[發明專利]一種帶膜組件自有缺陷檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201810282997.2
• 申請日: 2018-04-02
• 公開（公告）號: CN108507953B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 崔存星;姚毅
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/88
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種帶膜組件自有缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取基準特征光譜，所述基準特征光譜包括：帶理想保護膜組件的第一特征光譜和帶臟污組件的第二特征光譜；

根據所述第一特征光譜，獲取待測帶膜組件的第一圖像；

根據所述第二特征光譜，獲取待測帶膜組件的第二圖像；

對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷；

所述獲取基準特征光譜的具體步驟包括：

獲取理想組件、帶理想保護膜組件和帶臟污組件的光譜響應曲線；

根據所述理想組件的光譜響應曲線和所述帶理想保護膜組件的光譜響應曲線，確定令理想保護膜不成像的所述第一特征光譜；

根據所述理想組件的光譜響應曲線和所述帶臟污組件的光譜響應曲線，確定令組件臟污不成像的所述第二特征光譜。

2.根據權利要求1所述的帶膜組件自有缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一特征光譜，獲取待測帶膜組件的第一圖像和所述根據所述第二特征光譜，獲取待測帶膜組件的第二圖像的具體步驟還包括：

根據所述第一圖像，確定第一圖像的灰度值分布；

根據所述第二圖像，確定第二圖像的灰度值分布。

3.根據權利要求2所述的帶膜組件自有缺陷檢測方法，其特征在于，所述對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷的具體步驟包括：

根據所述第一圖像的灰度值分布與所述第二圖像的灰度值分布，確定所述第一圖像與所述第二圖像的各灰度區域的重合度值；

判斷所述重合度值是否為0；

如果所述重合度值為0，則所述待測帶膜組件不存在自有缺陷；

如果所述重合度值大于0，則所述待測帶膜組件存在自有缺陷，且灰度區域相同處為自有缺陷區域。

4.根據權利要求2所述的帶膜組件自有缺陷檢測方法，其特征在于，所述對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷的具體步驟包括：

根據所述第一圖像的灰度值分布，提取各相同灰度值區域的第一圖像子灰度值；

根據所述第二圖像的灰度值分布，提取各相同灰度值區域的第二圖像子灰度值；

遍歷所述第一圖像子灰度值和所述第二圖像子灰度值，判斷子灰度值是否相同；

如果子灰度值相同，則所述待測帶膜組件存在自有缺陷，且相同子灰度值對應的灰度值區域為自有缺陷區域；

如果子灰度值不相同，則所述待測帶膜組件不存在自有缺陷。

5.一種帶膜組件自有缺陷檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

基準特征光譜獲取單元，用于獲取基準特征光譜，所述基準特征光譜包括：帶理想保護膜組件的第一特征光譜和帶臟污組件的第二特征光譜；

第一圖像獲取單元，用于根據所述第一特征光譜，獲取待測帶膜組件的第一圖像；

第二圖像獲取單元，用于根據所述第二特征光譜，獲取待測帶膜組件的第二圖像；

圖像對比單元，用于對比所述第一圖像與所述第二圖像，判斷所述待測帶膜組件是否存在自有缺陷；

所述基準特征光譜獲取單元包括：

光譜響應曲線獲取單元，用于獲取理想組件、帶理想保護膜組件和帶臟污組件的光譜響應曲線；

第一特征光譜確定單元，用于根據所述理想組件的光譜響應曲線和所述帶理想保護膜組件的光譜響應曲線，確定令理想保護膜不成像的所述第一特征光譜；

第二特征光譜確定單元，用于根據所述理想組件的光譜響應曲線和所述帶臟污組件的光譜響應曲線，確定令組件臟污不成像的所述第二特征光譜。

6.根據權利要求5所述的帶膜組件自有缺陷檢測方法，其特征在于，

所述第一圖像獲取單元包括：

第一灰度值分布確定單元，用于根據所述第一圖像，確定第一圖像的灰度值分布；

所述第二圖像獲取單元包括：

第二灰度值分布確定單元，用于根據所述第二圖像，確定第二圖像的灰度值分布。