[發(fā)明專利]基于機(jī)械手的芯片測試方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810263221.6
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN110314864A
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 洪濤
• 申請（專利權(quán)）人: 北京君正集成電路股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京智為時代知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11498
• 代理人: 王加嶺;楊靜

本發(fā)明提供了一種基于機(jī)械手的芯片測試方法和裝置，其中，該方法包括：機(jī)械手發(fā)送測試開始信號；接收被測芯片響應(yīng)于所述測試開始信號返回的測試結(jié)束信號；所述機(jī)械手響應(yīng)于所述測試結(jié)束信號，調(diào)取測試結(jié)果信息，并根據(jù)所述測試結(jié)果信息將所述被測芯片放至目標(biāo)位置。通過上述方案解決了現(xiàn)有的芯片測試方式中所存在的測試效率低、測試結(jié)果準(zhǔn)確度低的技術(shù)問題，達(dá)到了有效提高測試效率和測試準(zhǔn)確度的技術(shù)效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及設(shè)備控制技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種基于機(jī)械手的芯片測試方法和裝置。

背景技術(shù)

芯片在封裝完成后，一般都會對其進(jìn)行測試，以便將良品和不良品分開?，F(xiàn)有的芯片測試方法一般是采用人工測試的方式。一般是在每個測試人員的面前設(shè)置2～3個測試臺，通過人工查看測試臺的指示燈的信息(例如：指示燈綠色代表良品，紅色代表不良品)進(jìn)行測試，從而判斷出被測芯片是否是良品。

這種測試方式不僅效率低下，而且人工在拿放芯片時還有可能將芯片放錯，造成良品和不良品混淆，且測試成本較高。

針對現(xiàn)有的人工測試芯片的方式所存在的效率低下、準(zhǔn)確率低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了一種基于機(jī)械手的芯片測試方法，以達(dá)到高效高準(zhǔn)確率的芯片測試的目的，該方法包括：

機(jī)械手發(fā)送測試開始信號；

接收被測芯片響應(yīng)于所述測試開始信號返回的測試結(jié)束信號；

所述機(jī)械手響應(yīng)于所述測試結(jié)束信號，調(diào)取測試結(jié)果信息，并根據(jù)所述測試結(jié)果信息將所述被測芯片放至目標(biāo)位置。

在一個實施方式中，所述機(jī)械手根據(jù)所述測試結(jié)果信息將所述被測芯片放至所述目標(biāo)位置包括：

所述機(jī)械手獲取所述測試結(jié)果信息；

根據(jù)所述測試結(jié)果信息判斷所述被測芯片是否通過測試；

在確定通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應(yīng)于測試通過的分類裝置中；

在確定未通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應(yīng)于測試未通過的分類裝置中。

在一個實施方式中，所述測試開始信號為TTL_5V的信號。

在一個實施方式中，所述機(jī)械手將所述被測芯片放至所述目標(biāo)位置包括：

所述機(jī)械手抓起所述被測芯片；

將所述被測芯片放至所述目標(biāo)位置。

在一個實施方式中，所述機(jī)械手調(diào)取測試結(jié)果信息包括：

所述機(jī)械手從狀態(tài)鎖存器讀取所述測試結(jié)果信息。

本發(fā)明實施例還提供了一種基于機(jī)械手的芯片測試裝置，位于機(jī)械手中，以達(dá)到高效高準(zhǔn)確率的芯片測試的目的，該裝置包括：

發(fā)送模塊，用于發(fā)送測試開始信號；

接收模塊，用于接收被測芯片響應(yīng)于所述測試開始信號返回的測試結(jié)束信號；

處理模塊，用于響應(yīng)于所述測試結(jié)束信號，調(diào)取測試結(jié)果信息，并根據(jù)所述測試結(jié)果信息將所述被測芯片放至目標(biāo)位置。

在一個實施方式中，所述處理模塊包括：

獲取單元，用于獲取所述測試結(jié)果信息；

判斷單元，用于根據(jù)所述測試結(jié)果信息判斷所述被測芯片是否通過測試；

第一處理單元，用于在確定通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應(yīng)于測試通過的分類裝置中；