[發明專利]表面檢測方法

在審

• 申請號: 201810361437.6
• 申請日: 2018-04-20
• 公開（公告）號: CN110389173A
• 公開（公告）日: 2019-10-29
• 發明（設計）人: 林志杰;王獻國
• 申請（專利權）人: 高思設計股份有限公司;林志杰;王獻國
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06;G01N21/88
• 代理公司: 北京申翔知識產權代理有限公司 11214
• 代理人: 黃超;周春發

本發明的表面檢測方法，首先建立至少一超音波圖像模型及至少一光學影像模型，并且在擷取被測物的被測物超音波圖像及被測物光學影像之后，透過比對被測物超音波圖像及被測物光學影像兩種結果的方式達到表面檢測目的，不但可以獲得準確的檢測結果，更可大幅縮短檢測時間，尤適合應用自動化連續加工制程，以相對更為積極、可靠的手段，避免問題產品連續性產出，以及監控生產線設備的妥善率。

技術領域

本發明有關一種檢測技術，特別是指一種可以縮短檢測時間，尤適合應用自動化連續加工制程需求的表面檢測方法。

背景技術

在現今的加工制造領域中，對于產品表面質量檢測極為重要，除可藉以檢測產品的加工完成度，藉以維護產品的加工質量外，更可藉由產品表面所產生的瑕疵，進一步發現相關的加工設備是否發生異?；蚝膿p。

傳統對于產品的表面檢測方法多采目視檢測方式，一般情況下，質檢人員在以目測方式檢查產品上、下表面的表面狀態之后，即需做出相關的檢測判斷，其檢測結果往往因人而異，且偶有因為落檢而無法實時反映產品加工質量的全貌。

隨著科技的演進，數位影像辨視能力越來越進步，相關的自動表面檢測系統孕育而生，已知透過光學儀器(如紅外線掃描儀)掃描的方式，檢測產品表面瑕疵；由于光學掃描以點構成線再構成面的方式達到檢驗目的，必須耗費較長的時間，相對拉長隨機采樣的間隔，相對較不符合現今自動化連續加工制程需求。

發明內容

有鑒于此，本發明即在提供一種可以縮短檢測時間，尤適合應用自動化連續加工制程需求的表面檢測方法。

本發明的表面檢測方法，基本上包括下列步驟：(a)建立至少一超音波圖像模型及至少一光學影像模型；(b)設定檢測項目的范圍及比對值，依照所需的檢測項目，透過軟體于該至少一超音波圖像模型當中設定至少一與檢測項目對應的超音波圖像檢測范圍及超音波比對值，以及利用軟體于該至少一光學影像模型當中設定至少一與檢測項目對應的光學影像檢測范圍及光學比對值；(c)提供一被測物；(d)擷取該被測物的被測物超音波圖像及被測物光學影像，利用至少一超音波成像設備擷取該被測物的被測物超音波圖像，以及利用至少一數位相機擷取該被測物的被測物光學影像；(e)比對被測物超音波圖像及被測物光學影像，透過軟體依照所設定的超音波圖像檢測范圍及超音波比對值，將該被測物超音波圖像的數位圖像資訊與該至少一超音波圖像模型的數位圖像資訊進行比對，以及透過軟體依照所設定的光學影像檢測范圍及光學比對值，將該被測物光學影像的數位影像資訊與該至少一光學影像模型的數位影像資訊進行比對；(f)輸出比對結果。

據以，本發明的表面檢測方法，可透過比對被測物超音波圖像及被測物光學影像兩種結果的方式完達到表面檢測的目的，不但可以獲得準確的檢測結果，更可大幅縮短檢測時間，尤適合應用自動化連續加工制程。

依據上述技術特征，該至少一超音波圖像模型或該至少一光學影像模型可以透過軟體建置而成；該超音波圖像模型及該光學影像模型相對應于該被測物。

依據上述技術特征，該表面檢測方法，在完成一對應于被測物的實體模型之后，利用至少一超音波成像設備擷取該實體模型的超音波圖像之后，完成該至少一超音波圖像模型。

依據上述技術特征，該表面檢測方法，在完成一對應于被測物的實體模型之后，利用至少一數位相機擷取該實體模型的光學影像之后，完成該至少一光學影像模型。

依據上述技術特征，該表面檢測方法，在完成一對應于被測物的實體模型之后，利用至少一超音波成像設備擷取該實體模型的超音波圖像，透過軟體修飾完成該至少一超音波圖像模型。

依據上述技術特征，該表面檢測方法，在完成一對應于被測物的實體模型之后，利用至少一數位相機擷取該實體模型的光學影像，透過軟體修飾完成該至少一光學影像模型。