[發(fā)明專利]一種雙極性線路板的制作工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810228607.3 | 申請日: | 2018-03-20 |
| 公開(公告)號: | CN108400114B | 公開(公告)日: | 2021-12-17 |
| 發(fā)明(設計)人: | 沈利明 | 申請(專利權)人: | 江蘇金泰新減速機有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/82 | 分類號: | H01L21/82;H01L21/77 |
| 代理公司: | 東營雙橋專利代理有限責任公司 37107 | 代理人: | 李夫壽 |
| 地址: | 225400 江蘇省泰州市泰*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 極性 線路板 制作 工藝 | ||
1.一種雙極性線路板的制作工藝,其特征在于:包括以下步驟:
S1、襯底的選擇:選擇100晶向的硅片以及襯底的電阻率選擇ρ≈10Ω.cm;
S2、第一次光刻:n+隱埋層擴散孔光刻,雙極型集成電路各元器件均從表面實現互聯,為了減少集電極串聯電阻效應,減小寄生pnp晶體管的影響,在制作元器件的襯底和外延層之間制作n+隱埋層,n+隱埋層形成的具體步驟包括甩膠、掩膜對準、曝光、顯影、刻蝕、去膠、離子注入;
S3、生長外延層:n+隱埋層形成之后生長一層p型層來作為npn晶體管的集電極,后面形成的基極與發(fā)射極也是通過在外延層上摻雜來獲得,外延層生長時,要對其厚度及電阻率進行分析,保證外延層的厚度至少要大于隱埋層上推距離、集電結耗盡區(qū)寬度、基區(qū)擴散結深以及后道工序生成氧化層所消耗的外延層厚度之和;
S4、第二次光刻:P隔離擴散孔光刻,實現器件之間的隔離外延后對外延層表面進行氧化,形成一定厚度的氧化層,然后光刻氧化層形成隔離擴散窗口,再進行P+擴散和推進,隔離擴散深度大于外延層厚度,設置為Tepi的125%,使隔離p+擴散與襯底有一定寬度的接觸;
S5、第三次光刻:N型基區(qū)擴散孔光刻,形成npn晶體管的基極,進行基區(qū)光刻之后用擴散或離子注入的方法進行基區(qū)摻雜,基區(qū)摻雜由摻雜和再分布兩步完成,摻入的雜質為p與As雜質;
S6、第四次光刻:N+發(fā)射區(qū)、集電極歐姆接觸區(qū)光刻,進行摻雜的發(fā)射區(qū),發(fā)射區(qū)光刻的同時形成晶體管發(fā)射區(qū)和集電區(qū)的集電極歐姆接觸區(qū),光刻之后進行發(fā)射區(qū)和集電極歐姆接觸區(qū)進行摻雜;
S7、第五次光刻:引線孔光刻,將晶體管工作時與外部元件以及設備進行
連接,把晶體管的各個電極采用金屬引線的方式引出,通過光刻把各個電極要淀積金屬引線的引線孔暴露出來;
S8、淀積鋁:采用金屬鋁作為電極引線,進行鋁的淀積,用蒸發(fā)與濺射的方法在表面淀積一層金屬鋁;
S9、第六次光刻:反刻鋁,按照電路的連接要求刻出相應的鋁條形狀,把表面多余的鋁膜通過反刻除去,制作成一個npn型晶體管。
2.如權利要求1所述的一種雙極性線路板的制作工藝,其特征在于:所述步驟9中制成的npn型晶體管,為了防止空氣中雜質離子及水蒸氣對npn型晶體管造成污染,待npn型晶體管制作完成之后淀積一層如磷硅玻璃與氮化硅作為保護層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





