[發明專利]一種參數測量方法及系統

有效

• 申請號: 201810253397.3
• 申請日: 2018-03-26
• 公開（公告）號: CN108549073B
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 王志宇;冀石勇;張濤;張樂;蔡曉葳;杜鑫;付浩然;霍彥波
• 申請（專利權）人: 北京航天廣通科技有限公司
• 主分類號: G01S13/58
• 分類號: G01S13/58;G01S13/06;G01S13/88
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種參數測量方法，其特征在于，所述方法包括：

當被測目標在預設軌跡中進行加速彈射時，操作終端向第一測量雷達發送第一測量指令；當所述被測目標在所述預設軌道中進行減速彈射時，所述操作終端向第二測量雷達發送第二測量指令；

所述第一測量雷達響應于所述第一測量指令通過X波段測量被測目標對應的第一測量參數；將所述第一測量參數發送至所述操作終端；其中，所述第一測量雷達設置在以發射點的側后方；

所述第二測量雷達響應于所述第二測量指令通過Ka波段測量所述被測目標對應的第二測量參數；將所述第二測量參數發送至所述操作終端；其中，所述第二測量雷達設置在以結束點的側前方；

操作終端根據所述第一測量參數和所述第二測量參數計算所述被測目標對應的目標測量參數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一測量雷達響應于所述第一測量指令通過X波段測量被測目標對應的第一測量參數，包括：

所述第一測量雷達在所述第一測量指令中獲取第一方位覆蓋角度和第一俯仰覆蓋角度；或者，所述第一測量雷達在所述第一測量指令中獲取第二方位覆蓋角度和第二俯仰覆蓋角度；

所述第一測量雷達按照所述第一方位覆蓋角度和所述第一俯仰覆蓋角度通過所述X波段測量所述第一測量參數；或者，所述第一測量雷達按照所述第二方位覆蓋角度和所述第二俯仰覆蓋角度通過所述X波段測量所述第一測量參數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一測量雷達響應于所述第一測量指令通過X波段測量被測目標對應的第一測量參數，包括：

所述第一測量雷達響應于所述第一測量指令按照預先確定的第一方位覆蓋角度和第一俯仰覆蓋角度通過所述X波段測量所述第一測量參數；

當在第一預設時間段內未測量到所述第一測量參數時，所述第一測量雷達按照預先確定的第二方位覆蓋角度和第二俯仰覆蓋角度通過所述X波段測量所述第一測量參數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二測量雷達響應于所述第二測量指令通過Ka波段測量所述被測目標對應的第二測量參數，包括：

所述第二測量雷達在所述第二測量指令中獲取第三方位覆蓋角度和第三俯仰覆蓋角度；或者，所述第二測量雷達在所述第二測量指令中獲取第四方位覆蓋角度和第四俯仰覆蓋角度；

所述第二測量雷達按照所述第三方位覆蓋角度和所述第三俯仰覆蓋角度通過所述Ka波段測量所述第二測量參數；或者，所述第二測量雷達按照所述第四方位覆蓋角度和所述第四俯仰覆蓋角度通過所述Ka波段測量所述第二測量參數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二測量雷達響應于所述第二測量指令通過Ka波段測量所述被測目標對應的第二測量參數，包括：

所述第二測量雷達響應于所述第二測量指令按照預先確定的第三方位覆蓋角度和第三俯仰覆蓋角度通過所述Ka波段測量所述第二測量參數；

當在第二預設時間段內未測量到所述第二測量參數時，所述第二測量雷達按照預先確定的第四方位覆蓋角度和第四俯仰覆蓋角度通過所述Ka波段測量所述第二測量參數。

6.一種參數測量系統，其特征在于，所述系統包括：操作終端、第一測量雷達和第二測量雷達；其中，

所述操作終端，用于當被測目標在預設軌跡中進行加速彈射時，向所述第一測量雷達發送第一測量指令；當所述被測目標在所述預設軌道中進行減速彈射時，向所述第二雷達發送第二測量指令；

所述第一測量雷達，用于響應于所述第一測量指令通過X波段測量被測目標對應的第一測量參數；將所述第一測量參數發送至所述操作終端；其中，所述第一測量雷達設置在以發射點的側后方；

所述第二測量雷達，用于響應于所述第二測量指令通過Ka波段測量所述被測目標對應的第二測量參數；將所述第二測量參數發送至所述操作終端；其中，所述第二測量雷達設置在以結束點的側前方；

所述操作終端，還用于根據所述第一測量參數和所述第二測量參數計算所述被測目標對應的目標測量參數。