[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置、半導(dǎo)體晶圓及半導(dǎo)體裝置制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810309530.2 | 申請日: | 2018-04-09 |
| 公開(公告)號: | CN108735799A | 公開(公告)日: | 2018-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 柳田正道;松浦伸悌 | 申請(專利權(quán))人: | 力祥半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L21/78;H01L21/683 |
| 代理公司: | 中國商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 11234 | 代理人: | 宋義興;張立晶 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體晶圓 半導(dǎo)體裝置 去除 制造 第二表面 對準(zhǔn)標(biāo)記 簡化處理 預(yù)備步驟 切割刀 凸肋狀 對齊 分割 隆起 切割 對準(zhǔn) | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,上述半導(dǎo)體裝置包括:
一半導(dǎo)體基板,其具有一第一表面和與上述第一表面對向的一第二表面,且于其內(nèi)部形成有一擴散區(qū)域;
一導(dǎo)電圖案,形成于上述第一表面且與上述擴散區(qū)域電性連接;以及
一周緣突出部,形成于上述第二表面的一外圍邊緣部且往厚度方向外側(cè)突出。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,形成有上述周緣突出部的上述第二表面被一背墊金屬所覆蓋。
3.一種半導(dǎo)體晶圓,其特征在于,上述半導(dǎo)體晶圓包括:
一半導(dǎo)體基板,以矩陣狀排列有多個半導(dǎo)體裝置部;
一第一表面,配設(shè)有與形成于上述半導(dǎo)體裝置部的擴散區(qū)域連接的導(dǎo)電圖案;
一第二表面,與上述第一表面對向;以及
一凸肋狀部位,為對應(yīng)于上述多個半導(dǎo)體裝置部之間的區(qū)域的上述第二表面往厚度方向外側(cè)突出的部位,且其整體上形成為格子狀。
4.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體晶圓,其特征在于,形成有上述凸肋狀部位的上述第二表面被一背墊金屬所覆蓋。
5.一種半導(dǎo)體裝置制造方法,其特征在于,上述半導(dǎo)體裝置制造方法包括:
準(zhǔn)備半導(dǎo)體晶圓的預(yù)備步驟,包括:
于一半導(dǎo)體基板以矩陣狀排列有多個半導(dǎo)體裝置部;
于一第一表面配設(shè)有與形成于上述半導(dǎo)體裝置部的擴散區(qū)域連接的導(dǎo)電圖案;以及
提供與上述第一表面對向的一第二表面;
去除步驟:從上述第二表面?zhèn)热コ纬捎猩鲜霭雽?dǎo)體裝置部的區(qū)域的上述半導(dǎo)體晶圓的上述厚度部分;以及
分割步驟:將上述半導(dǎo)體晶圓分割成各上述半導(dǎo)體裝置部,
在上述去除步驟中,于上述半導(dǎo)體裝置部彼此間相對應(yīng)的部分的上述第二表面上形成有一往厚度方向外側(cè)突出的凸肋狀部位,
在上述分割步驟中,沿著上述凸肋狀部位分割上述半導(dǎo)體晶圓。
6.如權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置制造方法,其特征在于,于上述去除步驟中,保留上述半導(dǎo)體晶圓的外圍邊緣部的厚度。
7.如權(quán)利要求5或6所述的半導(dǎo)體裝置制造方法,其特征在于,在上述去除步驟中,在讓上述半導(dǎo)體晶圓的上述第一表面貼著一第一膠帶的狀態(tài)下,以研磨機壓擠且研磨上述半導(dǎo)體晶圓的上述第二表面,通過使上述半導(dǎo)體裝置部彼此間的部分的上述半導(dǎo)體晶圓往上述第一表面?zhèn)茸冃危谂c上述半導(dǎo)體裝置部彼此間相對應(yīng)的部分的上述第二表面上形成上述凸肋狀部位。
8.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置制造方法,其特征在于,在上述分割步驟中,于上述半導(dǎo)體晶圓的上述第一表面上貼著上述第一膠帶的狀態(tài)下,個別分割上述半導(dǎo)體晶圓。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體裝置制造方法,其特征在于,在上述分割步驟中,于上述第一膠帶貼著一第二膠帶的狀態(tài)下,個別分離上述半導(dǎo)體晶圓。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于力祥半導(dǎo)體股份有限公司,未經(jīng)力祥半導(dǎo)體股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810309530.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





