[發明專利]LRA諧振頻率的檢測裝置

有效

• 申請號: 201810326141.0
• 申請日: 2018-04-12
• 公開（公告）號: CN108693402B
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 肖文潤;王江;馮根強;張偉;門洪達
• 申請（專利權）人: 深圳市天微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 石佩

1.一種LRA諧振頻率的檢測裝置，其特征在于，包括驅動模塊、電流采樣模塊、電流比較模塊、閾值電流產生模塊；

所述驅動模塊用于向所述LRA依次發送不同驅動頻率的驅動電壓，并向所述電流采樣模塊發送驅動完成信號；

所述電流采樣模塊在接收所述驅動完成信號后，用于采樣所述驅動模塊的驅動電流并產生采樣電流，將所述采樣電流輸出至所述電流比較模塊的第一輸入端；

所述電流比較模塊的第二輸入端連接所述閾值電流產生模塊的輸出端，所述閾值電流產生模塊用于在所述電流比較模塊中產生閾值電流；

所述電流比較模塊的輸出端連接所述驅動模塊，用于比較所述采樣電流與所述閾值電流，并向所述驅動模塊發送反饋信號，若所述采樣電流小于所述閾值電流時，則所述驅動模塊確定所述LRA的當前驅動頻率為諧振頻率，且繼續以所述諧振頻率驅動所述LRA。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述驅動模塊包括驅動單元、晶體管MP1、晶體管MP2、晶體管MN1及晶體管MN2；

所述晶體管MP1的柵極、所述晶體管MN1的柵極均接所述控制芯片的正向驅動端；所述晶體管MP2的柵極、所述晶體管MN2的柵極均接所述控制芯片的反向驅動端；所述晶體管MP1漏極與所述晶體管MN1漏極的公共連接點接所述LRA的一端；所述晶體管MP2漏極與所述晶體管MN2漏極的公共連接點接所述LRA遠離所述晶體管MP1的一端；

所述晶體管MP1源極與所述晶體管MP2源極的公共連接點接所述電源電壓；

所述晶體管MN1源極與所述晶體管MN2源極的公共連接點接地；

所述晶體管MP2漏極、所述晶體管MN2漏極與所述LRA的公共連接點接所述電流采樣模塊。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述電流采樣模塊用于采樣所述晶體管MP1、所述晶體管MP2、所述晶體管MN1、所述晶體管MN2中任一個晶體管中的驅動電流。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述電流采樣模塊包括運算放大器、晶體管M1、晶體管M2、晶體管M3；所述運算放大器的正相輸入端接所述晶體管MP2漏極與所述晶體管MN2漏極的公共連接點；

所述運算放大器的反相輸入端接所述晶體管M1漏極與所述晶體管M2源極的公共連接點，所述晶體管M1柵極接所述驅動單元的正向驅動端，所述晶體管M1源極接地；

所述運算放大器的輸出端接所述晶體管M3的源極，所述晶體管M3的柵極接所述驅動單元的單次驅動完成端；所述晶體管M3的漏極接所述晶體管M2的柵極；所述晶體管M2的漏極連接所述電流比較模塊。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述電流比較模塊包括第一反相器、電阻R1、電阻R2、晶體管M4、晶體管M5、晶體管M6、晶體管M7、晶體管M8、晶體管M9；所述晶體管M2的漏極接所述電阻R2的一端與所述晶體管M8源極的公共連接點；

所述晶體管M8柵極、所述晶體管M7柵極及所述晶體管M7漏極的公共連接點接所述晶體管M5的漏極，所述晶體管M5的源極接所述晶體管M9的漏極，所述晶體管M6的源極接所述晶體管M4的漏極；

所述電阻R1一端接所述晶體管M7源極，另一端接電源電壓；

所述電阻R2與所述晶體管M8源極的公共連接點接所述電流采樣模塊，所述電阻R2遠離所述晶體管M8源極的一端接電源電壓；

所述晶體管M9源極、所述晶體管M4源極的公共連接點接地；

所述晶體管M8漏極與所述晶體管M6漏極的公共連接點接所述第一反相器的輸入端，所述第一反相器的輸出端接所述驅動單元的反饋端；

所述晶體管M4柵極與所述晶體管M9柵極的公共連接點接所述閾值電流產生模塊輸出的第一偏置電壓；

所述晶體管M5柵極與所述晶體管M6柵極的公共連接點接第二偏置電壓。