[發明專利]RFID集成電路在審
| 申請號： | 201810335844.X | 申請日： | 2018-04-13 |
| 公開（公告）號： | CN108734252A | 公開（公告）日： | 2018-11-02 |
| 發明（設計）人： | 托馬斯·費娜;羅蘭德·布蘭德爾 | 申請（專利權）人： | 恩智浦有限公司 |
| 主分類號： | G06K19/07 | 分類號： | G06K19/07 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 荷蘭埃*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 存儲器 控制器 收發器 數據塊 集成電路 天線 存儲 數據完整性校驗 收發器模塊 存儲數據 發射信號 射頻識別 成對 配置 鎖定 標簽 訪問 | ||
1.一種用于RFID標簽的集成電路，其特征在于，所述集成電路包括：
存儲器，所述存儲器用于存儲數據；
收發器，所述收發器用于從天線接收信號并且向所述天線發射信號；以及
控制器，所述控制器被配置成處理經由所述收發器接收的信號，并且訪問存儲在所述存儲器中的數據，
其中，在經由所述收發器模塊接收到提及所述存儲器中的數據塊的鎖定命令時，所述控制器被配置成對所述數據塊執行數據完整性校驗以便確定所述數據塊是否被正確存儲。
2.根據權利要求1所述的集成電路，其特征在于，對所述數據塊執行所述數據完整性校驗包括：
在第一讀取條件下對所述數據塊執行讀取操作；
在不同于所述第一讀取條件的第二讀取條件下對所述數據塊執行所述讀取操作；以及
將在所述第一讀取條件下執行的所述讀取操作的結果與在所述第二讀取條件下執行的所述讀取操作的結果進行比較，以便確定所述數據塊是否被正確存儲。
3.根據權利要求2所述的集成電路，其特征在于，所述控制器被配置成：如果在所述第一讀取條件下執行的所述讀取操作的所述結果與在所述第二讀取條件下執行的所述讀取操作的所述結果不匹配，則確定所述數據塊未被正確存儲。
4.根據權利要求2所述的集成電路，其特征在于，所述存儲器包括具有參考電流的讀取放大器，并且在所述第二讀取條件下，所述參考電流比在所述第一讀取條件下更低；或者
所述存儲器包括電壓偏移發生器，并且在所述第二讀取條件下，向所述存儲器施加比在所述第一讀取條件下更大的偏移電壓。
5.根據權利要求2所述的集成電路，其特征在于，所述讀取操作是校驗和操作。
6.根據權利要求1所述的集成電路，其特征在于：
a)如果所述控制器確定所述數據塊未被正確存儲，則所述控制器被進一步配置成發射錯誤信號；或者
b)如果所述控制器確定所述數據塊被正確存儲，則所述控制器被進一步配置成對所述存儲器中的所述數據塊執行鎖定操作。
7.一種RFID標簽，其特征在于，包括：
天線，所述天線用于向RFID詢問器發射信號并且從所述RFID詢問器接收信號；以及
根據權利要求1至6中的任一項所述的集成電路。
8.一種確定數據塊是否被正確存儲在RFID標簽的存儲器中的方法，其特征在于，所述方法包括：
在所述RFID標簽的天線處接收提及數據塊的鎖定命令；以及
響應于接收到所述鎖定命令，對所述數據塊執行數據完整性校驗以便確定所述數據塊是否被正確存儲。
9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于：
a)如果確定所述數據塊未被正確存儲在所述存儲器中，則所述方法進一步包括經由所述天線發射錯誤信號；或者
b)如果確定所述數據塊被正確存儲在所述存儲器中，則所述方法進一步包括對存儲在所述存儲器中的所述數據塊執行鎖定操作。
10.一種將數據塊存儲在RFID標簽上的方法，其特征在于，所述方法包括：
從RFID詢問器向所述RFID標簽發射包括所述數據塊的寫入命令；
將所述數據塊存儲在所述RFID標簽的存儲器中；
從所述RFID詢問器向所述RFID標簽發射鎖定命令；
對所述數據塊執行數據完整性校驗以便確定所述數據塊是否被正確存儲在所述存儲器中；以及
如果確定所述數據塊被正確存儲，則對所述存儲器中的所述數據塊執行鎖定操作。
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