[發明專利]RFID集成電路

在審

• 申請號: 201810335844.X
• 申請日: 2018-04-13
• 公開（公告）號: CN108734252A
• 公開（公告）日: 2018-11-02
• 發明（設計）人: 托馬斯·費娜;羅蘭德·布蘭德爾
• 申請（專利權）人: 恩智浦有限公司
• 主分類號: G06K19/07
• 分類號: G06K19/07
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 倪斌

本公開涉及一種用于射頻識別(RFID)標簽的集成電路。示例性實施例包括一種用于RFID標簽的集成電路(101)，所述集成電路(101)包括：存儲器(104)，所述存儲器(104)用于存儲數據；收發器(107)，所述收發器(107)用于從天線(102)接收信號并且向所述天線(102)發射信號；以及控制器(103)，所述控制器(103)被配置成處理經由所述收發器(107)接收的信號并且訪問存儲在所述存儲器(104)中的數據；其中，在經由所述收發器模塊(107)接收到提及所述存儲器(104)中的數據塊的鎖定命令時，所述控制器(103)被配置成對所述數據塊執行數據完整性校驗以便確定所述數據塊是否被正確存儲。

技術領域

本公開涉及一種用于射頻識別(RFID)標簽的集成電路。

背景技術

RFID標簽用于存儲可以使用RFID讀取器無線地訪問的信息。例如，電子產品代碼(EPC)、密鑰或口令可以存儲在RFID標簽上。可以在組裝標簽時或者在將使用標簽時在初始化過程期間將這種信息寫入RFID標簽的存儲器中。

可以使用RFID讀取器(或RFID詢問器)執行初始化過程。讀取器請求標簽將數據塊(比如，EPC)存儲在RFID標簽中的存儲器上。所述請求可以指定存儲器中將存儲數據塊的位置。標簽接收此請求并且將所請求的數據塊存儲在所請求的存儲器位置處。可以對多個RFID標簽重復此過程。

寫入步驟期間的問題可能使數據被不正確存儲。弱存儲的數據可能是數據寫入過程期間RFID讀取器與RFID標簽之間的通信中斷的結果。相比于正確(即強)存儲的數據的預期數據損失和信息損壞，弱存儲的數據可以引起數據損失和信息損壞的時間早得多。損壞的數據塊可能損害標簽的預期應用。例如，在標簽出于盤點目的存儲EPC的情況下，存儲在標簽上的EPC的一部分的損壞可能使盤點過程較低效并且引起附加成本。受損的口令可能限制標簽功能或者阻止訪問。

發明內容

根據第一方面，提供了一種用于RFID標簽的集成電路，所述集成電路包括：存儲器，所述存儲器用于存儲數據；收發器，所述收發器用于從天線接收信號并且向所述天線發射信號；以及控制器，所述控制器被配置成處理經由所述收發器接收的信號并且訪問存儲在所述存儲器中的數據，其中，在經由所述收發器模塊接收到提及所述存儲器中的數據塊的鎖定命令時，所述控制器被配置成對所述數據塊執行數據完整性校驗以便確定所述數據塊是否被正確存儲。

在示例性實施例中，對所述數據塊進行的所述數據完整性校驗包括：在第一讀取條件下對所述數據塊執行讀取操作；在不同于所述第一讀取條件的第二讀取條件下對所述數據塊執行所述讀取操作；以及將在所述第一讀取條件下執行的所述讀取操作的結果與在所述第二讀取條件下執行的所述讀取操作的結果進行比較以便確定所述數據塊是否被正確存儲在所述存儲器中。

在示例性實施例中，所述控制器被配置成：如果在所述第一讀取條件下執行的所述讀取操作的所述結果與在所述第二讀取條件下執行的所述讀取操作的所述結果不匹配，則確定所述數據塊未被正確存儲。

在示例性實施例中，所述存儲器包括具有參考電流的讀取放大器，并且在所述第二讀取條件下，所述參考電流比在所述第一讀取條件下更低。

在示例性實施例中，所述存儲器包括電壓偏移發生器，并且在所述第二讀取條件下，向所述存儲器施加比在所述第一讀取條件下更大的偏移電壓。

在示例性實施例中，所述讀取操作是校驗和操作。

在示例性實施例中，如果所述控制器確定所述數據塊未被正確存儲，則所述控制器被進一步配置成發射錯誤信號。

在示例性實施例中，如果所述控制器確定所述數據塊被正確存儲，則所述控制器被進一步配置成對所述存儲器中的所述數據塊執行鎖定操作。