[發明專利]電磁測試探頭、電磁測試裝置和電磁測試方法

有效

• 申請號: 201810315923.4
• 申請日: 2018-04-10
• 公開（公告）號: CN108663588B
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 黃勃文
• 申請（專利權）人: 歌爾科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/06;G01R1/02
• 代理公司: 北京市隆安律師事務所 11323
• 代理人: 權鮮枝;吳昊

本發明公開了一種電磁測試探頭、電磁測試裝置和電磁測試方法。該電磁測試探頭包括：一中空的正柱體，正柱體的四周側壁內纏繞有感應線圈，正柱體底面設置有平板玻璃，平板玻璃表面繪制有圓形刻度盤；一握桿，握桿底部與正柱體的側面相連，握桿內部設置有激光發生器和測試信號線，測試信號線的正極與感應線圈的第一端相連，測試信號線的負極與線圈的第二端相連；握桿底部設有開孔，對應開孔處在正柱體的一側壁內設置有一傾斜的半透射鏡，正對半透射鏡在正柱體的另一側壁內設置有一傾斜的反射鏡。本發明能夠直觀方便地測量待測主板附近的輻射狀態，為主板元件排布和結構設計提供可靠的參考，進而從設計上消除聲學相關產品因共模干擾產生的噪聲。

技術領域

本發明涉及電子產品測試技術領域，特別涉及一種電磁測試探頭、電磁測試裝置和電磁測試方法。

背景技術

隨著電子行業的發展，便捷、輕量化成為了產品設計的硬指標，結構嵌套、精簡尺寸已經是設計過程中的重要步驟。

現有電子產品的喇叭中普遍應用線圈，容易因工作中主板的電磁輻射造成共模干擾，產生噪音現象，影響產品性能。具體地：工作中的主板若存在高頻輻射，比如射頻信號或主板時鐘，這些信號在可聽頻段的包絡很有可能有波動；由楞次定律可知，當線圈處于某個頻率的電磁場當中時，線圈內部會因為電磁感應而產生與變化趨勢相反的電勢差，感應到與電磁輻射信號頻率相同的電信號；該電信號經過音頻設備造成共模干擾，產生噪音。

因此，需要對電子產品主板的電磁輻射進行測試，根據測試結果排布主板元件，進而從設計上消除因共模干擾產生的工作噪聲。

發明內容

為了實現對電子產品主板的電磁輻射進行測試的目的，本發明提供了一種電磁測試探頭、電磁測試裝置和電磁測試方法。

本發明的一個實施例提供一種電磁測試探頭，包括：

一中空的正柱體，所述正柱體的四周側壁內纏繞有感應線圈，所述正柱體底面設置有平板玻璃，所述平板玻璃表面繪制有圓形刻度盤；

一握桿，所述握桿底部與所述正柱體的側面相連，所述握桿內部設置有激光發生器和測試信號線，所述測試信號線的正極與所述感應線圈的第一端相連，所述測試信號線的負極與所述感應線圈的第二端相連；

所述握桿底部設有開孔，對應所述開孔處在所述正柱體的一側壁內設置有一傾斜的半透射鏡，正對所述半透射鏡在所述正柱體的另一側壁內設置有一傾斜的反射鏡，所述激光發生器發出的激光經所述開孔射入至所述半透射鏡，部分激光經所述半透射鏡反射至所述反射鏡。

可選地，所述正柱體和所述握桿的材質為聚氯乙烯PVC。

可選地，所述正柱體為圓形正柱體，所述圓形刻度盤的圓周與所述圓形正柱體的底面圓周重合。

可選地，所述圓形刻度盤的圓心處的刻度值為所述電磁測試探頭的預設的最大測量距離，所述圓形刻度盤的圓周處的刻度值為0。

可選地，所述半透射鏡與豎直線的夾角以及所述反射鏡與豎直線的夾角，；

根據如下公式確定：

其中，β為所述反射鏡與豎直線的夾角，γ為所述半透射鏡與豎直線的夾角，θ為所述激光發生器發出的激光與豎直線的夾角，即所述握桿與豎直線的夾角；r為所述圓形刻度盤的半徑，h為所述電磁測試探頭的預設的最大測量距離。

本發明的另一個實施例提供一種電磁測試裝置，包括上述的電磁測試探頭、聲卡和測試終端，所述電磁測試探頭、聲卡和測試終端依次相連；

所述電磁測試探頭用于采集待測主板因電磁感應產生的電信號；

所述聲卡用于將所述電信號進行采樣生成采樣信號；