[發明專利]檢查裝置、檢查方法及膜卷繞體的制造方法

有效

• 申請號: 201810292650.6
• 申請日: 2018-03-30
• 公開（公告）號: CN108693199B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發明（設計）人: 加集功士;四宮由隆
• 申請（專利權）人: 住友化學株式會社
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;H01M50/403;H01M10/0525
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉文海

本發明提供一種檢查裝置、檢查方法及膜卷繞體的制造方法。缺陷檢查裝置(1)具備：射線源(2)，其對隔膜卷繞體(10)呈放射狀射出電磁波(R)；TDI傳感器(4)，其對透過隔膜卷繞體(10)的電磁波(R)進行檢測；以及移動機構(3)，其一邊將射線源(2)與隔膜卷繞體(10)的距離以及射線源(2)與TDI傳感器(4)的距離保持為大致固定，一邊使隔膜卷繞體(10)中的檢查區域移動。

技術領域

本發明涉及檢查裝置、檢查方法及膜卷繞體的制造方法。

背景技術

在鋰離子二次電池的內部，正極及負極由多孔質的隔膜分離。在制造隔膜時，有時產生異物附著等缺陷，因此需要檢查隔膜上有無缺陷。尤其是，在缺陷為金屬等導電性異物的情況下，有可能在鋰離子二次電池的內部造成短路。

例如，專利文獻1中公開了向被搬運的檢查對象物照射X射線來檢測異物的X射線異物檢測裝置。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本國公開專利公報“特開2004-61479號公報(2004年2月26日公開)”

在此，隔膜卷繞體通過如下方式來制造：根據使用的鋰離子二次電池的尺寸而從一個坯料分切(切斷)出多個隔膜，并將該多個隔膜分別卷繞于芯部。

該隔膜在被從坯料分切時容易從金屬刃附著金屬異物，因此優選檢查分切出的隔膜有無缺陷。另外，也會從搬運輥的滑動部等產生金屬異物，因此缺陷的檢查優選在以后不與輥接觸的將隔膜卷取于芯部之后的隔膜卷繞體中實施。

然而，在專利文獻1所記載的X射線異物檢測裝置中，在為隔膜卷繞體這樣的厚度比較大的檢查對象物的情況下，在厚度方向上對置的表面及背面中的檢查位置有可能產生偏移，導致檢查精度降低。

發明內容

本發明的一方案是鑒于上述的問題點而完成的，其目的在于，實現能夠抑制由檢查對象物的厚度引起的檢查精度的降低的檢查裝置等。

用于解決課題的方案

為了解決上述問題，本發明的一方案的檢查裝置具備：射線源，其從檢查對象物的厚度方向對所述檢查對象物呈放射狀射出電磁波；TDI傳感器，其相對于所述檢查對象物設置于與所述射線源相反的一側，對透過所述檢查對象物的所述電磁波進行檢測；以及移動機構，其一邊將所述射線源與所述檢查對象物的距離以及所述射線源與所述TDI傳感器的距離保持為大致固定，一邊使所述檢查對象物中的檢查區域移動。

為了解決上述問題，本發明的一方案的檢查方法包括：射出工序，在該射出工序中，自射線源從檢查對象物的厚度方向對所述檢查對象物呈放射狀射出電磁波；移動工序，在該移動工序中，使所述檢查對象物中的檢查區域移動；以及檢測工序，在該檢測工序中，由TDI傳感器對透過所述檢查對象物的所述電磁波進行檢測，在所述移動工序中，一邊將所述射線源與所述檢查對象物的距離以及所述射線源與所述TDI傳感器的距離保持為大致固定，一邊使所述檢查區域移動。

發明效果

根據本發明的一方案，起到能夠抑制由檢查對象物的厚度引起的檢查精度的降低這一效果。

附圖說明

圖1的(a)及(b)是表示實施方式1的分切裝置的簡要結構的示意圖。

圖2的(a)～(e)是用于說明實施方式1的隔膜卷繞體的簡要結構的示意圖。

圖3的(a)～(c)是表示實施方式1的缺陷檢查裝置的簡要結構的示意圖。

圖4的(a)及(b)是用于說明由圖3所示的缺陷檢查裝置進行的缺陷檢查方法的一例的示意圖。

圖5是表示圖3所示的缺陷檢查裝置的變形例的簡要結構的主視圖。