[發明專利]一種測試電路及其測試方法、測試系統

在審

• 申請號: 201810264950.3
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108562839A
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: 高弘瑋;張國慶;楊紅霞;趙普查;白曉鵬;趙科;賈智慧;宗巖;王曉偉;劉耀榮
• 申請（專利權）人: 鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G09G3/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

本發明公開一種測試電路及其測試方法、測試系統，涉及顯示技術領域，為解決現有的測試電路不能夠提供理想的測試信號，導致待測試產品容易出現異常的問題。所述測試電路包括：測試信號輸入端，用于輸入初始測試信號；信號輸出端，用于輸出目標測試信號；分別與所述測試信號輸入端和所述信號輸出端連接的信號整形模塊，所述信號整形模塊用于將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號。本發明提供的測試電路用于為待測試產品提供測試信號。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種測試電路及其測試方法、測試系統。

背景技術

有源矩陣有機發光二極管(英文Active Matrix Organic Light EmittingDiode，簡稱AMOLED)顯示器件由于其具有高亮度、廣視角、可實現柔性顯示等特點，被廣泛應用于各個領域。由于AMOLED顯示器件的內部電路較為復雜，致使AMOLED顯示器件在實際應用時容易產生較多的電學不良。例如：AMOLED顯示器件中用于驅動每一個像素單元發光的驅動晶體管內部的體電荷無法得到釋放，使得驅動晶體管存在特性翹尾現象，而這種特性翹尾現象會使驅動晶體管具有較大的漏電流，導致AMOLED顯示器件關態異常，容易產生電性亮點和漏光現象。

為了解決上述問題，目前業內的通用手段是對AMOLED顯示面板進行驅動晶體管老化處理，進而使得驅動晶體管翹尾后移，減小漏電流的產生，消除由于驅動晶體管的漏電流較高而產生的電性亮點和漏光現象。而受到顯示面板的柵掃描驅動方式限制，實際老化過程中需要將用于老化的測試信號輸入移位寄存器單元，再通過移位寄存器單元的內部轉化輸出一組信號進入顯示區域，進而完成老化過程。

然而老化過程中加入的測試信號明顯區別于正常顯示過程中的信號，一般地，對驅動晶體管進行老化的測試信號具有高電壓和反向的特性。而由于現有的從驅動芯片直接輸出的測試信號無法避免超調量和環境因素的影響，導致實際輸入產品的測試信號并不是理想狀態下的測試信號，而這種非理想狀態下的測試信號輸入產品后，容易造成產品的移位寄存器單元損壞，進而導致產品出現異常顯示的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測試電路及其測試方法、測試系統，用于解決現有的測試電路不能夠提供理想的測試信號，導致待測試產品容易出現異常的問題。

為了實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

本發明的第一方面提供一種測試電路，包括：

測試信號輸入端，用于輸入初始測試信號；

信號輸出端，用于輸出目標測試信號；

分別與所述測試信號輸入端和所述信號輸出端連接的信號整形模塊，所述信號整形模塊用于將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號。

進一步地，所述信號輸出端包括：N個信號輸出端口，所述信號輸出端口用于輸出目標測試信號；

所述信號整形模塊包括：與所述N個信號輸出端口一一對應的N個信號整形單元，每一個所述信號整形單元分別與所述測試信號輸入端和對應的所述信號輸出端口連接；

所述信號整形單元用于將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號，并通過對應的信號輸出端口輸出，N為大于或等于1的整數。

進一步地，所述信號整形單元包括：

第一基準信號輸入端，用于輸入第一基準信號；

第一子單元，分別與所述測試信號輸入端、對應的信號輸出端口和所述第一基準信號輸入端連接；

所述第一子單元用于將所述初始測試信號中的幅值高于所述第一基準信號的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號。