[發明專利]測試插座

有效

• 申請號: 201810259401.7
• 申請日: 2018-03-27
• 公開（公告）號: CN108663546B
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 鄭羽烈;張泰永
• 申請（專利權）人: NTS株式會社
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 溫春艷;鄺圓暉

公開一種測試插座。本發明公開的所述測試插座包括：底座，該底座配置為在其上座設有電子元件，并且具有形成在其上部的向下傾斜的斜面；頂蓋，該頂蓋形成為能夠在所述底座上方沿豎直方向移動；以及壓緊模塊，該壓緊模塊滑動地連接于所述頂蓋，并且配置為當所述頂蓋下降時向下壓緊所述電子元件。在所述頂蓋下降的過程中，所述壓緊模塊由所述斜面推動以滑動至所述電子元件的上方。根據本發明，可以提供一種測試插座，其中操作者能夠在檢測過程中觀察到電子模塊，安裝所述插座的空間的高度減小，并且所述連接銷和所述連接器在理想的連接方向上相互連接。

技術領域

本發明涉及一種測試插座，更具體地，涉及一種配置為用于將完全組裝的電子元件連接于檢測裝置的測試插座。

背景技術

通過提供操作信號和電源對半導體、LCD模塊、圖像傳感器、相機模塊等進行質量檢測，以檢測它們是否正常工作，該操作信號與施加給在各組件完成組裝后實際安裝的電子元件的操作信號相同，或者相似。

測試插座是一種配置為將LCD模塊、相機模塊或類似物連接于檢測裝置的裝置，以便于檢測裝置的信號能夠傳遞到LCD模塊、相機模塊或類似物。

在這方面，專利號為1006243的韓國專利公開了一種用于檢測電子模塊的插座。該由韓國專利No.1006243公開的插座包括：主體部分，該主體部分具有其上座設有被檢測的電子模塊的閥座部；蓋單元，該蓋單元鉸接于主體部分的一側，配置為與主體部分的上表面接觸以選擇性地按壓電子模塊，并且配置為覆蓋主體部分的上部以防止電子模塊脫出；操作單元，該操作單元設置于主體部分的一側或兩側以及蓋單元上，以在蓋單元閉合時半自動操作蓋單元；夾片單元，該夾片單元配置為使蓋單元的閉合狀態由操作單元維持；銷組件，該銷組件設置在主體部分上以在蓋單元閉合時連接于電子模塊；以及印刷電路板，該印刷電路板連接于銷組件并與檢測裝置電連接。

在韓國專利No.1006243中，形成有操作結構，其中，當操作者旋轉蓋單元時，設置在蓋單元上的部件(連接銷塊或推塊)將電子模塊按壓在閥座部上，從而使測試插座連接銷(以下簡稱“連接銷”)與電子模塊連接器(以下簡稱“連接器”)連接。

但是，韓國專利No.1006243具有以下缺點。

(1)由于連接銷和連接器在蓋單元覆蓋電子模塊的狀態下相互連接，電子模塊和檢測裝置形成一種結構，其中電子模塊和檢測裝置在遮蔽操作者對電子模塊的視線的狀態下電連接。因此，操作者無法直觀地確認連接銷和連接器是否相互正常連接。

當檢測結果確認電子模塊性能良好時，操作者可以認為連接銷與連接器正常連接。但是，當檢測結果確認電子模塊有缺陷時，無法準確地確定該缺陷是否是由于異常連接或電子模塊的缺陷引起的。因此，很難在這方面進行額外的檢測。

(2)當操作者手動旋轉蓋子時，會形成操作結構，其中連接銷連接于連接器，并且蓋單元在主體部分的一側形成大約90度的回轉半徑。因此，安裝測試插座的空間占用相當于主體部分的平面面積和蓋單元的高度加上操作者操作所需的空間。

在進行電子模塊檢測過程的實驗室中，各種材料和設備都安裝在有限的空間內。為了檢測任務的方便性和效率性，各種材料和設備設置在離操作者距離較近的地方。因此，隨著測試插座在實驗室中的占用空間的增加，檢測任務的方便性和效率性降低。

(3)由于蓋單元旋轉以使連接銷連接于連接器，因此蓋單元在產生用于將連接銷和連接器連接的外力的同時會進行曲線運動，在曲線運動中力的方向瞬間改變。因此，蓋單元的旋轉力在相對于連接銷和連接器的連接方向傾斜的方向上傳遞給連接銷和連接器(直到連接銷和連接器完全連接)，并且由于外力作用，連接銷與連接器之間的接觸區域會產生摩擦力，這與理想的連接方向不一致。

結果，連接銷和連接器被摩擦力損傷。特別地，由于摩擦力造成的損傷的逐漸積累的，因此連接到多個連接器的連接銷的壽命會迅速降低。