[發(fā)明專利]P-iris的壽命檢測控制電路

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810249893.1
• 申請日: 2018-03-26
• 公開（公告）號: CN108536057A
• 公開（公告）日: 2018-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 施文凱;何雨暉;洪秋亮
• 申請（專利權(quán)）人: 福建福光股份有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 福州元?jiǎng)?chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學(xué)俊

本發(fā)明涉及一種P?iris的壽命檢測控制電路。包括基于STC15F204EA主控芯片的主控電路、用于為整個(gè)系統(tǒng)供電的穩(wěn)壓電路、與主控電路連接且用于驅(qū)動P?iris的電機(jī)工作狀態(tài)的驅(qū)動電路、與主控電路連接且用于控制主控電路對驅(qū)動電路輸出脈沖指令的按鍵電路；電源啟動，穩(wěn)壓電路正常供電時(shí)，主控電路根據(jù)按鍵電路的各按鍵按下與否，對驅(qū)動電路輸出不同的脈沖指令，進(jìn)而控制P?iris的電機(jī)的轉(zhuǎn)向和速度，以此實(shí)現(xiàn)P?iris在不同頻率下壽命測試的控制。本發(fā)明電路易于實(shí)現(xiàn)，并且可以根據(jù)客戶需求，更改參數(shù)，能夠?qū)︾R頭P?iris的壽命測試進(jìn)行有效的管控和整理；解決了鏡頭P?iris壽命測試的繁瑣性，以及客戶的特殊需求。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種P-iris的壽命檢測控制電路。

背景技術(shù)

隨著安防行業(yè)的發(fā)展日益成熟，P-iris不僅適用于百萬像素?cái)z像機(jī)，而且適用于所有固定網(wǎng)絡(luò)攝像機(jī)。鏡頭光圈調(diào)節(jié)著光圈孔大小及穿過鏡頭的光的數(shù)量，以確保圖像可以正確曝光。P-iris可以提供給攝像機(jī)關(guān)于光圈位置的信息，攝像機(jī)可以有效地控制光圈孔以優(yōu)化圖像質(zhì)量。因此，對P-iris的壽命檢測也就至關(guān)重要了。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種P-iris的壽命檢測控制電路，電路易于實(shí)現(xiàn)，并且可以根據(jù)客戶需求，更改參數(shù)，能夠?qū)︾R頭P-iris的壽命測試進(jìn)行有效的管控和整理；解決了鏡頭P-iris壽命測試的繁瑣性，以及客戶的特殊需求。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種P-iris的壽命檢測控制電路，包括基于STC15F204EA主控芯片的主控電路、用于為整個(gè)系統(tǒng)供電的穩(wěn)壓電路、與主控電路連接且用于驅(qū)動P-iris的電機(jī)工作狀態(tài)的驅(qū)動電路、與主控電路連接且用于控制主控電路對驅(qū)動電路輸出脈沖指令的按鍵電路；電源啟動，穩(wěn)壓電路正常供電時(shí)，主控電路根據(jù)按鍵電路的各按鍵按下與否，對驅(qū)動電路輸出不同的脈沖指令，進(jìn)而控制P-iris的電機(jī)的轉(zhuǎn)向和速度，以此實(shí)現(xiàn)P-iris在不同頻率下壽命測試的控制。

在本發(fā)明一實(shí)施例中，所述穩(wěn)壓電路采用LM7809芯片、LM7805芯片及LM317芯片。

在本發(fā)明一實(shí)施例中，所述驅(qū)動電路采用L293D芯片。

在本發(fā)明一實(shí)施例中，所述按鍵電路包括6個(gè)按鍵，該6個(gè)按鍵分別代表P-iris不同的頻率的壽命作動，通過程序分別設(shè)置為100pps、200pps、300pps、400pps、500pps、600pps。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明具有以下有益效果：本發(fā)明電路易于實(shí)現(xiàn)，并且可以根據(jù)客戶需求，更改參數(shù)，能夠?qū)︾R頭P-iris的壽命測試進(jìn)行有效的管控和整理；解決了鏡頭P-iris壽命測試的繁瑣性，以及客戶的特殊需求。

附圖說明

圖1為本發(fā)明電路原理示意圖。

圖2為本發(fā)明穩(wěn)壓電路原理圖。

圖3為本發(fā)明主控電路原理圖。

圖4為本發(fā)明驅(qū)動電路原理圖。

圖5為本發(fā)明按鍵電路原理圖。

圖6為本發(fā)明主程序流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行具體說明。

本發(fā)明的一種P-iris的壽命檢測控制電路，包括基于STC15F204EA主控芯片的主控電路、用于為整個(gè)系統(tǒng)供電的穩(wěn)壓電路、與主控電路連接且用于驅(qū)動P-iris的電機(jī)工作狀態(tài)的驅(qū)動電路、與主控電路連接且用于控制主控電路對驅(qū)動電路輸出脈沖指令的按鍵電路；電源啟動，穩(wěn)壓電路正常供電時(shí)，主控電路根據(jù)按鍵電路的各按鍵按下與否，對驅(qū)動電路輸出不同的脈沖指令，進(jìn)而控制P-iris的電機(jī)的轉(zhuǎn)向和速度，以此實(shí)現(xiàn)P-iris在不同頻率下壽命測試的控制。