[發明專利]一種2D光學表面尺寸檢測儀及光學表面尺寸檢測系統

在審

• 申請號: 201810314035.0
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN108458657A
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 陳盈運;李波;林嵐云
• 申請（專利權）人: 遼寧昭融瑞合工業數據有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王暉

1.一種2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于，包括：

底座，所述底座設置有位移平臺，所述位移平臺可沿相互垂直的第一方向與第二方向移動，所述位移平臺具有容納腔，所述容納腔用于放置待測物，所述容納腔內具有多個間隔設置的用于檢測所述待測物的邊緣在所述容納腔的位置的檢測組件；

立柱，與所述底座垂直設置，且與所述底座活動連接；

尺寸檢測裝置，設置于所述立柱，并與所述立柱滑動連接，所述尺寸檢測裝置包括安裝外殼、從上至下依次設置于所述安裝外殼內的相機以及與所述相機電連接的鏡頭以及鐳射測距儀；

多個環形定向光源，多個所述環形定向光源同心設置于所述立柱，且與所述容納腔內的多個檢測組件一一對應設置，且均位于所述位移平臺的正上方，所述環形定向光源用于照射所述位移平臺上放置的所述待測物；

控制器，與所述尺寸檢測裝置、檢測組件以及多個所述環形定向光源電均連接，且所述控制器被配置為根據所述檢測組件的檢測結果控制對應位置的所述環形定向光源打開。

2.根據權利要求1所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

一一對應設置的環形定向光源與檢測組件均位于同一豎直線上。

3.根據權利要求1所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述2D光學表面尺寸檢測儀具有用于驅動所述位移平臺沿相互垂直的第一方向與第二方向移動的驅動裝置，所述驅動裝置與所述控制器電連接。

4.根據權利要求1所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述尺寸檢測裝置的所述安裝外殼與所述立柱滑動連接，所述立柱具有滑動槽，所述安裝外殼具有與所述滑動槽匹配的滑動輥，所述滑動輥在所述滑動槽內滑動，使得所述尺寸檢測裝置與所述底座相對靠近或遠離；

所述安裝外殼還具有擰緊螺釘，所述擰緊螺釘用于使得所述立柱與所述尺寸檢測裝置相對固定。

5.根據權利要求4所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述2D光學表面尺寸檢測儀還包括手柄，所述手柄設置于所述尺寸檢測裝置上方，用于在所述尺寸檢測裝置與所述底座相對遠離或靠近的過程中供操作人員握持。

6.根據權利要求1所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述2D光學表面尺寸檢測儀還包括人機交互裝置，所述人機交互裝置與所述控制器電連接，用于顯示所述待測物的尺寸的檢測結果。

7.根據權利要求6所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述2D光學表面尺寸檢測儀還包括與所述人機交互裝置均電連接的鼠標與鍵盤。

8.根據權利要求1所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述底座設置有啟動按鈕以及暫停按鈕，所述啟動按鈕與所述暫停按鈕均與所述控制器電連接，所述啟動按鈕用于一鍵啟動所述2D光學表面尺寸檢測儀，所述暫停按鈕用于暫定檢測作業。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的2D光學表面尺寸檢測儀，其特征在于：

所述控制器為可編程邏輯控制器、單片機或計算機中的任一種。

10.一種光學表面尺寸檢測系統，其特征在于，包括：權利要求1至9中任一項所述2D光學表面尺寸檢測儀。