[發(fā)明專利]光功率自參考和測試繩驗證的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810263758.2
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108663193B
• 公開（公告）日: 2021-09-14
• 發(fā)明（設計）人: J.D.謝爾;S.戈德斯坦
• 申請（專利權）人: 弗蘭克公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張健;申屠偉進

本發(fā)明提供了一種光學測量裝置和損耗測量。所述光學測量裝置接收一個或多個光信號，所述一個或多個光信號分別源自光纖電纜的多根光纖中的一根或多根光纖。所述光學測量裝置捕獲所述一個或多個光信號的一個或多個圖像，并且基于所述一個或多個圖像，分別確定所述一個或多個光信號的一個或多個接收位置。

背景技術。

技術領域

本專利申請涉及一種用于確定光信號損耗和/或測試繩驗證的光功率自參考方法，并且具體地講，涉及具有低不確定性測量的光功率自參考方法。

背景技術

測量光信號強度的常規(guī)裝置利用通常單獨地耦接到光學陣列的每根光纖上的光檢測器。常規(guī)裝置可用于測量通過陣列的每根光纖傳輸的光信號的光強度。然而，為了獲得強度測量，需要將裝置單獨地耦接到每根光纖上，這是十分耗時的。

為了執(zhí)行損耗測量，進行第一光功率測量并將其記錄為供后續(xù)測量與之進行比較的參考。對于現場測試光纖鏈路，通常利用手持式功率計和光源。執(zhí)行該功能的裝置是各有不同并且眾所周知的，例如美國專利4234253、美國專利4673291、美國專利4726676、美國專利5825516和美國專利5748302中所述的那些。

圖1示出了具有光纖連接器和光檢測器的非接觸式功率計輸入的實施方案。如圖1所示，常規(guī)功率計通常具有大面積檢測器，該大面積檢測器的輸入不與連接到測試端口的連接器接觸。由于檢測器不接觸并且覆蓋大面積，因此相對于離開測試繩的光信號的功率而言，測量不確定性非常低。因此，測試繩可以非常低的不確定性插入、移除和重新插入。

圖2是具有光纖連接器的光源的實施方案。如圖2所示，光源通常具有連接到內部光源的光纖尾纖，該光纖尾纖的末端用與測試繩的連接器物理接觸的連接器端接。由于連接器存在物理接觸，傳輸到測試繩中的光量將根據連接質量和污染量而變化。為此，常見的做法是，在所有現場測量的持續(xù)時間內，保持測試繩連接到光源。通過不執(zhí)行斷開測試繩與光源的連接然后再將其重新連接，不確定性得到最大程度降低。

圖3示出單跳線方法的實施方案，該單跳線方法使用光源、單一跳線和功率計。如圖3所示，第一功率測量，其用作所有后續(xù)測量的參考，通過將第一測試繩直接附接到光源和功率計來最佳地獲得。該配置具體被稱為單跳線參考方法，并在測量標準中有所定義。使用單跳線參考方法對鏈路的損耗或衰減進行的測量通過在保持第一測試繩附接到光源的同時斷開第一測試繩與功率計的連接來實現。這樣，由于光源的物理接觸連接而導致的任何變化就被最大程度降低。

繼續(xù)使用單跳線參考方法，將第二測試繩連接到功率計。優(yōu)選地，兩條測試繩現在連接在一起以測量它們的連接的損耗從而驗證它們的質量。接下來，經由第二測試繩將功率計連接到受測鏈路，并且經由第一測試繩將光源連接到光纖鏈路的相對一端。值得注意的是，測試繩的連接器應具有與受測鏈路的連接器相同的類型。因此，功率計的連接器也應為相同類型的連接器，因為它也必須在參考過程期間連接到第一測試繩。

值得注意的是，還有雙跳線參考方法和三跳線參考方法。然而，單跳線參考方法為損耗測量提供了最低的不確定性。其他方法會増加不確定性，但有時用于克服測試設備的缺陷，所述測試設備諸如不同于受測光纖鏈路的連接器端口。

一些常規(guī)裝置配備有多個傳感器，由此每個傳感器捕獲從陣列的相應光纖接收的光信號。為了使這些裝置正常工作，傳感器必須分別與光纖對齊。由于光學陣列連接器諸如多光纖推入式(MPO)連接器是類別特異性的（即釘扎或非釘扎）這一事實，需要符合類別的裝置以便將裝置附接到連接器并確保對齊。因此，對光學陣列進行現場測試的人員可能需要攜帶用于兩種類別的多個裝置。