[發明專利]P-iris的壽命檢測控制電路在審
| 申請號: | 201810249893.1 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN108536057A | 公開(公告)日: | 2018-09-14 |
| 發明(設計)人: | 施文凱;何雨暉;洪秋亮 | 申請(專利權)人: | 福建福光股份有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/042 | 分類號: | G05B19/042 |
| 代理公司: | 福州元創專利商標代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡學俊 |
| 地址: | 350015 福建*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 主控電路 壽命測試 驅動電路輸出 按鍵電路 控制電路 脈沖指令 壽命檢測 穩壓電路 電機工作狀態 控制主控電路 電源啟動 客戶需求 驅動電路 系統供電 正常供電 主控芯片 鏡頭 繁瑣性 按鍵 按下 管控 電機 電路 驅動 客戶 | ||
1.一種P-iris的壽命檢測控制電路,其特征在于,包括基于STC15F204EA主控芯片的主控電路、用于為整個系統供電的穩壓電路、與主控電路連接且用于驅動P-iris的電機工作狀態的驅動電路、與主控電路連接且用于控制主控電路對驅動電路輸出脈沖指令的按鍵電路;電源啟動,穩壓電路正常供電時,主控電路根據按鍵電路的各按鍵按下與否,對驅動電路輸出不同的脈沖指令,進而控制P-iris的電機的轉向和速度,以此實現P-iris在不同頻率下壽命測試的控制。
2.根據權利要求1所述的P-iris的壽命檢測控制電路,其特征在于,所述穩壓電路采用LM7809芯片、LM7805芯片及LM317芯片。
3.根據權利要求1所述的P-iris的壽命檢測控制電路,其特征在于,所述驅動電路采用L293D芯片。
4.根據權利要求1所述的P-iris的壽命檢測控制電路,其特征在于,所述按鍵電路包括6個按鍵,該6個按鍵分別代表P-iris不同的頻率的壽命作動,通過程序分別設置為100pps、200pps、300pps、400pps、500pps、600pps。
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