[發(fā)明專利]一種帶膜組件自有缺陷檢測方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810282997.2
• 申請日: 2018-04-02
• 公開（公告）號: CN108507953B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 崔存星;姚毅
• 申請（專利權(quán)）人: 凌云光技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/88
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請?zhí)峁┝艘环N帶膜組件自有缺陷檢測方法及裝置，其中，所述方法包括：獲取基準特征光譜，所述基準特征光譜包括：帶理想保護膜組件的第一特征光譜和帶臟污組件的第二特征光譜；根據(jù)所述第一特征光譜，獲取待測帶膜組件的第一圖像；根據(jù)所述第二特征光譜，獲取待測帶膜組件的第二圖像；對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷。本申請?zhí)峁┑臋z測方法能夠有效解決現(xiàn)有表面缺陷檢測方法準確率低的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及電子產(chǎn)品組件缺陷檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種帶膜組件自有缺陷檢測方法及裝置。

背景技術(shù)

在電子消費產(chǎn)品組件，如液晶顯示屏、電池、音膜、攝像頭等的制造過程中，由于工藝不良、環(huán)境潔凈度不足、搬運碰撞等原因，電子產(chǎn)品組件的表面會產(chǎn)生劃傷、污跡、崩邊等缺陷。電子消費產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用對組件表面的潔凈度要求非常高，因此，為了保證組件表面的潔凈度，清洗和貼附保護膜是最常用的方式。電子產(chǎn)品組件的表面質(zhì)量通常在清洗、貼膜之后進行，因此，準確檢測出帶膜電子產(chǎn)品組件的表面缺陷能夠有效提高產(chǎn)品良率并降低制造成本。

通常，采用自動光學(xué)檢測方法(Automatic Optic Inspection，AOI)對電子產(chǎn)品組件的表面進行缺陷檢測，該方法采用工業(yè)相機配合合理的光源照明方式對電子產(chǎn)品組件的表面進行圖像采集，然后利用視覺處理系統(tǒng)對采集到的圖像進行處理，并通過運算輸出檢測結(jié)果。

但是發(fā)明人在使用AOI檢測電子產(chǎn)品組件的表面缺陷時，存在一些問題。若上游工藝中清洗機未能完全洗凈組件表面的臟污或者保護膜本身存在損傷，在采用AOI檢測時，由于清洗后殘留的臟污與組件自有臟污的成像特征相同；保護膜劃傷與組件表面自有劃傷的成像特征相同。因此，單純地利用視覺處理系統(tǒng)難以對組件自有缺陷與外界干擾因素加以區(qū)分，會大大降低檢測的準確率。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┝艘环N帶膜組件自有缺陷檢測方法及裝置，以解決現(xiàn)有表面缺陷檢測方法準確率低的問題。

本申請第一方面提供了一種帶膜組件自有缺陷檢測方法，所述方法包括：

獲取基準特征光譜，所述基準特征光譜包括：帶理想保護膜組件的第一特征光譜和帶臟污組件的第二特征光譜；

根據(jù)所述第一特征光譜，獲取待測帶膜組件的第一圖像；

根據(jù)所述第二特征光譜，獲取待測帶膜組件的第二圖像；

對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷。

可選地，所述獲取基準特征光譜的具體步驟包括：

獲取理想組件、帶理想保護膜組件和帶臟污組件的光譜響應(yīng)曲線；

根據(jù)所述理想組件的光譜響應(yīng)曲線和所述帶理想保護膜組件的光譜響應(yīng)曲線，確定令理想保護膜不成像的所述第一特征光譜；

根據(jù)所述理想組件的光譜響應(yīng)曲線和所述帶臟污組件的光譜響應(yīng)曲線，確定令組件臟污不成像的所述第二特征光譜。

可選地，所述根據(jù)所述第一特征光譜，獲取待測帶膜組件的第一圖像和所述根據(jù)所述第二特征光譜，獲取待測帶膜組件的第二圖像的具體步驟還包括：

根據(jù)所述第一圖像，確定第一圖像的灰度值分布；

根據(jù)所述第二圖像，確定第二圖像的灰度值分布。

可選地，所述對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷的具體步驟包括：

根據(jù)所述第一圖像的灰度值分布與所述第二圖像的灰度值分布，確定所述第一圖像與所述第二圖像的各灰度區(qū)域的重合度值；

判斷所述重合度值是否為0；

如果所述重合度值為0，則所述待測帶膜組件不存在自有缺陷；