[發明專利]一種測試電路及其測試方法、測試系統

在審

• 申請號: 201810264950.3
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108562839A
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: 高弘瑋;張國慶;楊紅霞;趙普查;白曉鵬;趙科;賈智慧;宗巖;王曉偉;劉耀榮
• 申請（專利權）人: 鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G09G3/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

1.一種測試電路，其特征在于，包括：

測試信號輸入端，用于輸入初始測試信號；

信號輸出端，用于輸出目標測試信號；

分別與所述測試信號輸入端和所述信號輸出端連接的信號整形模塊，所述信號整形模塊用于將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號。

2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，

所述信號輸出端包括：N個信號輸出端口，所述信號輸出端口用于輸出目標測試信號；

所述信號整形模塊包括：與所述N個信號輸出端口一一對應的N個信號整形單元，每一個所述信號整形單元分別與所述測試信號輸入端和對應的所述信號輸出端口連接；

所述信號整形單元用于將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號，并通過對應的信號輸出端口輸出，N為大于或等于1的整數。

3.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述信號整形單元包括：

第一基準信號輸入端，用于輸入第一基準信號；

第一子單元，分別與所述測試信號輸入端、對應的信號輸出端口和所述第一基準信號輸入端連接；

所述第一子單元用于將所述初始測試信號中的幅值高于所述第一基準信號的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號。

4.根據權利要求3所述的測試電路，其特征在于，所述第一子單元包括依次串聯的多個高電平整形二極管，沿著所述高電平整形二極管的導通方向，第一個高電平整形二極管的陽極分別與所述測試信號輸入端和對應的信號輸出端口連接，最后一個高電平整形二極管的陰極與所述第一基準信號輸入端連接。

5.根據權利要求4所述的測試電路，其特征在于，所述信號整形單元還包括：

第二基準信號輸入端，用于輸入第二基準信號；

第二子單元，分別與所述測試信號輸入端、對應的信號輸出端口和所述第二基準信號輸入端連接；

所述第二子單元用于將所述初始測試信號中的幅值低于所述第二基準信號的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號。

6.根據權利要求5所述的測試電路，其特征在于，所述第二子單元包括依次串聯的多個低電平整形二極管，沿著所述低電平整形二極管的導通方向，第一個低電平整形二極管的陽極與所述第二基準信號輸入端連接，最后一個低電平整形二極管的陰極分別與所述測試信號輸入端和對應的信號輸出端口連接。

7.根據權利要求6所述的測試電路，其特征在于，所述高電平整形二極管和所述低電平整形二極管均為高頻二極管。

8.一種如權利要求1～7任一項所述的測試電路的測試方法，其特征在于，包括：

接收測試信號輸入端輸入的初始測試信號；

通過信號整形模塊將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到目標測試信號；

通過信號輸出端將所述目標測試信號輸出。

9.根據權利要求8所述的測試電路的測試方法，其特征在于，

所述信號輸出端包括：N個信號輸出端口；

所述信號整形模塊包括：與所述N個信號輸出端口一一對應的N個信號整形單元，每一個所述信號整形單元分別與所述測試信號輸入端和對應的所述信號輸出端口連接；

所述通過信號整形模塊將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到目標測試信號的步驟具體包括：

通過所述信號整形單元將所述初始測試信號中的噪聲信號濾除，得到所述目標測試信號；

所述通過信號輸出端將所述目標測試信號輸出的步驟具體包括：

通過與所述信號整形單元對應的信號輸出端口將所述目標測試信號輸出。