[發(fā)明專(zhuān)利]應(yīng)用于電池片黑角檢測(cè)的法線投影方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810231336.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108447053A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李華超;王小彬 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 蘇州巨能圖像檢測(cè)技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00;G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省常*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 法線投影 電池片 歸一化 圖像 有效像素 檢測(cè) 像素 剔除 投影 應(yīng)用 | ||
本發(fā)明應(yīng)用于電池片黑角檢測(cè)的法線投影方法,具體包括剔除其他干擾和法線投影;法線投影的具體步驟為:D1)取端部四個(gè)角;D2)每個(gè)角沿45度或135度向圖像內(nèi)部進(jìn)行法方向進(jìn)行投影;D3)歸一化:每一個(gè)法方向有效的像素并不完全相同,所以需要使用有效像素個(gè)數(shù),對(duì)曲線進(jìn)行歸一化;D4)左上和右上的兩個(gè)曲線在下面,并且慢慢向上走;而左下和右下的連個(gè)曲線在上面,并且沒(méi)有明顯的規(guī)律;反映出法線投影能夠反映圖像的內(nèi)容。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽(yáng)能電池片制備工藝,具體的,其展示一種應(yīng)用于電池片黑角檢測(cè)的法線投影方法。
背景技術(shù)
社會(huì)的不斷發(fā)展,對(duì)能源的需求有增無(wú)減,促使不可再生能源逐漸枯竭。同時(shí)由于人類(lèi)對(duì)能源的不合理使用導(dǎo)致環(huán)境問(wèn)題不斷惡化,其中全球氣候變暖問(wèn)題尤為突出,已經(jīng)嚴(yán)重威脅到人類(lèi)的生存和發(fā)展。太陽(yáng)能光伏發(fā)電由于清潔無(wú)污染、安全可靠、安裝方便,且可以很好地與建筑物結(jié)合,目前已成為發(fā)展新能源的重要方向之一。將太陽(yáng)能轉(zhuǎn)換成電能需要太陽(yáng)能光伏組件,光伏組件有眾多的太陽(yáng)能電池片組成,而太陽(yáng)能電池片在生產(chǎn)過(guò)程中,不可避免地會(huì)造成缺陷,這將嚴(yán)重影響太陽(yáng)能電池片的發(fā)光效率和使用壽命,因此必須對(duì)太陽(yáng)能電池片進(jìn)行缺陷檢測(cè),并剔除含有缺陷的電池片。
按照太陽(yáng)能電池片制作材料的不同,可以分為單晶、多晶和非晶硅。本文討論的是電池片是前面兩種,即單晶電池片和多晶電池片。檢測(cè)內(nèi)部缺陷比較成熟的方法是EL(Electroluminescence)。即電池發(fā)光缺陷檢測(cè)。
EL的測(cè)試原理如圖 1,晶體硅太陽(yáng)電池外加正向偏置電壓,電源向太陽(yáng)電池注入大量非平衡載流子,電致發(fā)光依靠從擴(kuò)散區(qū)注入的大量非平衡載流子不斷地復(fù)合發(fā)光,放出光子;再利用CCD相機(jī)捕捉到這些光子,通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理后顯示出來(lái),整個(gè)的測(cè)試過(guò)程是在暗室中進(jìn)行。
“黑角”缺陷是電池片四個(gè)角中其中有一個(gè)角或一個(gè)以上比其他位置的明顯偏暗,并且從外向內(nèi)慢慢變亮。如圖 3是一張典型的黑角缺陷,其中左上和右上角比別處明顯偏暗。黑角的位置會(huì)影響發(fā)光的效率,所以必須檢測(cè)出來(lái)。
現(xiàn)階段的黑角檢測(cè),大多是通過(guò)Blob(塊)的方法。首先通過(guò)直接二值化、動(dòng)態(tài)二值化方法提取出黑角的塊(blob),然后再對(duì)blob進(jìn)行特征提取,最后通過(guò)決策樹(shù)或分類(lèi)器的方法區(qū)分出正常和黑角。此方法的缺點(diǎn)是,有些黑角并不明顯,很難分割出完整的黑角部分,從而造成漏檢或誤檢。
因此,有必要提供一種應(yīng)用于電池片黑角檢測(cè)的法線投影方法解決上述問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種應(yīng)用于電池片黑角檢測(cè)的法線投影方法。
技術(shù)方案如下:
一種應(yīng)用于電池片黑角檢測(cè)的法線投影方法,具體包括剔除其他干擾和法線投影;
法線投影的具體步驟為:
D1)取端部四個(gè)角;
D2)每個(gè)角沿45度或135度向圖像內(nèi)部進(jìn)行法方向進(jìn)行投影;
D3)歸一化:每一個(gè)法方向有效的像素并不完全相同,所以需要使用有效像素個(gè)數(shù),對(duì)曲線進(jìn)行歸一化;
D4)左上和右上的兩個(gè)曲線在下面,并且慢慢向上走;而左下和右下的連個(gè)曲線在上面,并且沒(méi)有明顯的規(guī)律;反映出法線投影能夠反映圖像的內(nèi)容。
進(jìn)一步的,其他類(lèi)別的缺陷,也是黑色的;如果不剔除,會(huì)造成投影的曲線中包含了其他缺陷信息,造成黑角的信號(hào)會(huì)被減弱,因此需進(jìn)行剔除其他干擾步驟;
剔除其他干擾的具體步驟如下:
B1)采用的是一個(gè)15x15的窗口,帶著mask對(duì)圖像進(jìn)行均值平滑處理;
B2)處理后的平滑圖像作為背景圖像,原始圖像和背景圖像像素點(diǎn)進(jìn)行比較;
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