[發明專利]量子產率計算方法、熒光分光光度計以及存儲介質

有效

• 申請號: 201810356158.0
• 申請日: 2018-04-19
• 公開（公告）號: CN108732146B
• 公開（公告）日: 2021-08-06
• 發明（設計）人: 渡邊康之
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

提供一種量子產率計算方法、熒光分光光度計以及存儲介質，能夠高精度地計算量子產率。在利用熒光分光光度計來計算量子產率時，校正處理部進行基于光子數(A1)和光子數(B1)來校正光子數(A2)的處理，光子數(A1)是空白測定狀態下的激勵光的光子數，光子數(B1)是樣品測定狀態下的激勵光的光子數，光子數(A2)是空白測定狀態下的熒光的光子數。因此，能夠校正光子數(A2)來高精度地計算校正后背景光子數(A2′)。另外，量子產率計算處理部除了基于空白測定狀態下的激勵光的光子數(A1)和樣品測定狀態下的熒光的光子數(B2)以外，還基于校正后背景光子數(A2′)計算量子產率。因此，能夠高精度地計算量子產率。

技術領域

本發明涉及如下一種熒光分光光度計：使激勵光入射到在內部形成有用 于配置樣品的測定位置的積分球內，通過檢測從積分球內射出的光來獲取 譜。另外，本發明涉及一種基于該譜來計算量子產率的量子產率計算方法以 及量子產率計算程序。

背景技術

一直以來，進行著對具有特定的波長成分的光進行反應來實現目標的功 能那樣的光反應分子的研究。

光反應分子通常為在能量上穩定的基態，當被照射具有特定的波長成分 的激勵光時，吸收其光能而成為激勵狀態。而且，光反應分子通過發出熒光 或者磷光而恢復為原來的穩定的基態。此時，例如所發出的光的光子數相對 于照射或者吸收的光的光子數的比被表示為量子產率。

例如通過利用設置有積分球的熒光分光光度計來計算這種量子產率(例 如，參照下述專利文獻1)。

具體地說，在利用熒光分光光度計來計算量子產率的情況下，首先，在 積分球內的測定位置處不存在樣品的狀態下使激勵光入射到積分球內。然 后，通過檢測從積分球內射出的光來制作譜。接著，在積分球內的測定位置 設置有樣品的狀態下同樣地制作譜。然后，基于這些譜計算在無樣品狀態和 有樣品狀態這兩種狀態下從積分球射出的光的光子數。另外，基于這些光子 數來計算量子產率。

專利文獻1：日本特開2016-151426號公報

發明內容

發明要解決的問題

在上述以往的方法中，有時產生所計算的量子產率的精度降低這樣的缺 陷。

具體地說，在上述以往的方法中，有時在從積分球射出的光中包含通過 照射到積分球的內壁而發出的熒光等所謂的背景成分(雜散光成分)。因此， 有時由于該背景成分而導致量子產率的精度降低。另外，即使在計算出背景 成分之后計算量子產率的情況下，只要背景成分的計算的精度降低，量子產 率的精度就降低。

本發明是鑒于上述實際情況而完成的，其目的在于提供一種能夠高精度 地計算量子產率的量子產率計算方法、熒光分光光度計以及量子產率計算程 序。

用于解決問題的方案

(1)本發明所涉及的量子產率計算方法使激勵光入射到在內部形成有用 于配置樣品的測定位置的積分球內，基于通過檢測從所述積分球內射出的光 所獲得的譜來計算量子產率。所述量子產率計算方法包括空白測定步驟、樣 品測定步驟、校正步驟以及量子產率計算步驟。在所述空白測定步驟中，基 于通過在所述測定位置處不存在樣品或者僅設置有裝有溶劑的腔室或試樣 蒸鍍前的基材的空白測定狀態下使激勵光入射到所述積分球內所獲得的譜， 計算向所述積分球內入射的激勵光的光子數來作為第一光子數，并且計算與 激勵光的波長范圍不同的特定波長范圍的光的光子數來作為第二光子數。在 所述樣品測定步驟中，基于通過在所述測定位置處存在樣品的樣品測定狀態 下使激勵光入射到所述積分球內所獲得的譜，計算未被樣品吸收的激勵光的 光子數來作為第三光子數，并且計算所述特定波長范圍的光的光子數來作為 第四光子數。在所述校正步驟中，通過基于所述第一光子數和所述第三光子 數校正所述第二光子數來計算第五光子數。在所述量子產率計算步驟中，基 于所述第一光子數、所述第四光子數以及所述第五光子數計算量子產率。