[發明專利]光功率自參考和測試繩驗證的方法

有效

• 申請號: 201810263758.2
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108663193B
• 公開（公告）日: 2021-09-14
• 發明（設計）人: J.D.謝爾;S.戈德斯坦
• 申請（專利權）人: 弗蘭克公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張健;申屠偉進

1.一種光功率自參考方法，包括：

提供第一光學測量裝置，所述第一光學測量裝置具有位于第一雙向端口中的第一光檢測器_BiDi和第一光源_BiDi以及位于第一功率計端口中的第一光檢測器_PM；

提供第二光學測量裝置，所述第二光學測量裝置具有位于第二雙向端口中第二光檢測器_BiDi和第二光源_BiDi以及位于第二功率計端口中的第二光檢測器_PM；

接收工廠校準校正因子ρ1和ρ2，其中ρ1是所述第一光學測量裝置的所述第一光檢測器_PM與所述第一光檢測器_BiDi之間的工廠測量誤差，并且其中ρ2是所述第二光學測量裝置的所述第二光檢測器_PM與所述第二光檢測器_BiDi之間的工廠測量誤差；

在所述第一光學測量裝置上，使用第一測試繩將所述第一雙向端口連接到所述第一功率計端口并測量在所述第一功率計處接收的光信號的功率電平Px1；

在所述第二光學測量裝置上，使用第二測試繩將第二雙向端口連接到所述第二功率計端口并測量在第二功率計處接收的光信號的功率電平Py1；

在所述第一光學測量裝置上，斷開所述第一測試繩與所述第一功率計端口的連接，并且使用所述第一測試繩將所述第一雙向端口連接到所述第二功率計端口并測量在所述第二功率計處接收的光信號的功率電平Px2；

在所述第二光學測量裝置上，斷開所述第二測試繩與所述第二功率計端口的連接，并且使用所述第二測試繩將所述第二雙向端口連接到所述第一功率計端口并測量在所述第一功率計處接收的光信號的功率電平Py2；

確定現場校準校正因子ρ3和ρ4，其中ρ3是所述第一光學測量裝置的所述第一光檢測器_PM與所述第一光檢測器_BiDi之間的現場測量誤差，其中ρ4是所述第二光學測量裝置的所述第二光檢測器_PM與所述第二光檢測器_BiDi之間的現場測量誤差；并且其中：

Px2 = Px1 - ρ3，

Py2 = Py1 - ρ4，

P_ref1 = Py2 - ρ1，并且

P_ref2 = Px2 - ρ2，

通過代入Px2和Py2來計算P_ref1和P_ref2，其中

P_ref1 = Py1 - ρ4 - ρ1，并且

P_ref2 = Px1 - ρ3 - ρ2；以及

通過以下步驟來執行損耗測試：斷開所述第一測試繩的連接端與所述第二測試繩的連接端的連接，將所述第一測試繩的所述連接端和所述第二測試繩的所述連接端連接到正被測試的光纖鏈路的相對兩端，并且通過正被測試的所述光纖鏈路測量由所述第一測試繩接收的光信號的功率電平Py4以及由所述第二測試繩接收的光信號的功率電平Px4；

其中所述第一雙向端口處的損耗等于：Py4 - P_ref1，并且其中所述第二雙向端口處的損耗等于：Px4 - P_ref2。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一光學測量裝置包括第一處理器和第一存儲器，并且其中所述第二光學測量裝置包括第二處理器和第二存儲器。

3.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一雙向端口包含組合的第一光檢測器_BiDi和第一光源_BiDi。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一功率計端口包含非接觸式第一光檢測器_PM。

5.根據權利要求1所述的方法，其中所述第二雙向端口包含組合的第二光檢測器_BiDi和第二光源_BiDi。

6.根據權利要求1所述的方法，其中所述第二功率計端口包含非接觸式第二光檢測器_PM。