[發(fā)明專利]樣品測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810259785.2
• 申請日: 2018-03-27
• 公開（公告）號: CN108917979B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發(fā)明（設計）人: 王雷;曹鐵城;陳志列
• 申請（專利權）人: 浙江研祥智能科技有限公司;研祥智能科技股份有限公司
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00;G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王寧

本申請涉及一種樣品測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質。所述方法包括：獲取樣品信息，所述樣品信息包括待測器件信息；發(fā)送溫度調節(jié)指令至所述試驗箱，使得所述試驗箱根據(jù)所述溫度調節(jié)指令調節(jié)溫變速率；根據(jù)所述待測器件信息監(jiān)測待測器件在多種溫變速率下對應的性能參數(shù)，當所述性能參數(shù)低于預設值時，表示所述待測器件出現(xiàn)異常，獲取多種的溫變速率對應的測試時間；對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，對應測試時間最少的溫變速率標記為激發(fā)所述待測器件異常的合理測試條件；根據(jù)所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。采用本方法能夠合理的設置測試條件，能夠對產品中關鍵部件的溫度應力進行精準測試。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別是涉及一種樣品測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

在工業(yè)控制計算機新產品開發(fā)階段，通常需要對計算機的可靠性進行測試。溫度應力試驗對于產品可靠性測試有著巨大的作用，但普通的溫度應力試驗僅是針對整機或系統(tǒng)進行試驗，但是由于產品的復雜性，現(xiàn)有方法不能針對產品中的關鍵部件進行精準測試，如何設置合理的測試條件，能夠對產品中關鍵部件的溫度應力進行精準測試成為目前需要解決的一個技術問題。

發(fā)明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠合理的設置測試條件，能夠對產品中關鍵部件的溫度應力進行精準測試的樣品測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種樣品測試方法，所述樣品位于試驗箱內，所述樣品包括多個待測器件；所述方法包括：

獲取樣品信息，所述樣品信息包括待測器件信息；

發(fā)送溫度調節(jié)指令至所述試驗箱，使得所述試驗箱根據(jù)所述溫度調節(jié)指令調節(jié)溫變速率；

根據(jù)所述待測器件信息監(jiān)測待測器件在多種溫變速率下對應的性能參數(shù)，當所述性能參數(shù)低于預設值時，表示所述待測器件出現(xiàn)異常，獲取多種的溫變速率對應的測試時間；

對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，對應測試時間最少的溫變速率標記為激發(fā)所述待測器件異常的合理測試條件；

根據(jù)所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。

在其中一個實施例中，所述合理測試條件還包括溫度偏差；所述待測器件上設置有溫度測試點；還包括：記錄所述溫度測試點在所述溫變速率下的溫度，根據(jù)所述溫度計算所述待測器件溫度偏差；

當所述性能參數(shù)低于預設值時，獲取多種溫變速率對應的測試時間；

對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，根據(jù)測試時間最少的溫變速率對應的所述溫度偏差得到激發(fā)所述待測器件異常的合理測試條件；

根據(jù)所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。

在其中一個實施例中，所述根據(jù)所述測試點的溫度計算溫度偏差的步驟，包括：

計算所述溫度測試點在所述溫變速率下對應的多個溫度偏差；

根據(jù)所述多個溫度偏差計算所述樣品的平均溫度偏差；

當所述性能參數(shù)低于預設值時，獲取多種的溫變速率對應的測試時間；

對多種溫變速率對應的測試時間進行比較，根據(jù)測試時間最少的溫變速率和所述平均溫度偏差得到激發(fā)所述待測器件異常的合理測試條件；

根據(jù)所述待測器件異常的合理測試條件估測樣品測試所對應的合理測試條件。

在其中一個實施例中，所述方法還包括：

發(fā)送溫度調節(jié)指令至所述試驗箱，使得所述試驗箱根據(jù)所述溫度調節(jié)指令調節(jié)溫變速率標記為激發(fā)異常的合理測試條件；