[發(fā)明專利]一種測試控制方法、電路及系統(tǒng)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201810276467.7
• 申請日: 2018-03-30
• 公開（公告）號: CN108693465A
• 公開（公告）日: 2018-10-23
• 發(fā)明（設計）人: 王宏偉
• 申請（專利權）人: 北京聯(lián)想核芯科技有限公司
• 主分類號: G01R31/3167
• 分類號: G01R31/3167
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測試控制方法，其特征在于，所述方法包括：

監(jiān)測被測電路的鎖定信號；

當監(jiān)測到被測電路的鎖定信號進入鎖定狀態(tài)時，觸發(fā)執(zhí)行針對所述被測電路的測試流程。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述被測電路包括模擬電路，且所述模擬電路具有所述鎖定信號；

所述監(jiān)測被測電路的鎖定信號為監(jiān)測被測電路中模擬電路的鎖定信號；

所述當監(jiān)測到被測電路的鎖定信號進入鎖定狀態(tài)時，觸發(fā)執(zhí)行針對所述被測電路的測試流程，包括：

當監(jiān)測到被測電路中模擬電路的鎖定信號進入鎖定狀態(tài)時，觸發(fā)執(zhí)行針對所述模擬電路的指標測試。

3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述被測電路還包括數(shù)字電路；所述方法進一步包括：

在執(zhí)行針對所述模擬電路的指標測試成功之后，繼續(xù)執(zhí)行針對所述數(shù)字電路的指標測試。

4.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述被測電路還包括數(shù)字電路；所述方法進一步包括：

在執(zhí)行針對所述模擬電路的指標測試失敗之后，不再繼續(xù)執(zhí)行針對所述數(shù)字電路的指標測試。

5.一種測試控制電路，其特征在于，所述設備包括：

監(jiān)測模塊，用于監(jiān)測被測電路的鎖定信號；

控制模塊，用于當監(jiān)測到被測電路的鎖定信號進入鎖定狀態(tài)時，觸發(fā)執(zhí)行針對所述被測電路的測試流程。

6.根據(jù)權利要求5所述的設備，其特征在于，所述被測電路包括模擬電路，且所述模擬電路具有所述鎖定信號；

所述監(jiān)測模塊還用于，監(jiān)測被測電路中模擬電路的鎖定信號；

所述控制模塊還用于，當監(jiān)測到被測電路中模擬電路的鎖定信號進入鎖定狀態(tài)時，觸發(fā)執(zhí)行針對所述模擬電路的指標測試。

7.根據(jù)權利要求6所述的設備，其特征在于，所述被測電路還包括數(shù)字電路；

所述控制模塊還用于，在執(zhí)行針對所述模擬電路的指標測試成功之后，繼續(xù)執(zhí)行針對所述數(shù)字電路的指標測試。

8.根據(jù)權利要求6所述的設備，其特征在于，所述被測電路還包括數(shù)字電路；

所述控制模塊還用于，在執(zhí)行針對所述模擬電路的指標測試失敗之后，不再繼續(xù)執(zhí)行針對所述數(shù)字電路的指標測試。

9.一種測試控制系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括被測電路、測試控制電路及測試設備；

所述測試控制電路，用于監(jiān)測所述被測電路的鎖定信號；還用于當監(jiān)測到所述被測電路的鎖定信號進入鎖定狀態(tài)時，觸發(fā)所述測試設備執(zhí)行針對所述被測電路的測試流程。

10.根據(jù)權利要求9所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制電路與所述測試設備為同一設備；或，所述測試控制電路為所述測試設備的插件。