[發(fā)明專利]陶瓷基片厚度檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810335850.5 | 申請日： | 2018-04-16 |
| 公開（公告）號： | CN108426532A | 公開（公告）日： | 2018-08-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 吳瑞忠 | 申請（專利權(quán)）人： | 九豪精密陶瓷（昆山）有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/06 | 分類號： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 32102 | 代理人： | 姚姣陽 |
| 地址： | 21534*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 陶瓷基片 檢測 搬運機構(gòu) 承載機構(gòu) 設(shè)備平臺 工位臺 厚度檢測裝置 上料工位 下料工位 搬運 抓取 固定設(shè)置 厚度檢測 可活動 自動化 承載 配合 | ||
本發(fā)明揭示了一種陶瓷基片厚度檢測裝置，包括設(shè)備平臺，還包括用于承載待檢測陶瓷基片的承載機構(gòu)、用于執(zhí)行待檢測陶瓷基片厚度檢測的檢測機構(gòu)、以及用于實現(xiàn)待檢測陶瓷基片抓取搬運的搬運機構(gòu)，所述承載機構(gòu)、檢測機構(gòu)以及搬運機構(gòu)均固定設(shè)置于所述設(shè)備平臺上，所述承載機構(gòu)包括上料工位臺、檢測工位臺以及下料工位臺，所述檢測工位臺可活動地設(shè)置于所述設(shè)備平臺上，所述搬運機構(gòu)與所述檢測工位臺相配合、共同完成待檢測陶瓷基片在所述上料工位臺與所述下料工位臺之間的搬運。本發(fā)明自動化程度高、檢測效果好而且有利于提升陶瓷基片的整體質(zhì)量，具體很高的使用及推廣價值。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種在陶瓷基片生產(chǎn)過程中使用的陶瓷基片厚度檢測裝置，屬于自動化加工領(lǐng)域。
背景技術(shù)
陶瓷基片，又稱陶瓷基板，是以電子陶瓷為基底，對膜電路元件及外貼切元件形成一個支撐底座的片狀材料。
隨著微電子技術(shù)的進(jìn)步，微加工工藝的特征線寬已達(dá)亞微米級，在單塊陶瓷基板上可以集成106～109個以上元件，電路工作的速度越來越快、頻率越來越高，這對陶瓷基板的性能也提出了更高的要求。此外，為了順應(yīng)目前行業(yè)內(nèi)產(chǎn)品小型化、精密化的發(fā)展趨勢，加工生產(chǎn)企業(yè)對陶瓷基板的尺寸、厚度等產(chǎn)品規(guī)格的把控也愈發(fā)嚴(yán)格。
目前，絕大多數(shù)的加工企業(yè)在對其所生產(chǎn)的陶瓷基板進(jìn)行厚度檢測的過程中，仍然是采用人工操作的方式。在目前的檢測過程中，會使用到一種輔助檢測裝置，這種裝置結(jié)構(gòu)簡單，主要由兩塊固定塊組成，兩塊所述固定塊之間的間隙可調(diào)，操作者通過將陶瓷基片塞入間隙內(nèi)的方式判斷陶瓷基片的厚度是否達(dá)標(biāo)。若陶瓷基片的厚度符合標(biāo)準(zhǔn)，那么就可以從間隙中順利滑出。若陶瓷基片的厚度超標(biāo)，那么就會卡在間隙內(nèi)，此時，操作者就可以將不符合標(biāo)準(zhǔn)的陶瓷基片取出，放入廢料盒內(nèi)。
上述操作雖然可以對陶瓷基片的厚度進(jìn)行檢測，但是仍然存在著諸多問題。首先，這種檢測方式完全依靠人工操作來完成，不僅檢測效率低，可能存在誤差，而且對企業(yè)的人力資源依賴嚴(yán)重，檢測成本高。此外，由于陶瓷基片本身的特性，在進(jìn)行此類檢測過程中，極有可能會出現(xiàn)磕碰的情況，導(dǎo)致陶瓷基片上產(chǎn)生肉眼不可見的裂紋，嚴(yán)重的還會導(dǎo)致碎片，從而嚴(yán)重影響加工產(chǎn)品的質(zhì)量。
綜上所述，如何提供一種檢測效率高、不會對產(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生影響的陶瓷基片厚度檢測裝置，就成為了本領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)人員所亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在上述缺陷，本發(fā)明的目的是提出一種在陶瓷基片生產(chǎn)過程中使用的陶瓷基片厚度檢測裝置。
本發(fā)明的目的，將通過以下技術(shù)方案得以實現(xiàn)：
一種陶瓷基片厚度檢測裝置，包括設(shè)備平臺，還包括用于承載待檢測陶瓷基片的承載機構(gòu)、用于執(zhí)行待檢測陶瓷基片厚度檢測的檢測機構(gòu)、以及用于實現(xiàn)待檢測陶瓷基片抓取搬運的搬運機構(gòu)，所述承載機構(gòu)、檢測機構(gòu)以及搬運機構(gòu)均固定設(shè)置于所述設(shè)備平臺上，所述承載機構(gòu)包括上料工位臺、檢測工位臺以及下料工位臺，所述檢測工位臺可活動地設(shè)置于所述設(shè)備平臺上，所述搬運機構(gòu)與所述檢測工位臺相配合、共同完成待檢測陶瓷基片在所述上料工位臺與所述下料工位臺之間的搬運。
優(yōu)選地，所述設(shè)備平臺上固定設(shè)置有滑動座，所述檢測工位臺固定設(shè)置于所述滑動座上，所述檢測工位臺借助所述滑動座可活動地設(shè)置于所述設(shè)備平臺上。
優(yōu)選地，所述上料工位臺及下料工位臺均固定設(shè)置于所述設(shè)備平臺上，所述下料工位臺包括合格品工位臺及殘次品工位臺，所述合格品工位臺與所述殘次品工位臺之間的連線方向與所述滑動座的活動方向相垂直。
優(yōu)選地，所述上料工位臺以及所述下料工位臺的底部均設(shè)置有抬升組件，所述抬升組件包括抬升氣缸以及承托板，所述抬升氣缸固定設(shè)置于所述設(shè)備平臺下方，所述承托板與所述抬升氣缸的氣缸軸固定連接，所述承托板的尺寸大小與待檢測陶瓷基片的尺寸大小匹配對應(yīng)。
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