[發明專利]基于機械手的芯片測試方法和裝置

在審

• 申請號: 201810263221.6
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN110314864A
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: 洪濤
• 申請（專利權）人: 北京君正集成電路股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京智為時代知識產權代理事務所(普通合伙) 11498
• 代理人: 王加嶺;楊靜

1.一種基于機械手的芯片測試方法，其特征在于，包括：

機械手發送測試開始信號；

接收被測芯片響應于所述測試開始信號返回的測試結束信號；

所述機械手響應于所述測試結束信號，調取測試結果信息，并根據所述測試結果信息將所述被測芯片放至目標位置。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述機械手根據所述測試結果信息將所述被測芯片放至所述目標位置包括：

所述機械手獲取所述測試結果信息；

根據所述測試結果信息判斷所述被測芯片是否通過測試；

在確定通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應于測試通過的分類裝置中；

在確定未通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應于測試未通過的分類裝置中。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試開始信號為TTL_5V的信號。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述機械手將所述被測芯片放至所述目標位置包括：

所述機械手抓起所述被測芯片；

將所述被測芯片放至所述目標位置。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述機械手調取測試結果信息包括：

所述機械手從狀態鎖存器讀取所述測試結果信息。

6.一種基于機械手的芯片測試裝置，位于機械手中，其特征在于，包括：

發送模塊，用于發送測試開始信號；

接收模塊，用于接收被測芯片響應于所述測試開始信號返回的測試結束信號；

處理模塊，用于響應于所述測試結束信號，調取測試結果信息，并根據所述測試結果信息將所述被測芯片放至目標位置。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊包括：

獲取單元，用于獲取所述測試結果信息；

判斷單元，用于根據所述測試結果信息判斷所述被測芯片是否通過測試；

第一處理單元，用于在確定通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應于測試通過的分類裝置中；

第二處理單元，用于在確定未通過測試的情況下，將所述被測芯片放至對應于測試未通過的分類裝置中。

8.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述測試開始信號為TTL_5V的信號。

9.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于抓起所述被測芯片，將所述被測芯片放至所述目標位置。

10.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于從狀態鎖存器讀取所述測試結果信息。