[發(fā)明專利]基于機(jī)械手的芯片測(cè)試方法和裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810263221.6
• 申請(qǐng)日: 2018-03-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110314864A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-10-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 洪濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京君正集成電路股份有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/344
• 分類號(hào): B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京智為時(shí)代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11498
• 代理人: 王加嶺;楊靜

1.一種基于機(jī)械手的芯片測(cè)試方法，其特征在于，包括：

機(jī)械手發(fā)送測(cè)試開(kāi)始信號(hào)；

接收被測(cè)芯片響應(yīng)于所述測(cè)試開(kāi)始信號(hào)返回的測(cè)試結(jié)束信號(hào)；

所述機(jī)械手響應(yīng)于所述測(cè)試結(jié)束信號(hào)，調(diào)取測(cè)試結(jié)果信息，并根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果信息將所述被測(cè)芯片放至目標(biāo)位置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述機(jī)械手根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果信息將所述被測(cè)芯片放至所述目標(biāo)位置包括：

所述機(jī)械手獲取所述測(cè)試結(jié)果信息；

根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果信息判斷所述被測(cè)芯片是否通過(guò)測(cè)試；

在確定通過(guò)測(cè)試的情況下，將所述被測(cè)芯片放至對(duì)應(yīng)于測(cè)試通過(guò)的分類裝置中；

在確定未通過(guò)測(cè)試的情況下，將所述被測(cè)芯片放至對(duì)應(yīng)于測(cè)試未通過(guò)的分類裝置中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試開(kāi)始信號(hào)為TTL_5V的信號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述機(jī)械手將所述被測(cè)芯片放至所述目標(biāo)位置包括：

所述機(jī)械手抓起所述被測(cè)芯片；

將所述被測(cè)芯片放至所述目標(biāo)位置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述機(jī)械手調(diào)取測(cè)試結(jié)果信息包括：

所述機(jī)械手從狀態(tài)鎖存器讀取所述測(cè)試結(jié)果信息。

6.一種基于機(jī)械手的芯片測(cè)試裝置，位于機(jī)械手中，其特征在于，包括：

發(fā)送模塊，用于發(fā)送測(cè)試開(kāi)始信號(hào)；

接收模塊，用于接收被測(cè)芯片響應(yīng)于所述測(cè)試開(kāi)始信號(hào)返回的測(cè)試結(jié)束信號(hào)；

處理模塊，用于響應(yīng)于所述測(cè)試結(jié)束信號(hào)，調(diào)取測(cè)試結(jié)果信息，并根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果信息將所述被測(cè)芯片放至目標(biāo)位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊包括：

獲取單元，用于獲取所述測(cè)試結(jié)果信息；

判斷單元，用于根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果信息判斷所述被測(cè)芯片是否通過(guò)測(cè)試；

第一處理單元，用于在確定通過(guò)測(cè)試的情況下，將所述被測(cè)芯片放至對(duì)應(yīng)于測(cè)試通過(guò)的分類裝置中；

第二處理單元，用于在確定未通過(guò)測(cè)試的情況下，將所述被測(cè)芯片放至對(duì)應(yīng)于測(cè)試未通過(guò)的分類裝置中。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述測(cè)試開(kāi)始信號(hào)為TTL_5V的信號(hào)。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于抓起所述被測(cè)芯片，將所述被測(cè)芯片放至所述目標(biāo)位置。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于從狀態(tài)鎖存器讀取所述測(cè)試結(jié)果信息。