[發明專利]一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置及多路ID/TE檢測器

在審

• 申請號: 201810235911.0
• 申請日: 2018-03-21
• 公開（公告）號: CN108492756A
• 公開（公告）日: 2018-09-04
• 發明（設計）人: 鄒飛
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 魯力

1.一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，包括MCU中央處理單元、至少一組信號傳輸單元；其中，

MCU中央處理單元具有至少一組ID檢測引腳以及TE檢測引腳，信號傳輸單元具有至少一組ID信號接收端口和ID信號輸出端口、以及至少一組TE信號接收端口和TE信號輸出端口，待檢測液晶模組的ID檢測引腳分別通過信號傳輸單元的ID信號接收及輸出端口與MCU中央處理單元ID檢測引腳連接；待檢測液晶模組的TE檢測引腳分別通過信號傳輸單元的TE信號接收及輸出端口與MCU中央處理單元TE檢測引腳連接。

2.根據權利要求1所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，信號傳輸單元包括電壓跟隨器和圖形信號發生器，所述圖形信號發生器的若干輸出檢測引腳與待檢測液晶模組的若干ID或TE檢測引腳連接，圖形信號發生器的若干輸入檢測引腳通過電壓跟隨器與MCU中央處理單元的檢測引腳連接。

3.根據權利要求1所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，所述圖形信號發生器的若干檢測引腳與待檢測液晶模組ID或TE檢測引腳一一對應連接，并通過電壓跟隨器與MCU中央處理單元的ID或TE檢測引腳對應。

4.根據權利要求3所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，所述MCU中央處理單元為單片機，MCU中央處理單元的ID檢測引腳為單片機的ADC引腳，MCU中央處理單元的TE檢測引腳為單片機的GPIO引腳，圖形信號發生器的若干檢測引腳與待檢測液晶模組ID或TE檢測引腳一一對應連接，并通過電壓跟隨器與單片機的ADC或GPIO檢測引腳對應。

5.根據權利要求1所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，還包括一個上位機，通過RS232連接協議與MCU中央處理單元連接，所述上位機用于配置檢測參數，檢測參數包括開電通道，當前檢測引腳狀態，當前檢測狀態，以及設置判斷閾值的最大值和最小值，其中，開電通道包括待檢測液晶模組點屏通道和ID/TE檢測通道，當前檢測引腳狀態包括ID引腳狀態和TE引腳狀態；當前檢測狀態包括ID檢測狀態和TE檢測狀態。

6.根據權利要求5所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，所述單片機包括設置有信號采集單元的第一可編程邏輯器件，設置有信號判斷單元的第二可編程邏輯器件，上位機設有控制單元的第三可編程邏輯器件。

7.根據權利要求6所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，

第一可編程邏輯器件用于通過信號傳輸單元同時采集多路待檢測液晶模組的ID的電平以及TE的頻率；

第二可編程邏輯器件用于根據配置的檢測參數，判斷每路檢測的ID的電平以及TE的頻率是否符合檢測參數，并將檢測結果輸出至三可編程邏輯器件；

第三可編程邏輯器件用于根據第二可編程邏輯器件的判斷結果控制圖形信號發生器輸出圖形信號至該路待檢測液晶模組，點亮待檢測液晶模組，或者終止點屏流程。

8.根據權利要求7所述的一種針對液晶模組的多路ID/TE檢測裝置，其特征在于，

當前檢測狀態配置為ID檢測狀態時，當前檢測引腳狀態對應配置為ID引腳狀態，且第一可編程邏輯器件同時進行電平采集，并記錄電壓值；

當前檢測狀態配置為TE檢測狀態時，當前檢測引腳狀態對應配置為TE引腳狀態，且第一可編程邏輯器件同時采集方波的兩個下降沿，記錄兩個下降沿的時間，通過公式f＝1/T計算出頻率，其中，T為從上一個下降沿至下一個下降沿時間。