[發明專利]基于X-Ray成像技術異物檢測系統、方法以及裝置

有效

• 申請號: 201810271938.5
• 申請日: 2018-03-29
• 公開（公告）號: CN108535287B
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 洪堅;王國平
• 申請（專利權）人: 多科智能裝備（常熟）有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01V5/00;G06K9/34;G06K9/00;G06K9/46;G06T7/136;G06T7/11
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 莊文莉

1.一種基于X-Ray成像技術異物檢測方法，其特征在于，包含檢測控制步驟，所述檢測控制步驟包含以下步驟：

數據采集步驟：根據X射線成像系統(3)獲取的成像數據生成點體灰度陣列D；

數據處理步驟：對點體灰度陣列D進行處理獲得邊界區域陣列A；異物確認步驟：根據邊界區域陣列A生成異物識別信息；

所述數據采集步驟包含以下步驟：寬度一維陣列生成步驟：根據X射線成像系統(3)

檢測寬度方向上多個采樣位置對應的成像數據，生成點體一維灰度陣列[D₀,D₁,D₂...,D_n]，D_n表示X射線成像系統(3)上第n個采樣位置對應的成像數據；

式中：W為X射線成像系統(3)檢測的寬度；Spixel為每個像素的尺寸；寬度傳送二維陣列生成步驟：獲取傳送系統運動一個或多個設定距離后的點體一維灰度陣列，組合獲得點體灰度陣列D：

式中，D_mn表示傳送系統運動m個設定距離后，X射線成像系統(3)上第n個采樣位置對應的成像數據；

數據處理步驟包含以下步驟：

灰度映射計算步驟：根據設定的映射曲線，將16位二進制精度的點體灰度陣列D轉化為8位二進制精度的灰度映射矩陣B；

二值化計算步驟：對灰度映射矩陣B進行動態二值化計算，得到邊界區域陣列A；所述二值化計算步驟包含以下步驟：閾值取點步驟：根據設定的閾值，取灰度映射矩陣B中第i行，第j列的像素點灰度值B_i,j

以及B_i,j周圍的像素點灰度值，得到關于B_i,j的閾值取點矩陣B(i,j)：

式中，s為行取點尺度閾值，t為列取點尺度閾值；邊界區域值計算步驟：比較B_ij與u_H的大小：當B_ij≥u_H時，令B_i,j對應的Block值為1；當B_ij＜u_H時，令B_i,j對應的Block值為0；

其中：P∈(1,s)，Q∈(1,t)，P、Q均為正整數；

x＝i-P,i-P+1,....i,...,i+P-1,i+P；y＝j-Q,j-Q+1,....j,...,j+Q-1,j+Q；

式中：B_ij為B_i,j對應的計算比較值；u_H為二值化灰

度閥值；

B_ot為行取點尺度設置值為P、列取點尺度設置值為Q時，B_i,j周圍像素點灰度值與B_i,j的灰度值和；

B_x,y為B(i,j)中x序號行，y序號列的像素點灰度值；

B_st為矩陣B(i,j)中所有像素點灰度值的平均值；

邊界區域二值化步驟：將B_i,j對應的Block值賦值給邊界區域陣列A中第i行，第j列的像素點A_i,j，得到二值化的邊界區域陣列A：