[發(fā)明專利]瓷層缺陷的檢測方法、裝置和檢測平臺(tái)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810282815.1
• 申請(qǐng)日: 2018-04-02
• 公開（公告）號(hào): CN108615232A
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 范召卿;張斌;譚德強(qiáng);施景娥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T3/40
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 趙囡囡;張立敏

本發(fā)明公開了一種瓷層缺陷的檢測方法、裝置和檢測平臺(tái)。其中，該方法包括：獲取搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片，得到待檢測照片；根據(jù)所述待檢測照片判斷所述待檢測瓷層是否存在缺陷，其中，在所述待檢測瓷層存在缺陷時(shí)，所述待檢測照片攜帶有與目標(biāo)圖片不同的信息，所述目標(biāo)圖片為不存在缺陷的瓷層的照片；在判斷出所述待檢測瓷層存在缺陷的情況下，在所述待檢測照片中標(biāo)記出所述缺陷的位置。本發(fā)明解決了人工檢查缺陷不可靠的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測領(lǐng)域，具體而言，涉及一種瓷層缺陷的檢測方法、裝置和檢測平臺(tái)。

背景技術(shù)

在檢測搪瓷內(nèi)膽時(shí)，尤其是搪瓷內(nèi)膽表面時(shí)，目前只能進(jìn)行人工檢驗(yàn)。通過經(jīng)驗(yàn)判斷搪瓷內(nèi)膽的瓷層是否存在缺陷。但是，由于需要檢測的范圍比較大，且搪瓷內(nèi)膽存在死角區(qū)域，人工無法準(zhǔn)確的判斷出是否存在缺陷，容易導(dǎo)致缺陷檢測不可靠的技術(shù)問題。

針對(duì)上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種瓷層缺陷的檢測方法、裝置和檢測平臺(tái)，以至少解決人工檢查缺陷不可靠的技術(shù)問題。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種瓷層缺陷的檢測方法，包括：獲取搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片，得到待檢測照片；比對(duì)所述待檢測照片和目標(biāo)圖片來判斷所述待檢測瓷層是否存在缺；在判斷出所述待檢測瓷層存在缺陷的情況下，在所述待檢測照片中標(biāo)記出所述缺陷的位置。

可選地，在獲取搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片之后，所述方法還包括：掃描所述搪瓷產(chǎn)品的識(shí)別碼，其中，所述識(shí)別碼用于表示所述搪瓷產(chǎn)品的身份信息；將所述待檢測照片和所述識(shí)別碼關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)。

可選地，所述方法還包括：在獲取搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片之前，對(duì)所述搪瓷產(chǎn)品進(jìn)行編碼，得到產(chǎn)品序號(hào)編碼；在獲取搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片之后，將所述產(chǎn)品序號(hào)編碼和所述待檢測照片關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)。

可選地，比對(duì)所述待檢測照片和目標(biāo)圖片來判斷所述待檢測瓷層是否存在缺陷包括：對(duì)所述待檢測照片與所述目標(biāo)圖片進(jìn)行比對(duì)，其中，所述目標(biāo)圖片包括第一圖片和第二圖片，所述第一圖片為無缺陷產(chǎn)品的圖片，所述第二圖片為有缺陷產(chǎn)品的圖片；在所述目標(biāo)圖片為第一圖片的情況下，若所述待檢測照片攜帶有與所述第一圖片不同特征的情況下，確定所述待檢測瓷層存在缺陷；在所述目標(biāo)圖片為第二圖片的情況下，若所述待檢測照片攜帶有與所述第二圖片的缺陷信息相同特征的情況下，確定所述待檢測瓷層存在缺陷。

可選地，所述搪瓷產(chǎn)品為搪瓷內(nèi)膽，獲取搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片，得到待檢測照片包括：按照目標(biāo)時(shí)間間隔或者目標(biāo)步長旋轉(zhuǎn)拍攝所述搪瓷內(nèi)膽的側(cè)壁，得到多個(gè)側(cè)壁圖片；在完成拍攝所述搪瓷內(nèi)膽的側(cè)壁之后，拍攝所述搪瓷內(nèi)膽的底蓋圖像；將所述多個(gè)側(cè)壁圖片和所述底蓋圖像進(jìn)行拼接，得到所述待檢測照片。

可選地，在所述待檢測照片中標(biāo)記出所述缺陷的位置之后，所述方法還包括：判斷所述缺陷的類型是否為可修復(fù)類型；在所述缺陷的類型為可修復(fù)類型的情況下，對(duì)所述搪瓷產(chǎn)品進(jìn)行修復(fù)處理；在所述缺陷的類型為不可修復(fù)類型的情況下，對(duì)所述搪瓷產(chǎn)品進(jìn)行報(bào)廢處理。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種瓷層缺陷的檢測平臺(tái)，包括：產(chǎn)品輸送裝置，用于輸送搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動(dòng)；檢測工位，設(shè)置在所述產(chǎn)品輸送裝置的輸送路徑上，用于設(shè)置檢測所述搪瓷產(chǎn)品的設(shè)備；攝像機(jī)，設(shè)置在所述檢測工位上，用于在搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動(dòng)到所述檢測工位時(shí)，拍攝所述搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片，得到待檢測照片；處理器，與所述攝像機(jī)相連接，用于比對(duì)所述待檢測照片和目標(biāo)圖片來判斷所述待檢測瓷層是否存在缺，在判斷出所述待檢測瓷層存在缺陷的情況下，在所述待檢測照片中標(biāo)記出所述缺陷的位置。

可選地，所述檢測工位還設(shè)置有：伺服驅(qū)動(dòng)導(dǎo)軌，與所述攝像機(jī)相連接，用于驅(qū)動(dòng)所述攝像機(jī)運(yùn)動(dòng)到所述搪瓷產(chǎn)品的內(nèi)部，并控制所述攝像機(jī)在所述搪瓷產(chǎn)品的內(nèi)部上下移動(dòng)，或者旋轉(zhuǎn)。