[發明專利]減少校準和調諧期間的檢測器耗損

有效

• 申請號: 201810257300.6
• 申請日: 2018-03-27
• 公開（公告）號: CN108666199B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: G·B·古肯博格;S·T·夸姆比;J·G·沃斯;M·B·楊
• 申請（專利權）人: 薩默費尼根有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳潔;姬利永

一種操作質譜儀的方法包括：使用檢測器的第一增益設置或維持第一質荷比范圍的第一發射電流來檢測第一離子物種；使用所述檢測器的第二增益設置或維持第二質荷比范圍的第二發射電流來檢測第二離子物種；以及使用所述檢測到的第一和第二離子物種來校準所述質譜儀的質量分析器的質量范圍，從而調諧所述質量分析器的分辨率或調諧所述質譜儀的離子光學。

技術領域

本公開大體上涉及質譜領域，包含減少校準和調諧期間的檢測器耗損。

背景技術

質譜可用于對樣品進行詳細分析。此外，質譜可向樣品中的大量化合物提供定性(化合物X是否存在于樣品中)和定量(多少化合物X存在于樣品中)的數據。這些性能已用于各種分析，例如對藥物使用進行測試、測定食品中的農藥殘余物、監測水質等等。

質譜儀的敏感度可以受離子源的效率、通過質譜儀且在質量分析器中的離子損耗以及檢測器的敏感度限制。增大離子源的效率、每單位樣品或每單位時間產生的離子數目可以顯著地改進質譜儀的檢測極限，從而使得能夠檢測化合物的較低濃度或使用較小量的樣品。然而，增大每單位時間產生的離子數目可能會對減少電子倍增器壽命產生有害影響。因而，需要改進型離子源。

發明內容

在第一方面中，一種操作質譜儀的方法可包含：使用檢測器的第一增益設置或維持第一質荷比范圍的第一發射電流來檢測第一離子物種；使用所述檢測器的第二增益設置或維持第二質荷比范圍的第二發射電流來檢測第二離子物種；以及使用所述檢測到的第一和第二離子物種來校準所述質譜儀的質量分析器的質量范圍，從而調諧所述質量分析器的分辨率或調諧所述質譜儀的離子光學。

在第一方面的各種實施例中，所述方法可進一步包含電離離子源中包含一種或多種校準物種的校準混合物，從而產生所述第一和第二離子物種。在特定實施例中，所述方法可進一步包含通過樣品入口將所述校準混合物供應到電離腔室中，并加快電子沿著源軸從電子發射體通過所述電離腔室。

在第一方面的各種實施例中，所述質量分析器可以是濾質器、離子阱或其任何組合。

在第一方面的各種實施例中，所述第一離子物種可具有高于所述第二離子物種的豐度，且所述第一增益設置可以低于所述第二增益設置，從而避免所述檢測器在檢測所述第一離子物種期間過飽和。在特定實施例中，所述第二離子物種可以是低豐度離子物種且所述第二增益設置可以高于所述第一增益設置，從而確保有足夠的信號來檢測所述第二物種。

在第二方面中，一種質譜儀可包含：離子源；離子光學元件，被配置成沿著離子路徑導引離子；質量分析器，被配置成基于所述離子的質荷比而將離子分離；檢測器；以及系統控制器。所述離子源可包含主體和電子源，所述主體包括在第一末端處的電離腔室、到所述電離腔室中的樣品入口以及在第二末端處的后電離體積，所述主體的長度沿著從所述第一末端到所述第二末端的源軸；所述電子源定位在所述第一末端處，所述電子源包含電子發射體且被配置成用于加快電子束通過所述電離腔室。所述系統控制器可被配置成在所述質量分析器的質量校準期間、在所述質量分析器的分辨率調諧期間或在離子光學元件的調諧期間應用離子特定的檢測器增益，從而針對高豐度離子避免所述檢測器過飽和且針對低豐度離子獲得足夠信號。

在第二方面的各種實施例中，可以加快所述電子束沿著所述源軸通過所述電離腔室。

在第二方面的各種實施例中，所述電子源可以是熱離子長絲或場發射體。

在第二方面的各種實施例中，所述質量分析器可以是濾質器、離子阱或其任何組合。

在第二方面的各種實施例中，可以通過電離包含一種或多種校準物種的校準混合物來產生所述高豐度離子和所述低豐度離子。

在第二方面的各種實施例中，所述系統控制器可以被進一步配置成減少檢測器增益校準期間的所述發射電流，使得單個離子事件支配所述信號或泊松統計學支配均方根偏差。在特定實施例中，所述系統控制器可被配置成通過減少供應給所述電子源的電流來減少所述發射電流。