[發(fā)明專利]量子產(chǎn)率計(jì)算方法、熒光分光光度計(jì)以及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810356158.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108732146B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 渡邊康之 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社島津制作所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 量子 計(jì)算方法 熒光 分光 光度計(jì) 以及 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種量子產(chǎn)率計(jì)算方法,使激勵(lì)光入射到在內(nèi)部形成有用于配置樣品的測(cè)定位置的積分球內(nèi),基于通過(guò)檢測(cè)從所述積分球內(nèi)射出的光所獲得的譜來(lái)計(jì)算量子產(chǎn)率,該量子產(chǎn)率計(jì)算方法的特征在于,包括以下步驟:
空白測(cè)定步驟,基于通過(guò)在所述測(cè)定位置處不存在樣品的空白測(cè)定狀態(tài)下使激勵(lì)光入射到所述積分球內(nèi)所獲得的譜,計(jì)算向所述積分球內(nèi)入射的激勵(lì)光的光子數(shù)來(lái)作為第一光子數(shù),并且計(jì)算與激勵(lì)光的波長(zhǎng)范圍不同的特定波長(zhǎng)范圍的光的光子數(shù)來(lái)作為所述空白測(cè)定狀態(tài)下的所述積分球的背景光子數(shù)即第二光子數(shù);
樣品測(cè)定步驟,基于通過(guò)在所述測(cè)定位置處存在樣品的樣品測(cè)定狀態(tài)下使激勵(lì)光入射到所述積分球內(nèi)所獲得的譜,計(jì)算未被樣品吸收的激勵(lì)光的光子數(shù)來(lái)作為第三光子數(shù),并且計(jì)算所述特定波長(zhǎng)范圍的光的光子數(shù)來(lái)作為第四光子數(shù);
校正步驟,基于所述第一光子數(shù)和所述第三光子數(shù)來(lái)校正所述第二光子數(shù),從而以高精度計(jì)算出第五光子數(shù);以及
量子產(chǎn)率計(jì)算步驟,基于所述第一光子數(shù)、所述第四光子數(shù)以及所述第五光子數(shù)計(jì)算量子產(chǎn)率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子產(chǎn)率計(jì)算方法,其特征在于,
在所述量子產(chǎn)率計(jì)算步驟中,基于所述第一光子數(shù)、所述第四光子數(shù)以及所述第五光子數(shù),計(jì)算從所述樣品產(chǎn)生的光的光子數(shù)相對(duì)于向所述積分球內(nèi)入射的激勵(lì)光的光子數(shù)的比來(lái)作為外部量子產(chǎn)率。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子產(chǎn)率計(jì)算方法,其特征在于,
在所述量子產(chǎn)率計(jì)算步驟中,基于所述第一光子數(shù)、所述第三光子數(shù)、所述第四光子數(shù)以及所述第五光子數(shù),計(jì)算從所述樣品產(chǎn)生的光的光子數(shù)相對(duì)于被所述樣品吸收的激勵(lì)光的光子數(shù)的比來(lái)作為內(nèi)部量子產(chǎn)率。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子產(chǎn)率計(jì)算方法,其特征在于,
在所述空白測(cè)定步驟中,基于在所述積分球的出射口與用于檢測(cè)從所述積分球內(nèi)射出的光的光檢測(cè)部之間的光路上設(shè)置有使激勵(lì)光的波長(zhǎng)范圍的透射率降低的光學(xué)濾波器的狀態(tài)和在光路上沒(méi)有設(shè)置所述光學(xué)濾波器的狀態(tài)下分別獲得的譜,來(lái)計(jì)算所述第二光子數(shù)和所述第一光子數(shù),
在所述樣品測(cè)定步驟中,基于在光路上設(shè)置有所述光學(xué)濾波器的狀態(tài)和在光路上沒(méi)有設(shè)置所述光學(xué)濾波器的狀態(tài)下分別獲得的譜,來(lái)計(jì)算所述第四光子數(shù)和所述第三光子數(shù)。
5.一種熒光分光光度計(jì),使激勵(lì)光入射到在內(nèi)部形成有用于配置樣品的測(cè)定位置的積分球內(nèi),通過(guò)檢測(cè)從所述積分球內(nèi)射出的光來(lái)獲取譜,該熒光分光光度計(jì)的特征在于,具備:
空白測(cè)定處理部,其基于通過(guò)在所述測(cè)定位置處不存在樣品的空白測(cè)定狀態(tài)下使激勵(lì)光入射到所述積分球內(nèi)所獲得的譜,計(jì)算向所述積分球內(nèi)入射的激勵(lì)光的光子數(shù)來(lái)作為第一光子數(shù),并且計(jì)算與激勵(lì)光的波長(zhǎng)范圍不同的特定波長(zhǎng)范圍的光的光子數(shù)來(lái)作為所述空白測(cè)定狀態(tài)下的所述積分球的背景光子數(shù)即第二光子數(shù);
樣品測(cè)定處理部,其基于通過(guò)在所述測(cè)定位置處存在樣品的樣品測(cè)定狀態(tài)下使激勵(lì)光入射到所述積分球內(nèi)所獲得的譜,計(jì)算未被樣品吸收的激勵(lì)光的光子數(shù)來(lái)作為第三光子數(shù),并且計(jì)算所述特定波長(zhǎng)范圍的光的光子數(shù)來(lái)作為第四光子數(shù);
校正處理部,其基于所述第一光子數(shù)和所述第三光子數(shù)來(lái)校正所述第二光子數(shù),從而以高精度計(jì)算出第五光子數(shù);以及
量子產(chǎn)率計(jì)算處理部,其基于所述第一光子數(shù)、所述第四光子數(shù)以及所述第五光子數(shù)計(jì)算量子產(chǎn)率。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的熒光分光光度計(jì),其特征在于,
所述量子產(chǎn)率計(jì)算處理部基于所述第一光子數(shù)、所述第四光子數(shù)以及所述第五光子數(shù),計(jì)算從所述樣品產(chǎn)生的光的光子數(shù)相對(duì)于向所述積分球內(nèi)入射的激勵(lì)光的光子數(shù)的比來(lái)作為外部量子產(chǎn)率。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的熒光分光光度計(jì),其特征在于,
所述量子產(chǎn)率計(jì)算處理部基于所述第一光子數(shù)、所述第三光子數(shù)、所述第四光子數(shù)以及所述第五光子數(shù),計(jì)算從所述樣品產(chǎn)生的光的光子數(shù)相對(duì)于被所述樣品吸收的激勵(lì)光的光子數(shù)的比來(lái)作為內(nèi)部量子產(chǎn)率。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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