[發(fā)明專(zhuān)利]一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置及多路ID/TE檢測(cè)器

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810235911.0
• 申請(qǐng)日: 2018-03-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108492756A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-09-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄒飛
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 武漢科皓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 魯力

本發(fā)明涉及液晶模組的檢測(cè)領(lǐng)域。尤其是涉及一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置及多路ID/TE檢測(cè)器，本發(fā)明在原有的PG不變的情況下外接此裝置，通過(guò)PC軟件和本裝置建立通訊后實(shí)現(xiàn)檢測(cè)通過(guò)電壓跟隨器+DAC模塊采集ID的電平；電壓跟隨器+GPIO采集TE的頻率。最后設(shè)置的閾值以及設(shè)置的誤差范圍進(jìn)行OK/NG判斷。本發(fā)明即避免原單獨(dú)PG接口GPIO引腳不足的問(wèn)題，更能方便產(chǎn)線作業(yè)，極大提高檢測(cè)效率，同時(shí)還具備升級(jí)方便，節(jié)約成本等優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及本發(fā)明涉及液晶模組的檢測(cè)領(lǐng)域，尤其是涉及一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著液晶面板產(chǎn)品品質(zhì)的要求愈加嚴(yán)格，需要通過(guò)對(duì)面板IC產(chǎn)生的ID/TE信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，以便將有缺陷的模組提前篩除，目前絕大多數(shù)客戶(hù)通過(guò)萬(wàn)用表，示波器、邏輯分析儀進(jìn)行檢測(cè)，操作繁瑣且不便于產(chǎn)線作業(yè)。少部分客戶(hù)通過(guò)PG接口預(yù)留的FPGA和ARM的GPIO引腳來(lái)實(shí)現(xiàn)，但存在引腳過(guò)少，檢測(cè)精度差，與其它檢查功能存在沖突的問(wèn)題，不能很好的兼容。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的技術(shù)問(wèn)題；提供了一種在原有的PG不變的情況下外接此裝置，通過(guò)PC軟件和本裝置建立通訊后實(shí)現(xiàn)檢測(cè)，即避免原單獨(dú)PG接口GPIO引腳不足的問(wèn)題，更能方便產(chǎn)線作業(yè)，極大提高檢測(cè)效率，同時(shí)還具備升級(jí)方便，節(jié)約成本等優(yōu)點(diǎn)。

本發(fā)明的上述技術(shù)問(wèn)題主要是通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決的：

一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，其特征在于，包括MCU中央處理單元、至少一組信號(hào)傳輸單元；其中，

MCU中央處理單元具有至少一組ID檢測(cè)引腳以及TE檢測(cè)引腳，信號(hào)傳輸單元具有至少一組ID信號(hào)接收端口和ID信號(hào)輸出端口、以及至少一組TE信號(hào)接收端口和TE信號(hào)輸出端口，待檢測(cè)液晶模組的ID檢測(cè)引腳分別通過(guò)信號(hào)傳輸單元的ID信號(hào)接收及輸出端口與MCU中央處理單元ID檢測(cè)引腳連接；待檢測(cè)液晶模組的TE檢測(cè)引腳分別通過(guò)信號(hào)傳輸單元的TE信號(hào)接收及輸出端口與MCU中央處理單元TE檢測(cè)引腳連接。

2在上述的一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，信號(hào)傳輸單元包括電壓跟隨器和圖形信號(hào)發(fā)生器，所述圖形信號(hào)發(fā)生器的若干輸出檢測(cè)引腳與待檢測(cè)液晶模組的若干ID或TE檢測(cè)引腳連接，圖形信號(hào)發(fā)生器的若干輸入檢測(cè)引腳通過(guò)電壓跟隨器與MCU中央處理單元的檢測(cè)引腳連接。

在上述的一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，所述圖形信號(hào)發(fā)生器的若干檢測(cè)引腳與待檢測(cè)液晶模組ID或TE檢測(cè)引腳一一對(duì)應(yīng)連接，并通過(guò)電壓跟隨器與MCU中央處理單元的ID或TE檢測(cè)引腳對(duì)應(yīng)。

在上述的一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，所述MCU中央處理單元為單片機(jī)，MCU中央處理單元的ID檢測(cè)引腳為單片機(jī)的ADC引腳，MCU中央處理單元的TE檢測(cè)引腳為單片機(jī)的GPIO引腳，圖形信號(hào)發(fā)生器的若干檢測(cè)引腳與待檢測(cè)液晶模組ID或TE檢測(cè)引腳一一對(duì)應(yīng)連接，并通過(guò)電壓跟隨器與單片機(jī)的ADC或GPIO檢測(cè)引腳對(duì)應(yīng)。

在上述的一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，還包括一個(gè)上位機(jī)，通過(guò)RS232連接協(xié)議與MCU中央處理單元連接，所述上位機(jī)用于配置檢測(cè)參數(shù)，檢測(cè)參數(shù)包括開(kāi)電通道，當(dāng)前檢測(cè)引腳狀態(tài)，當(dāng)前檢測(cè)狀態(tài)，以及設(shè)置判斷閾值的最大值和最小值，其中，開(kāi)電通道包括待檢測(cè)液晶模組點(diǎn)屏通道和ID/TE檢測(cè)通道，當(dāng)前檢測(cè)引腳狀態(tài)包括ID引腳狀態(tài)和TE引腳狀態(tài)；當(dāng)前檢測(cè)狀態(tài)包括ID檢測(cè)狀態(tài)和TE檢測(cè)狀態(tài)。

在上述的一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，所述單片機(jī)包括設(shè)置有信號(hào)采集單元的第一可編程邏輯器件，設(shè)置有信號(hào)判斷單元的第二可編程邏輯器件，上位機(jī)設(shè)有控制單元的第三可編程邏輯器件。

在上述的一種針對(duì)液晶模組的多路ID/TE檢測(cè)裝置，