[發明專利]靈敏放大器電路有效
| 申請號: | 201810251692.5 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN108389597B | 公開(公告)日: | 2020-09-25 |
| 發明(設計)人: | 劉芳芳;邵博聞 | 申請(專利權)人: | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號: | G11C7/06 | 分類號: | G11C7/06 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴廣志 |
| 地址: | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 靈敏 放大器 電路 | ||
本發明公開了一種靈敏放大器電路,由四個PMOS晶體管、八個NMOS晶體管、兩個電容,兩個電阻、兩個壓控電流源和一個RS觸發器RS組成。本發明能夠有效降低鎖存數據出錯的風險。
技術領域
本發明涉及半導體集成電路領域,特別是涉及一種靈敏放大器(SA)電路。
背景技術
靈敏放大器應用于NVM Memory(非易失性存儲器)讀電路,一般的靈敏放大器電路應用鎖存數據。
現有的傳統靈敏放大器電路如圖1所示,由四個PMOS晶體管PM0~PM3、六個NMOS晶體管NM0~NM5、兩個電容C1、C2,兩個壓控電流源DY1、DY2,一個RS觸發器RS組成。
PMOS晶體管PM0~PM3的源極與電源電壓端VDD相連接,PMOS晶體管PM0的柵極和漏極與PMOS晶體管PM1的柵極、NMOS晶體管NM0的漏極相連接,其連接的節點記為VE。NMOS晶體管NM0的源極與壓控電流源DY1的正端、電容C1的一端相連接,壓控電流源DY1的負端和電容C1的另一端接地GND。NMOS晶體管NM0的柵極輸入鉗位電壓Vlim。
PMOS晶體管PM3的柵極和漏極與PMOS晶體管PM2的柵極、NMOS晶體管NM1的漏極相連接。NMOS晶體管NM1的源極與壓控電流源DY2的正端、電容C2的一端相連接,壓控電流源DY2的負端和電容C2的另一端接地GND。NMOS晶體管NM1的柵極輸入鉗位電壓Vlim。
PMOS晶體管PM1的漏極與NMOS晶體管NM4的漏極、NMOS晶體管NM2的漏極相連接,其連接的節點記為VD0。
PMOS晶體管PM2的漏極與NMOS晶體管NM4的源極、NMOS晶體管NM3的漏極相連接,其連接的節點記為VD1。
NMOS晶體管NM2的柵極與節點VD1相連接,NMOS晶體管NM3的柵極與節點VD0相連接。
NMOS晶體管NM2的源極、NMOS晶體管NM3的源極與NMOS晶體管NM5的漏極相連接,NMOS晶體管NM5的源極接地GND。
NMOS晶體管NM4的柵極輸入準備信號PRE。NMOS晶體管NM5的柵極輸入讀信號READ。
節點VD0與RS觸發器的R輸入端(復位端)相連接,節點VD1與RS觸發器的S輸入端(置位端)相連接,RS觸發器的輸出端SOUT作為電路的輸出端。
圖1中的電流lref為從PMOS晶體管PM1的漏極流出,進入節點VD0的電流;電流lcell為從PMOS晶體管PM2的漏極流出,進入節點VD1的電流。
圖1所示電路的波形圖,參見圖2所示。
上述電路的工作原理是:電路工作在電源電壓VDD范圍較大的1.7V~5.5V之間;參考存儲單元CKDY讀電流是0.5*Erase cell(正常0單元讀電流的一半)
PRE時,VD0與VD1將會被拉至Vt(閾值電壓)左右的同等電位;PRE結束后,進入比較工作過程。
讀0單元時,IcellIref,NMOS晶體管NM2快速打開,電路輸出端SOUT輸出0(低電平)。
讀1單元時,IcellIref,NMOS晶體管NM3快速打開,電路輸出端SOUT輸出1(高電平)。
上述電路存在的缺點是:
PRE結束瞬間NMOS晶體管NM2和NM3會由于電壓瞬間耦合作用出現沖高,鎖存電路LATCH有可能會瞬間鎖住錯誤數據并無法糾正。
圖1中標示的LATCH為鎖存電路。
參考存儲單元CKDY在圖1中由電容C1和壓控電流源DY1構成,存儲單元CCDY由電容C2和壓控電流源DY2構成。
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