[發(fā)明專利]陶瓷基片厚度檢測裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810335850.5
• 申請日: 2018-04-16
• 公開（公告）號: CN108426532A
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設計）人: 吳瑞忠
• 申請（專利權）人: 九豪精密陶瓷（昆山）有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 姚姣陽

1.一種陶瓷基片厚度檢測裝置，包括設備平臺（1），其特征在于：還包括用于承載待檢測陶瓷基片的承載機構、用于執(zhí)行待檢測陶瓷基片厚度檢測的檢測機構、以及用于實現(xiàn)待檢測陶瓷基片抓取搬運的搬運機構，所述承載機構、檢測機構以及搬運機構均固定設置于所述設備平臺上，所述承載機構包括上料工位臺（2）、檢測工位臺（3）以及下料工位臺，所述檢測工位臺（3）可活動地設置于所述設備平臺（1）上，所述搬運機構與所述檢測工位臺（3）相配合、共同完成待檢測陶瓷基片在所述上料工位臺（2）與所述下料工位臺之間的搬運。

2.根據(jù)權利要求1所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述設備平臺（1）上固定設置有滑動座（6），所述檢測工位臺（3）固定設置于所述滑動座（6）上，所述檢測工位臺（3）借助所述滑動座（6）可活動地設置于所述設備平臺（1）上。

3.根據(jù)權利要求2所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述上料工位臺（2）及下料工位臺均固定設置于所述設備平臺（1）上，所述下料工位臺包括合格品工位臺（4）及殘次品工位臺（5），所述合格品工位臺（4）與所述殘次品工位臺（5）之間的連線方向與所述滑動座（6）的活動方向相垂直。

4.根據(jù)權利要求1所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述上料工位臺（2）以及所述下料工位臺的底部均設置有抬升組件，所述抬升組件包括抬升氣缸以及承托板（7），所述抬升氣缸固定設置于所述設備平臺（1）下方，所述承托板（7）與所述抬升氣缸的氣缸軸固定連接，所述承托板（7）的尺寸大小與待檢測陶瓷基片的尺寸大小匹配對應。

5.根據(jù)權利要求2所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述搬運機構包括固定支架（8）、第一搬運組件以及第二搬運組件，所述第一搬運組件以及所述第二搬運組件均借助所述固定支架（8）可活動地設置于所述設備平臺（1）上，所述第一搬運組件以及所述第二搬運組件之間的距離與所述滑動座（6）的活動行程相匹配。

6.根據(jù)權利要求5所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述第一搬運組件包括第一連接板（9）、第一活動基座（10）、以及第一抓取氣缸（11），所述第一連接板（9）固定設置于所述固定支架（8）上，所述第一活動基座（10）可活動地設置于所述第一連接板（9）上，所述第一抓取氣缸（11）與所述第一活動基座（10）固定連接，所述第一抓取氣缸（11）的氣缸軸頂端固定設置有第一抓取吸盤（12），所述上料工位臺（2）位于所述第一抓取氣缸（11）的活動路徑上。

7.根據(jù)權利要求6所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述第二搬運組件包括第二連接板（13）、第二活動基座（14）、以及第二抓取氣缸（15），所述第二連接板（13）固定設置于所述固定支架（8）上，所述第二活動基座（14）可活動地設置于所述第二連接板（13）上，所述第二抓取氣缸（15）與所述第二活動基座（14）固定連接，所述第二抓取氣缸（15）的氣缸軸頂端固定設置有第二抓取吸盤（16），所述下料工位臺位于所述第二抓取氣缸（15）的活動路徑上。

8.根據(jù)權利要求7所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述第一連接板（9）的設置方向與所述第二連接板（13）的設置方向相平行，所述第一連接板（9）的設置方向與所述第二連接板（13）的設置方向均與所述滑動座（6）的活動方向相垂直。

9.根據(jù)權利要求6所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：所述檢測機構包括激光檢測筆（17）與數(shù)值顯示器（18），所述激光檢測筆（17）與所述數(shù)值顯示器（18）電性連接，所述激光檢測筆（17）固定設置于所述第一抓取氣缸（11）的一側，所述數(shù)值顯示器（18）固定設置于所述固定支架（8）上。

10.根據(jù)權利要求1所述的陶瓷基片厚度檢測裝置，其特征在于：還包括固定設置于所述設備平臺（1）上、用于控制各部件運作的控制器，所述承載機構、檢測機構以及所述搬運機構均與所述控制器電性連接并由其控制驅動。