[發(fā)明專利]一種晶圓對中裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810276575.4 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN108461440A | 公開(公告)日: | 2018-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙寧;白富強(qiáng);陳波 | 申請(專利權(quán))人: | 上海新創(chuàng)達(dá)智能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68 |
| 代理公司: | 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 馮健強(qiáng) |
| 地址: | 201306 上海市浦東新區(qū)南匯*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶圓 夾爪組件 張力模塊 支撐臺 對中裝置 驅(qū)動機(jī)構(gòu) 缺邊 控制器 傳感器 種晶 張力變化控制 控制器控制 擺放位置 檢測結(jié)果 晶圓位置 徑向伸縮 可旋轉(zhuǎn)的 預(yù)設(shè)位置 不規(guī)則 夾緊力 伸縮 感測 預(yù)設(shè) 裝設(shè) 移動 | ||
1.一種晶圓對中裝置,其特征在于,包括:
控制器,
可旋轉(zhuǎn)的支撐臺組件,
若干夾爪組件,可徑向伸縮的裝設(shè)于所述支撐臺組件上,且布置在晶圓擺放位置的四周側(cè),
張力模塊,連接至所述夾爪組件,
驅(qū)動機(jī)構(gòu),通過所述張力模塊與所述夾爪組件連接,所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)通過所述張力模塊帶動所述夾爪組件伸縮以調(diào)整晶圓位置,以及,
缺邊尋找傳感器,設(shè)置在所述支撐臺組件上,以感測晶圓的缺邊位置,其中,
所述控制器根據(jù)所述張力模塊的張力變化控制所述夾爪組件對晶圓的夾緊力,并且根據(jù)所述缺邊尋找傳感器的檢測結(jié)果控制所述支撐臺組件旋轉(zhuǎn)以帶動晶圓到預(yù)設(shè)角度,所述控制器控制所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)使其帶動所述夾爪組件將晶圓移動到預(yù)設(shè)位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓對中裝置,其特征在于:
所述夾爪組件包括第一卡置部和擺放晶圓的第一托起部,所述第一托起部與所述第一卡置部形成L型結(jié)構(gòu),所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)帶動所述夾爪組件伸縮以調(diào)整晶片的位置;
或;
所述夾爪組件包括夾指部、第二托起部以及第三托起部,所述夾指部包括第一卡置部和擺放晶圓的第一托起部,所述第二托起部及第三托起部分別位于所述第一托起部的兩側(cè)形成晶圓的擺放平面;所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)帶動所述夾指部伸縮以調(diào)整晶片的位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓對中裝置,其特征在于:所述夾爪組件外伸出支撐臺組件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓對中裝置,其特征在于:
包括均布的3個夾爪組件;
和/或;
所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)為曲柄滑塊結(jié)構(gòu);
和/或;
所述支撐臺組件上設(shè)置有在位傳感器;
和/或;
所述缺邊尋找傳感器為光學(xué)傳感器或磁性傳感器。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶圓對中裝置,其特征在于,進(jìn)一步包括緩存機(jī)構(gòu),所述緩存機(jī)構(gòu)包括若干支撐手指以及支柱,所述支撐手指通過所述支柱可徑向伸縮且可豎直移動的裝設(shè)在所述支撐臺組件上,所述支撐手指與所述夾爪組件交錯布置;其中,
所述控制器調(diào)控所述支撐手指調(diào)整徑向位置并豎直移動,以將晶圓托起和/或放下。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的晶圓對中裝置,其特征在于,所述緩存機(jī)構(gòu)進(jìn)一步包括在位傳感器,所述在位傳感器感測所述支撐手指上是否放置有晶圓,所述在位傳感器與所述控制器通訊連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的晶圓對中裝置,其特征在于:
所述支撐手指包括托起部和卡置部,所述托起部與所述卡置部形成L型結(jié)構(gòu);
和/或;
所述緩存機(jī)構(gòu)包括4個支撐手指。
8.一種晶圓對中方法,其特征在于,使用如權(quán)利要求1-7中任一所述的晶圓對中裝置實施,所述晶圓對中方法包括以下步驟:
S100,將晶圓放置在所述夾爪組件上;
S200,所述控制器調(diào)控所述夾爪組件將晶圓移動到預(yù)設(shè)位置,并且根據(jù)所述張力模塊的張力變化控制所述夾爪組件對晶圓的夾緊力,
S300,所述控制器根據(jù)所述缺邊尋找傳感器的檢測結(jié)果控制所述支撐臺組件旋轉(zhuǎn)以帶動晶圓到預(yù)設(shè)角度。
9.一種晶圓對中方法,其特征在于,使用如權(quán)利要求5-7中任一所述的晶圓對中裝置實施,所述晶圓對中方法包括以下步驟:
S100,將晶圓放置在所述夾爪組件上,同時保持所述支撐手指位于該晶圓下方;
S200,所述夾爪組件將晶圓移動到預(yù)設(shè)位置,所述控制器根據(jù)所述張力模塊的張力變化控制所述夾爪組件對晶圓的夾緊力,
S300,所述控制器根據(jù)所述缺邊尋找傳感器的檢測結(jié)果控制所述支撐臺組件旋轉(zhuǎn)以帶動晶圓到預(yù)設(shè)角度。
S400,所述支撐手指調(diào)整徑向位置并上升以將晶圓豎直托起,將晶圓取走,再按照步驟S100-S400執(zhí)行。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的晶圓對中方法,其特征在于,所述步驟S100中,首先將晶圓放置在所述支撐手指上,所述支撐手指下降以將晶圓放置在所述夾爪組件上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





