[發(fā)明專利]一種對電阻率斷面進(jìn)行層位校正的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810338750.8
• 申請日: 2018-04-16
• 公開（公告）號: CN108535783B
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王鵬;馮宏;曾方祿;姚偉華;郭恒;王益;李丹
• 申請（專利權(quán)）人: 中煤科工集團(tuán)西安研究院有限公司
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38
• 代理公司: 北京天奇智新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11340
• 代理人: 李振文

本發(fā)明涉及一種層位校正的方法及裝置，屬于地質(zhì)勘測領(lǐng)域，具體是涉及一種對電阻率斷面進(jìn)行層位校正的方法及裝置。包括：根據(jù)鉆孔電阻率測井曲線獲取探測區(qū)地層電阻率與深度信息；經(jīng)過統(tǒng)計和分析獲得地層地電斷面類型，確定電性標(biāo)志層；逐點(diǎn)對比電性標(biāo)志層實(shí)際深度與斷面圖上深度的差異，確定各測點(diǎn)的補(bǔ)償深度；對測線上所有測點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)償校正，完成電阻率斷面層位校正。本發(fā)明可以在獲得地層起伏和鉆孔電阻率測井曲線的基礎(chǔ)上，以電性標(biāo)志層和地層標(biāo)志層為基礎(chǔ)，快速準(zhǔn)確地對層位不匹配現(xiàn)象進(jìn)行校正，提高電阻率斷面質(zhì)量和精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種層位校正的方法及裝置，屬于地質(zhì)勘測領(lǐng)域，具體是涉及一種對電阻率斷面進(jìn)行層位校正的方法及裝置。

背景技術(shù)

電阻率法是地球物理勘探中的一種重要勘探方法，以電阻率斷面圖的形式表達(dá)地下介質(zhì)在水平和深度方向上的變化，在找礦和解決構(gòu)造、水文、工程地質(zhì)問題以及環(huán)境監(jiān)測中得到廣泛應(yīng)用。

由于地質(zhì)條件的復(fù)雜性，實(shí)際工作往往面臨地形起伏、地層傾斜、構(gòu)造劇烈等復(fù)雜情況。受限于當(dāng)前技術(shù)水平，電法勘探理論一般以一維水平層狀介質(zhì)為基礎(chǔ)，沒有考慮實(shí)際條件下測點(diǎn)之間存在高差、地層傾斜起伏、巖性橫向不連續(xù)等情況，使得電阻率斷面與實(shí)際地層存在偏差，甚至對使用者產(chǎn)生誤導(dǎo)。因此，對電阻率斷面進(jìn)行層位校正存在迫切需求，相關(guān)技術(shù)得到廣泛研究。

早期對地形影響造成的層位校正問題主要采用比值校正法。該方法先通過一定手段獲得純地形異常，然后用地形造成的異常倍數(shù)乘或除以實(shí)測數(shù)據(jù)達(dá)到消弱地形影響的效果。在計算能力有限的早期，獲得純地形異常的手段有水槽、土槽、導(dǎo)電紙等物理模擬方法，直流電法還可利用場的解析解通過保角變換獲得。隨著計算機(jī)和計算技術(shù)的發(fā)展，二維和三維純地形正演模擬成為獲得純地形異常的另一種方式。但由于實(shí)際地形起伏和地層電性的復(fù)雜性，如近地表的風(fēng)化、風(fēng)蝕、沖蝕等作用使地表或近地表產(chǎn)生不均勻性，無論物理模擬還是數(shù)值模擬均不能精確地對探測區(qū)的真實(shí)情況進(jìn)行模擬，故難以獲得準(zhǔn)確的純地形影響，不能取得實(shí)際的生產(chǎn)意義。

公開號為CN104698502A的中國發(fā)明專利公開了一種由井出發(fā)的瞬變電磁勘探地形校正處理方法，認(rèn)為能解決現(xiàn)有的比值法和帶地形的二維或三維反演方法應(yīng)用過程中，將復(fù)雜地質(zhì)結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)換成均勻介質(zhì)的計算誤差問題。該發(fā)明對采集數(shù)據(jù)進(jìn)行高頻、低頻分量分離，將井資料低頻分量與實(shí)際觀測資料低頻分量進(jìn)行匹配濾波，將匹配濾波后的低頻分量與實(shí)際觀測到的高頻分量進(jìn)行疊加進(jìn)行地形校正。該發(fā)明借助井的資料從頻率域的角度進(jìn)行瞬變電磁法的地形影響校正，但在實(shí)際勘探過程中，探測深度根據(jù)目的任務(wù)由淺至深不等，而井資料的深度固定，高頻低頻成分并不能完全與目的任務(wù)匹配，且該專利針對瞬變電磁法發(fā)明，對其它電磁探測方法無效。因此，該發(fā)明具有一定的局限性。

公開號為CN107024722A的中國發(fā)明專利公開了一種基于異常環(huán)的低溫超導(dǎo)磁源瞬變電磁地形校正方法。該方法利用低溫超導(dǎo)傳感器在發(fā)射線圈中心點(diǎn)測量兩次，分別得到中心點(diǎn)有異常環(huán)和沒有異常環(huán)時的響應(yīng)，通過兩者的響應(yīng)差異得到校正系數(shù)，實(shí)現(xiàn)起伏地形下的大地真實(shí)電阻率解釋成像。由于低溫超導(dǎo)探頭并沒有廣泛應(yīng)用，且該專利針對瞬變電磁法發(fā)明，對常規(guī)探頭的瞬變電磁數(shù)據(jù)或其它電磁法數(shù)據(jù)無效，故該發(fā)明也具有一定的局限性。

公開號為CN102495431A的中國發(fā)明專利公開了一種對瞬變電磁數(shù)據(jù)進(jìn)行靜校正的數(shù)據(jù)處理方法。首先確保數(shù)據(jù)消除了野外電磁干擾及邊框效應(yīng)的影響，根據(jù)晚期視電阻率公式計算晚期視電阻率，再根據(jù)視深度經(jīng)驗公式計算視深度，根據(jù)測點(diǎn)高程數(shù)據(jù)選擇基準(zhǔn)點(diǎn)和校正方式，通過各測點(diǎn)視深度與基準(zhǔn)點(diǎn)視深度比值確定靜校正因子，利用靜校正因子與衰減值和時間的立方及平方關(guān)系校正這兩個值，最后將得到的校正后的衰減值代入晚期視電阻率公式計算新的晚期視電阻率，再代入視深度經(jīng)驗公式就可以得到校正后的視深度，將該深度加上基準(zhǔn)點(diǎn)高程完成靜校正過程。該專利從測點(diǎn)高程差異的角度，對瞬變電磁法的視電阻率和視深度進(jìn)行靜校正，對地層地電斷面與電性標(biāo)志層等關(guān)鍵信息沒有考慮，對其它電磁探測方法無效。