[發明專利]晶體模塊、檢測器及其高度解碼方法

有效

• 申請號: 201810366676.0
• 申請日: 2018-04-23
• 公開（公告）號: CN110389373B
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發明（設計）人: 張熙;謝思維;楊靜梧;趙指向;翁鳳花;黃秋;彭旗宇
• 申請（專利權）人: 中派科技（深圳）有限責任公司;廣東影諾數字醫學科技有限公司
• 主分類號: G01T1/202
• 分類號: G01T1/202;G01T1/164
• 代理公司: 北京睿邦知識產權代理事務所(普通合伙) 11481
• 代理人: 徐丁峰;付偉佳

1.一種用于檢測器的晶體模塊，其特征在于，包括閃爍晶體陣列，所述晶體模塊具有上端面和下端面，所述閃爍晶體陣列大小為4N×4N，N為自然數，除第1列、第4N列的閃爍晶體外，其余閃爍晶體中的位于第2n列的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1列的閃爍晶體耦合的面上設置有第一透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1列的閃爍晶體的與相鄰的第2n列的閃爍晶體耦合的面上設置有第二透光窗口；除第1行、第4N行的閃爍晶體外，其余閃爍晶體中的位于第2n行的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1行的閃爍晶體耦合的面上設置有第三透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1行的閃爍晶體的與相鄰的第2n行的閃爍晶體耦合的面上設置有第四透光窗口；其中，n為自然數，且4N-1≧n≧1。

2.根據權利要求1所述的晶體模塊，其特征在于，所述第一透光窗口、第二透光窗口、第三透光窗口和第四透光窗口皆靠近所述上端面設置，且所有透光窗口的上端與其所在的閃爍晶體的頂面相平齊。

3.根據權利要求1所述的晶體模塊，其特征在于，所述第一透光窗口、第二透光窗口、第三透光窗口和第四透光窗口皆靠近所述下端面設置，且所有透光窗口的下端與其所在的閃爍晶體的底面相平齊。

4.根據權利要求1-3中任何一項所述的晶體模塊，其特征在于，所述第一透光窗口與所述第二透光窗口面對面設置，所述第三透光窗口與所述第四透光窗口面對面設置。

5.一種用于發射成像設備的檢測器，包括晶體模塊和光電傳感器陣列，所述晶體模塊具有出光面，所述光電傳感器陣列耦合至所述晶體模塊的出光面，其特征在于，所述晶體模塊為權利要求1所述的晶體模塊。

6.根據權利要求5所述的檢測器，其特征在于，所述出光面為所述晶體模塊的下端面，所有透光窗口靠近所述晶體模塊的上端面設置，且所有透光窗口的上端與其所在的閃爍晶體的頂面相平齊。

7.根據權利要求5所述的檢測器，其特征在于，所述出光面為所述晶體模塊的上端面，所有透光窗口靠近所述晶體模塊的下端面設置，且所有透光窗口的下端與其所在的閃爍晶體的底面相平齊。

8.根據權利要求5所述的檢測器，其特征在于，所述光電傳感器陣列包括多個光電傳感器，所述多個光電傳感器中的一個分別耦合有一個所述閃爍晶體。

9.根據權利要求5所述的檢測器，其特征在于，所述光電傳感器陣列包括多個光電傳感器，所述多個光電傳感器中的至少一個分別耦合有多個所述閃爍晶體。

10.一種檢測器的高度解碼方法，用于對權利要求5所述的檢測器進行高度解碼，其特征在于，包括如下步驟：

S1，做解碼圖，對解碼圖中除第1行第1列、第1行4n列、第4n行第1列、第4n行第4n列的晶體外，其余晶體分別建立三維坐標軸，且分別按照坐標軸投影到x軸上，畫出沿x軸方向的y方向上求和，其中，n為自然數；

S2，把不同準直高度的y方向上求和放在一起比較和計算DOI的FWHM分辨率；

S3，畫出不同準直高度的y方向上求和的光斑峰值位置和DOI高度對應關系曲線，對這個對應關系進行插值或者擬合，作為DOI解碼曲線；

S4，得到DOI解碼曲線后，通過光分布獲得DOI信息以用于圖像重建。