,所述出光面為所述晶體模塊的上端面,所有透光窗口靠近所述晶體模塊的下端面設置,且所有透光窗口的下端與其所在的閃爍晶體的底面相平齊。
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