[發明專利]一種2D光學表面尺寸檢測儀及光學表面尺寸檢測系統在審
| 申請號: | 201810314035.0 | 申請日: | 2018-04-09 |
| 公開(公告)號: | CN108458657A | 公開(公告)日: | 2018-08-28 |
| 發明(設計)人: | 陳盈運;李波;林嵐云 | 申請(專利權)人: | 遼寧昭融瑞合工業數據有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王暉 |
| 地址: | 110000 遼寧省沈陽市中國(遼寧)自由貿易試驗區*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 定向光源 光學表面 位移平臺 容納腔 檢測組件 待測物 立柱 尺寸檢測系統 尺寸檢測裝置 尺寸檢測儀 安裝外殼 控制器 檢測儀 有效地 底座 鐳射測距儀 尺寸檢測 工作效率 檢測結果 照射 相機 測量 鏡頭 檢測 配置 | ||
本發明提供了一種2D光學表面尺寸檢測儀及光學表面尺寸檢測系統,涉及尺寸檢測技術領域。檢測儀包括底座、立柱、尺寸檢測裝置、多個環形定向光源、控制器;底座設置有位移平臺,位移平臺具有用于放置待測物的容納腔,容納腔內具有用于檢測待測物的邊緣在容納腔的位置的檢測組件;尺寸檢測裝置設置于立柱,包括安裝外殼、設置于安裝外殼內的相機與鏡頭以及鐳射測距儀;多個環形定向光源設置于立柱,且與容納腔內的多個檢測組件一一對應,且均位于位移平臺的正上方,環形定向光源用于照射位移平臺上放置的待測物;控制器被配置為根據檢測組件的檢測結果控制對應位置的環形定向光源打開。此檢測儀可有效地提高測量精度,從而可有效地提高工作效率。
技術領域
本發明涉及尺寸檢測技術領域,具體而言,涉及一種2D光學表面尺寸檢測儀及光學表面尺寸檢測系統。
背景技術
在生產過程中對產品的尺寸進行全面檢測,是管控產品質量的一道主要工序,現有技術提供了一種光學表面尺寸檢測儀,此光學表面檢測儀存在檢測精度低、工作效率低等問題。
發明內容
本發明的目的在于提供一種2D光學表面尺寸檢測儀,此2D光學表面尺寸檢測儀可有效地提高測量精度,從而可有效地提高工作效率。
本發明的另一目的在于提供一種光學表面尺寸檢測系統,包括上述的2D光學表面尺寸檢測儀,此系統可有效地提高測量精度,從而可有效地提高工作效率。
本發明是這樣實現的:
一種2D光學表面尺寸檢測儀,包括:
底座,底座設置有位移平臺,位移平臺可沿相互垂直的第一方向與第二方向移動,位移平臺具有容納腔,容納腔用于放置待測物,容納腔內具有多個間隔設置的用于檢測待測物的邊緣在容納腔的位置的檢測組件;
立柱,與底座垂直設置,且與底座活動連接;
尺寸檢測裝置,設置于立柱,并與立柱滑動連接,尺寸檢測裝置包括安裝外殼、從上至下依次設置于安裝外殼內的相機以及與相機電連接的鏡頭以及鐳射測距儀;
多個環形定向光源,多個環形定向光源同心設置于立柱,且與容納腔內的多個檢測組件一一對應設置,且均位于位移平臺的正上方,環形定向光源用于照射位移平臺上放置的待測物;
控制器,與尺寸檢測裝置、檢測組件以及多個環形定向光源電均連接,且控制器被配置為根據檢測組件的檢測結果控制對應位置的環形定向光源打開。
進一步地,在本發明的較佳實施例中,一一對應設置的環形定向光源與檢測組件均位于同一豎直線上。
進一步地,在本發明的較佳實施例中,2D光學表面尺寸檢測儀具有用于驅動位移平臺沿相互垂直的第一方向與第二方向移動的驅動裝置,驅動裝置與控制器電連接。
進一步地,在本發明的較佳實施例中,尺寸檢測裝置的安裝外殼與立柱滑動連接,立柱具有滑動槽,安裝外殼具有與滑動槽匹配的滑動輥,滑動輥在滑動槽內滑動,使得尺寸檢測裝置與底座相對靠近或遠離;
安裝外殼還具有擰緊螺釘,擰緊螺釘用于使得立柱與尺寸檢測裝置相對固定。
進一步地,在本發明的較佳實施例中,2D光學表面尺寸檢測儀還包括手柄,手柄設置于尺寸檢測裝置上方,用于在尺寸檢測裝置與底座相對遠離或靠近的過程中供操作人員握持。
進一步地,在本發明的較佳實施例中,2D光學表面尺寸檢測儀還包括人機交互裝置,人機交互裝置與控制器電連接,用于顯示待測物的尺寸的檢測結果。
進一步地,在本發明的較佳實施例中,2D光學表面尺寸檢測儀還包括與人機交互裝置均電連接的鼠標與鍵盤。
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