[發(fā)明專利]一種反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810273202.1 | 申請(qǐng)日： | 2018-03-29 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN110320573B | 公開（公告）日： | 2021-05-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張軍;王磊;李軍;劉志遠(yuǎn);南澤宇;李浩;付維署;胡瑤 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發(fā)研究院 |
| 主分類號(hào)： | G01V11/00 | 分類號(hào)： | G01V11/00;E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京思創(chuàng)畢升專利事務(wù)所 11218 | 代理人： | 孫向民;廉莉莉 |
| 地址： | 100728 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 反映 產(chǎn)能 測井 參數(shù) 構(gòu)建 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建方法，其特征在于，包括：
1)對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段設(shè)置測井曲線圖上自然伽馬曲線、自然電位曲線的左右刻度；
2)在目標(biāo)儲(chǔ)層段計(jì)算每一個(gè)深度點(diǎn)i的重疊差ci：
其中，GRi為第i個(gè)深度點(diǎn)的自然伽馬測井響應(yīng)值，SPi為第i個(gè)深度點(diǎn)的自然電位測井響應(yīng)值，i＝1,2,...,n，n為深度點(diǎn)數(shù)目，GRL、GRR為自然伽馬曲線的左刻度、右刻度，SPL、SPR為自然電位曲線的左刻度、右刻度；
3)當(dāng)cic0，對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段的孔隙度ap進(jìn)行累加；
其中，c0為設(shè)定門檻值；
步驟3)包括：在目標(biāo)儲(chǔ)層段內(nèi)逐點(diǎn)判斷第i個(gè)深度點(diǎn)對(duì)應(yīng)的重疊差ci是否滿足設(shè)定門檻值c0，當(dāng)cic0，對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段的孔隙度ap進(jìn)行累加，直到整個(gè)目標(biāo)儲(chǔ)層段計(jì)算完畢，此時(shí)得到的孔隙度ap，即為反應(yīng)儲(chǔ)層產(chǎn)能的參數(shù)；ap值越大，儲(chǔ)層產(chǎn)能越好。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建方法，其特征在于，步驟1)包括：
固定自然伽馬曲線的刻度，包括左刻度GRL、右刻度GRR；
保持自然電位曲線的左右刻度差不變，通過改變自然電位曲線的左右刻度移動(dòng)自然電位曲線，直到自然電位曲線與自然伽馬曲線重疊程度最大，將此時(shí)自然電位曲線左刻度分別記為SPL、右刻度記為SPR。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建方法，其特征在于，自然電位曲線的左右刻度差為50mv。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建方法，其特征在于，按照以下公式對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段的孔隙度ap進(jìn)行累加：
api＝api-1+pori*l (2)
其中，pori為測井解釋孔隙度，l為測井采樣深度間隔。
5.一種反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建系統(tǒng)，其特征在于，包括：
標(biāo)定模塊，用于對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段設(shè)置測井曲線圖上自然伽馬曲線、自然電位曲線的左右刻度；
重疊差計(jì)算模塊，用于在目標(biāo)儲(chǔ)層段計(jì)算每一個(gè)深度點(diǎn)i的重疊差ci：
其中，GRi為第i個(gè)深度點(diǎn)的自然伽馬測井響應(yīng)值，SPi為第i個(gè)深度點(diǎn)的自然電位測井響應(yīng)值，i＝1,2,...,n，n為深度點(diǎn)數(shù)目，GRL、GRR為自然伽馬曲線的左刻度、右刻度，SPL、SPR為自然電位曲線的左刻度、右刻度；
累加模塊，用于對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段的孔隙度ap進(jìn)行累加；
累加模塊執(zhí)行以下步驟：在目標(biāo)儲(chǔ)層段內(nèi)逐點(diǎn)判斷第i個(gè)深度點(diǎn)對(duì)應(yīng)的重疊差ci是否滿足設(shè)定門檻值c0，當(dāng)cic0，對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段的孔隙度ap進(jìn)行累加，直到整個(gè)目標(biāo)儲(chǔ)層段計(jì)算完畢，此時(shí)得到的孔隙度ap，即為反應(yīng)儲(chǔ)層產(chǎn)能的參數(shù)；ap值越大，儲(chǔ)層產(chǎn)能越好。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建系統(tǒng)，其特征在于，通過以下方式對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段設(shè)置測井曲線圖上自然伽馬曲線、自然電位曲線的左右刻度：
固定自然伽馬曲線的刻度，包括左刻度GRL、右刻度GRR；
保持自然電位曲線的左右刻度差不變，通過改變自然電位曲線的左右刻度移動(dòng)自然電位曲線，直到自然電位曲線與自然伽馬曲線重疊程度最大，將此時(shí)自然電位曲線左刻度分別記為SPL、右刻度記為SPR。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建系統(tǒng)，其特征在于，自然電位曲線的左右刻度差為50mv。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的反映儲(chǔ)層產(chǎn)能的測井參數(shù)構(gòu)建系統(tǒng)，其特征在于，按照以下公式對(duì)目標(biāo)儲(chǔ)層段的孔隙度ap進(jìn)行累加：
api＝api-1+pori*l (2)
其中，pori為測井解釋孔隙度，l為測井采樣深度間隔。
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