[發明專利]樣品測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201810259785.2
• 申請日: 2018-03-27
• 公開（公告）號: CN108917979B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 王雷;曹鐵城;陳志列
• 申請（專利權）人: 浙江研祥智能科技有限公司;研祥智能科技股份有限公司
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00;G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王寧

1.一種樣品測試方法，所述樣品位于試驗箱內，所述樣品包括多個待測器件；其特征在于，所述方法包括：

獲取樣品信息，所述樣品信息包括待測器件信息；

發送溫度調節指令至所述試驗箱，使得所述試驗箱根據所述溫度調節指令調節溫變速率；

根據所述待測器件信息監測所述待測器件在多種溫變速率下對應的性能參數，當所述性能參數低于預設值時，表示所述待測器件出現異常，獲取多種的溫變速率對應的測試時間；所述多種的溫變速率對應的測試時間為不同的溫變速率下，從實驗開始到所述性能參數低于預設值時對應的測試時間；

對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，對應測試時間最少的溫變速率標記為激發所述待測器件異常的合理測試條件；

根據所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述激發所述待測器件異常的合理測試條件還包括溫度偏差；所述待測器件上設置有溫度測試點；所述方法包括：

記錄所述溫度測試點在所述溫變速率下的溫度，根據所述溫度計算所述待測器件溫度偏差；所述溫度偏差為同一時刻下，溫度傳感器反饋的溫度與試驗箱設置的溫變速率所對應的溫度之間的偏差；

當所述性能參數低于預設值時，獲取多種溫變速率對應的測試時間；

對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，根據測試時間最少的溫變速率對應的所述溫度偏差得到激發所述待測器件異常的合理測試條件；

根據所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述測試點的溫度計算溫度偏差的步驟，所述方法包括：

計算同一所述溫度測試點在當前溫變速率下對應的多個溫度偏差；

根據所述多個溫度偏差計算所述樣品在當前溫變速率下的平均溫度偏差；

當所述性能參數低于預設值時，獲取多種的溫變速率對應的測試時間；

所述根據測試時間最少的溫變速率對應的所述溫度偏差得到激發所述待測器件異常的合理測試條件包括：

根據測試時間最少的溫變速率和與測試時間最少的溫變速率相對應的平均溫度偏差得到激發所述待測器件異常的合理測試條件。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件之后還包括：

發送溫度調節指令至所述試驗箱，使得所述試驗箱根據所述溫度調節指令調節溫變速率為激發異常的合理測試條件。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述樣品包括多個待測器件；所述方法還包括：

分別獲取所述樣品中激發所述待測器件異常的的合理測試條件；

分別對所述樣品中待測器件進行穩定性評分；

根據所述待測器件的穩定性評分和所述待測器件異常的的合理測試條件確定激發所述樣品異常的合理測試條件。

6.一種樣品測試裝置，所述樣品位于試驗箱內，所述樣品包括多個待測器件；其特征在于，所述裝置包括：

獲取模塊，用于獲取樣品信息，所述樣品信息確定待測器件；

發送模塊，用于發送溫度調節指令至所述試驗箱，使得所述試驗箱根據所述溫度調節指令調節溫變速率；

監測模塊，用于根據所述待測器件信息監測所述待測器件在多種溫變速率下對應的性能參數，當所述性能參數低于預設值時，表示所述待測器件出現異常，獲取多種的溫變速率對應的測試時間；所述多種的溫變速率對應的測試時間為不同的溫變速率下，從實驗開始到所述性能參數低于預設值時對應的測試時間；

確定模塊，用于對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，對應測試時間最少的溫變速率標記為激發所述待測器件異常的合理測試條件；

估測模塊，用于根據所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。