[發(fā)明專利]測試插座有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810259401.7 | 申請日: | 2018-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN108663546B | 公開(公告)日: | 2020-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭羽烈;張?zhí)┯?/a> | 申請(專利權(quán))人: | NTS株式會社 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283 | 代理人: | 溫春艷;鄺圓暉 |
| 地址: | 韓國忠*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 插座 | ||
1.一種測試插座,其特征在于,包括:
底座,該底座配置為在其上座設(shè)有電子元件,并且具有形成在其上部的向下傾斜的斜面;
頂蓋,該頂蓋形成為能夠在所述底座上方沿豎直方向移動;以及
壓緊模塊,該壓緊模塊滑動地連接于所述頂蓋,并且配置為當(dāng)所述頂蓋下降時向下壓緊所述電子元件,
其中,在所述頂蓋下降的過程中,所述壓緊模塊由所述斜面推動以滑動至所述電子元件的上方;
其中,所述頂蓋上設(shè)置有軌道,并且
其中,所述壓緊模塊包括配置為沿所述軌道滑動的滑塊、連接于所述滑塊并配置為向下推動所述電子元件的推塊以及可轉(zhuǎn)動地連接于所述滑塊以在所述斜面上滾動的滾動件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座,其中,所述底座或所述壓緊模塊設(shè)置有連接銷,該連接銷配置為沿豎直方向連接于所述電子元件的連接器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座,其中,所述底座和所述頂蓋中的一者設(shè)置有豎軸,所述底座和所述頂蓋中的另一者設(shè)置有軸槽,所述豎軸插入所述軸槽中并能夠沿豎直方向移動。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試插座,其中,所述頂蓋和所述壓緊模塊通過第一彈性件相互連接,并且
所述壓緊模塊在所述頂蓋升降的過程中通過所述第一彈性件的恢復(fù)力與所述斜面緊密接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試插座,所述測試插座還包括:
第二彈性件,該第二彈性件插設(shè)在所述底座和所述頂蓋之間,
其中,當(dāng)移除用于降低所述頂蓋的外力時,所述頂蓋通過所述第二彈性件的恢復(fù)力上升,并且所述壓緊模塊配置為通過所述第一彈性件的恢復(fù)力沿遠(yuǎn)離所述電子元件的方向滑動。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試插座,其中,所述頂蓋通過驅(qū)動器沿豎直方向移動,并且
當(dāng)所述驅(qū)動器提升所述頂蓋時,所述壓緊模塊配置為通過所述第一彈性件的恢復(fù)力沿遠(yuǎn)離所述電子元件的方向滑動。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座,其中,所述頂蓋和所述壓緊模塊通過第一彈性件相互連接,并且
所述底座具有設(shè)置于所述斜面下方的豎直面,所述滾動件在其通過所述第一彈性件的恢復(fù)力與所述豎直面緊密接觸的狀態(tài)下在所述豎直面上滾動,以使得所述推塊向下壓緊所述電子元件。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護裝置或電路





