[發明專利]應用于電池片黑角檢測的法線投影方法在審
| 申請號: | 201810231336.7 | 申請日: | 2018-03-20 |
| 公開(公告)號: | CN108447053A | 公開(公告)日: | 2018-08-24 |
| 發明(設計)人: | 李華超;王小彬 | 申請(專利權)人: | 蘇州巨能圖像檢測技術有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省常*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 法線投影 電池片 歸一化 圖像 有效像素 檢測 像素 剔除 投影 應用 | ||
1.一種應用于電池片黑角檢測的法線投影方法,其特征在于:具體包括剔除其他干擾和法線投影;
法線投影的具體步驟為:
D1)取端部四個角;
D2)每個角沿45度或135度向圖像內部進行法方向進行投影;
D3)歸一化:每一個法方向有效的像素并不完全相同,所以需要使用有效像素個數,對曲線進行歸一化;
D4)左上和右上的兩個曲線在下面,并且慢慢向上走;而左下和右下的連個曲線在上面,并且沒有明顯的規律;反映出法線投影能夠反映圖像的內容。
2.根據權利要求1所述的一種應用于電池片黑角檢測的法線投影方法,其特征在于:其他類別的缺陷,也是黑色的;如果不剔除,會造成投影的曲線中包含了其他缺陷信息,造成黑角的信號會被減弱,因此需進行剔除其他干擾步驟;
剔除其他干擾的具體步驟如下:
B1)采用的是一個15x15的窗口,帶著mask對圖像進行均值平滑處理;
B2)處理后的平滑圖像作為背景圖像,原始圖像和背景圖像像素點進行比較;
B3)步驟B2)中,原始圖像中暗35%的像素點為其他缺陷,不得參與環形投影;
B4)最后和mask圖像結合,產生最終可以投影的圖像。
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