[發(fā)明專利]電磁測試探頭、電磁測試裝置和電磁測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810315923.4
• 申請日: 2018-04-10
• 公開（公告）號: CN108663588B
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃勃文
• 申請（專利權(quán)）人: 歌爾科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/06;G01R1/02
• 代理公司: 北京市隆安律師事務(wù)所 11323
• 代理人: 權(quán)鮮枝;吳昊

1.一種電磁測試探頭，其特征在于，包括：

一中空的正柱體，所述正柱體的四周側(cè)壁內(nèi)纏繞有感應(yīng)線圈，所述正柱體底面設(shè)置有平板玻璃，所述平板玻璃表面繪制有圓形刻度盤；

一握桿，所述握桿底部與所述正柱體的側(cè)面相連，所述握桿內(nèi)部設(shè)置有激光發(fā)生器和測試信號線，所述測試信號線的正極與所述感應(yīng)線圈的第一端相連，所述測試信號線的負(fù)極與所述感應(yīng)線圈的第二端相連；

所述握桿底部設(shè)有開孔，對應(yīng)所述開孔處在所述正柱體的一側(cè)壁內(nèi)設(shè)置有一傾斜的半透射鏡，正對所述半透射鏡在所述正柱體的另一側(cè)壁內(nèi)設(shè)置有一傾斜的反射鏡，所述激光發(fā)生器發(fā)出的激光經(jīng)所述開孔射入至所述半透射鏡，部分激光經(jīng)所述半透射鏡反射至所述反射鏡；

所述圓形刻度盤的圓心處的刻度值為所述電磁測試探頭的預(yù)設(shè)的最大測量距離，所述圓形刻度盤的圓周處的刻度值為0；

所述半透射鏡與豎直線的夾角以及所述反射鏡與豎直線的夾角，根據(jù)如下公式確定：

其中，β為所述反射鏡與豎直線的夾角，γ為所述半透射鏡與豎直線的夾角，θ為所述激光發(fā)生器發(fā)出的激光與豎直線的夾角，即所述握桿與豎直線的夾角；r為所述圓形刻度盤的半徑，h為所述電磁測試探頭的預(yù)設(shè)的最大測量距離。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁測試探頭，其特征在于，所述正柱體和所述握桿的材質(zhì)為聚氯乙烯PVC。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁測試探頭，其特征在于，所述正柱體為圓形正柱體，所述圓形刻度盤的圓周與所述圓形正柱體的底面圓周重合。

4.一種電磁測試裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的電磁測試探頭、聲卡和測試終端，所述電磁測試探頭、聲卡和測試終端依次相連；

所述電磁測試探頭用于采集待測主板因電磁感應(yīng)產(chǎn)生的電信號；

所述聲卡用于將所述電信號進(jìn)行采樣生成采樣信號；

所述測試終端用于對所述采樣信號進(jìn)行分析，根據(jù)分析結(jié)果確定所述待測主板的電磁輻射分布狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電磁測試裝置，其特征在于，還包括放大器；

所述放大器設(shè)置在所述電磁測試探頭和所述聲卡之間，用于放大所述電信號。

6.一種應(yīng)用權(quán)利要求4-5任一項(xiàng)所述的電磁測試裝置的電磁測試方法，其特征在于，包括：

水平放置待測主板，并選擇所述待測主板的待測區(qū)域；

將所述電磁測試探頭放置于所述待測區(qū)域的正上方；

調(diào)整所述電磁測試探頭的平板玻璃與所述待測區(qū)域平行；

獲得所述電磁測試探頭距所述待測區(qū)域不同距離時的電磁輻射；

所述調(diào)整所述電磁測試探頭的平板玻璃與所述待測區(qū)域平行包括：

獲取所述電磁測試探頭的激光發(fā)生器產(chǎn)生的光線經(jīng)過半透射鏡和反射鏡在所述待測區(qū)域上形成的第一光點(diǎn)和第二光點(diǎn)；

調(diào)整所述電磁測試探頭的傾斜角度，使得從所述平板玻璃的正上方看來，所述第一光點(diǎn)和第二光點(diǎn)處于圓形刻度盤的圓心兩側(cè)相同的刻度時，確定所述電磁測試探頭的平板玻璃與所述待測區(qū)域平行。

7.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括存儲器和處理器，所述存儲器和所述處理器之間通過內(nèi)部總線通訊連接，所述存儲器存儲有能夠被所述處理器執(zhí)行的程序指令，所述程序指令被所述處理器執(zhí)行時能夠?qū)崿F(xiàn)權(quán)利要求6所述的方法。