[發明專利]研磨裝置及研磨方法

在審

• 申請號: 201810257492.0
• 申請日: 2018-03-27
• 公開（公告）號: CN108340237A
• 公開（公告）日: 2018-07-31
• 發明（設計）人: 王子安;宋偉;李增紅;黃漢卿;王河;包珊珊;孟勃;朱明遠;苗冬
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: B24B9/10
• 分類號: B24B9/10;B24B49/00;B24B51/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

本發明技術方案的目的是提供一種研磨裝置及研磨方法。該研磨裝置包括：研磨輪，用于對待研磨基板的相對兩個邊緣進行研磨；驅動結構，與所述研磨輪連接，用于驅動所述研磨輪移動；邊緣檢測結構，與所述驅動結構連接，用于檢測待研磨基板的相對兩個邊緣之間中心線的位置，根據所檢測的位置，向所述驅動結構輸出控制信號，使所述驅動結構驅動所述研磨輪移動，所述研磨輪的研磨中心面與所述中心線位于同一平面。該研磨裝置通過設置邊緣檢測結構，能夠自動地檢測待研磨基板的相對兩個邊緣之間中心線的位置，解決現有技術研磨裝置對位存在偏差的問題。

技術領域

本發明涉及顯示器制造技術領域，尤其是指一種研磨裝置及研磨方法。

背景技術

在薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，簡稱TFT－LCD)的制造過程中，所使用的玻璃基板的邊緣和角部位置需要執行研磨過程，以去除邊緣的裂紋，避免裂紋向內部擴散。

如圖1為現有技術通常研磨裝置的結構示意圖。待研磨的玻璃基板1通過傳送帶2傳輸至研磨輪3下方位置的研磨基臺4上，通過對位單元調節玻璃基板1的位置之后，確定玻璃基板1的表面位置，研磨輪3下降至固定位置，通過研磨輪3相較于玻璃基板1的邊緣移動，以對玻璃基板1的邊緣進行研磨。

上述研磨過程中，對玻璃基板1的對位過程，沒有考慮玻璃基板1厚度的差異、研磨基臺4位置的差異和研磨輪3結構尺寸的差異等，導致研磨輪3相較于玻璃基板1邊緣對位位置的不準確，研磨輪3的中心與玻璃基板1所研磨邊緣的中心不能匹配，造成研磨過程中玻璃基板1存在破損風險，產品良品率較低。

發明內容

本發明技術方案的目的是提供一種研磨裝置及研磨方法，解決現有技術的研磨裝置對玻璃基板的對位，研磨輪與玻璃基板的邊緣對位位置不準確，玻璃基板存在破損風險的問題。

本發明實施例提供一種研磨裝置，其中，包括：

研磨輪，用于對待研磨基板的相對兩個邊緣進行研磨；

驅動結構，與所述研磨輪連接，用于驅動所述研磨輪移動；

邊緣檢測結構，與所述驅動結構連接，用于檢測待研磨基板的相對兩個邊緣之間中心線的位置，根據所檢測的位置，向所述驅動結構輸出控制信號，使所述驅動結構驅動所述研磨輪移動，所述研磨輪的研磨中心面與所述中心線位于同一平面。

可選地，所述的研磨裝置，其中，所述驅動結構還用于驅動所述研磨輪沿相對兩個邊緣中其中一邊緣的長度方向移動，在移動過程中所述研磨輪對相對兩個邊緣進行研磨。

可選地，所述的研磨裝置，其中，所述研磨輪包括關于預設平面對稱設置的兩個研磨刀口，其中所述預設平面形成為所述研磨中心面，且所述研磨輪對待研磨基板的相對兩個邊緣進行研磨時，每一所述研磨刀口分別與一個邊緣貼合連接。

可選地，所述的研磨裝置，其中，所述邊緣檢測結構包括：

圖像傳感器，用于獲取待研磨基板的相對兩個邊緣的圖像；

第一控制器，用于根據所述圖像傳感器所獲得的圖像，確定待研磨基板的相對兩個邊緣之間中心線的位置；

第二控制器，用于根據所述第一控制器所檢測的中心線的位置、所述圖像傳感器相對于待研磨基板的位置和所述研磨輪相對于所述圖像傳感器的位置，確定所述研磨輪的移動距離，根據所述移動距離向所述驅動結構輸出控制信號。

可選地，所述的研磨裝置，其中，所述邊緣檢測結構還包括：

光源，用于為所述圖像傳感器獲取所述圖像時提供照明。

可選地，所述的研磨裝置，其中，所述光源的數量為至少兩個，且分別與所述圖像傳感器集成于一體，均勻分布在所述圖像傳感器的外圍。