[發明專利]一種二維相交測線靜校正處理方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 201810282210.2
• 申請日: 2018-04-02
• 公開（公告）號: CN108828669B
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 呂景峰;王乃建;陳學強;閆智慧;蘇歡歡;段孟川
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
• 主分類號: G01V1/36
• 分類號: G01V1/36
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝

1.一種二維相交測線靜校正處理方法，其特征在于，包括：

當完成一條二維測線的地震采集后，獲取目標工區內二維相交測線的表層構造參數數據，所述表層構造參數包括：高速頂界面高程以及風化層速度；

計算所述相交測線的交點處兩條測線的表層構造參數的差值；

判斷所述相交測線中的測線的表層構造參數是否固定，如果是，則相應的測線不進行修正處理；如果否，則根據所述表層構造參數的差值對相應的測線的表層構造參數數據進行修正處理；

根據修正后的表層構造參數數據確定所述二維相交測線的基準面靜校正量；

根據所述基準面靜校正量進行折射波剩余靜校正計算獲得剩余靜校正量；

根據所述基準面靜校正量與剩余靜校正量的和確定總靜校正量；

將所述基準面靜校正量的低頻分量作為低頻靜校正量，將所述總靜校正量的高頻分量作為低頻靜校正量，利用所述低頻靜校正量以及高頻靜校正量對所述二維相交測線進行靜校正處理。

2.根據權利要求1所述的二維相交測線靜校正處理方法，其特征在于，對所述相交測線的表層構造參數數據進行修正處理，包括：

以所述相交測線的交點為中心，向相交測線的兩端分別延伸預設距離確定預設修正范圍；

對所述預設修正范圍內的所述相交測線的表層構造參數數據進行修正處理。

3.一種二維相交測線靜校正處理裝置，其特征在于，包括：

參數獲取模塊，用于當完成一條二維測線的地震采集后，獲取目標工區內二維相交測線的表層構造參數數據，所述表層構造參數包括：高速頂界面高程以及風化層速度；

數據修正模塊，用于計算所述相交測線的交點處兩條測線的表層構造參數的差值，判斷所述相交測線中的測線的表層構造參數是否固定，如果是，則相應的測線不進行修正處理；如果否，則根據所述表層構造參數的差值對相應的測線的表層構造參數數據進行修正處理；

靜校正量確定模塊，用于根據修正后的表層構造參數數據確定所述二維相交測線的基準面靜校正量；

剩余靜校正量確定單元，用于根據所述基準面靜校正量進行折射波剩余靜校正計算獲得剩余靜校正量；

總靜校正量確定單元，用于根據所述基準面靜校正量與剩余靜校正量的和確定總靜校正量；

靜校正處理單元，用于將所述基準面靜校正量的低頻分量作為低頻靜校正量，將所述總靜校正量的高頻分量作為低頻靜校正量，利用所述低頻靜校正量以及高頻靜校正量對所述二維相交測線進行靜校正處理。

4.根據權利要求3所述的二維相交測線靜校正處理裝置，其特征在于，所述數據修正模塊包括：

修正范圍確定單元，用于以所述相交測線的交點為中心，向相交測線的兩端分別延伸預設距離確定預設修正范圍；

數據修正單元，用于對所述預設修正范圍內的所述相交測線的表層構造參數數據進行修正處理。

5.一種二維相交測線靜校正處理裝置，其特征在于，包括處理器及用于存儲處理器可執行指令的存儲器，所述指令被所述處理器執行時實現包括以下步驟：

當完成一條二維測線的地震采集后，獲取目標工區內二維相交測線的表層構造參數數據，所述表層構造參數包括：高速頂界面高程以及風化層速度；

計算所述相交測線的交點處兩條測線的表層構造參數的差值；

判斷所述相交測線中的測線的表層構造參數是否固定，如果是，則相應的測線不進行修正處理；如果否，則根據所述表層構造參數的差值對相應的測線的表層構造參數數據進行修正處理；

根據修正后的表層構造參數數據確定所述二維相交測線的基準面靜校正量；

根據所述基準面靜校正量進行折射波剩余靜校正計算獲得剩余靜校正量；

根據所述基準面靜校正量與剩余靜校正量的和確定總靜校正量；

將所述基準面靜校正量的低頻分量作為低頻靜校正量，將所述總靜校正量的高頻分量作為低頻靜校正量，利用所述低頻靜校正量以及高頻靜校正量對所述二維相交測線進行靜校正處理。

6.一種二維相交測線靜校正處理系統，其特征在于，包括至少一個處理器以及存儲計算機可執行指令的存儲器，所述處理器執行所述指令時實現權利要求2所述方法的步驟。