[發明專利]一種產品表面水平傾斜角度的測量方法及系統有效
| 申請號: | 201810226002.0 | 申請日: | 2018-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN108489423B | 公開(公告)日: | 2020-04-10 |
| 發明(設計)人: | 陳文源;姚憲 | 申請(專利權)人: | 蘇州華興源創科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張雪梅 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 產品 表面 水平 傾斜 角度 測量方法 系統 | ||
本發明公開一種產品表面水平傾斜角度的測量方法及系統,該方法包括:沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取至少兩個測試點,并分別沿第一方向和第二方向獲取測試點之間的實際距離,第一方向垂直于第二方向;在已知CCD相機成像清晰度的成像系統中對產品的待測表面成像,并分別計算沿第一方向和第二方向的相應測試點之間的成像距離;分別根據第一方向和第二方向的相應測試點的成像距離和實際距離計算產品待測表面的傾斜角度。本發明測量精度高且測量效率高。
技術領域
本發明涉及產品測量測試技術領域。更具體地,涉及一種產品表面水平傾斜角度的測量方法及系統。
背景技術
目前,測量例如手機等電子設備的顯示屏的傾斜角度、水平距離的方式主要是使用激光三角法測量。但是這種方式在沒有激光器條件、或者測試空間無法安裝激光器的環境下存在很大不便。
除了上述激光三角法測量的方式外,使用機械或者電子測量儀器的平面測量存在兩方面問題:第一、測量精度低;第二、測量效率低,不能做到水平面X軸和Y軸方向的同時區別測量,其中,如果重復多次機械測量則需要耗費較多的時間和人力成本。
因此,需要提供一種高精度、高效率的產品表面水平傾斜角度的測量方法及系統。
發明內容
本發明的目的在于提供一種高精度、高效率的產品表面水平傾斜角度的測量方法及系統。
為達到上述目的,本發明采用下述技術方案:
本發明第一方面提供了一種產品表面水平傾斜角度的測量方法,該方法包括:
沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取至少兩個測試點,并分別沿第一方向和第二方向獲取測試點之間的實際距離,所述第一方向垂直于第二方向;
在已知CCD相機成像清晰度的成像系統中對所述產品的待測表面成像,并分別計算沿第一方向和第二方向的相應測試點之間的成像距離;以及
分別根據第一方向和第二方向的相應測試點的成像距離和實際距離計算產品待測表面的傾斜角度。
優選地,所述在已知CCD相機成像清晰度的成像系統中對所述產品的待測表面成像,并分別計算沿第一方向和第二方向的相應測試點之間的成像距離,進一步包括:
對產品待測表面進行成像,確定清晰度;
獲取CCD成像測試點之間的像素個數;
根據已知的清晰度與CCD成像單位像素長度的對應關系,計算測試點之間的成像距離。
優選地,沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取多個測試點,并分別沿第一方向和第二方向獲取多組任意兩個測試點之間的實際距離;
分別計算沿第一方向和第二方向的對應多組任意兩個測試點之間的成像距離;以及
分別根據第一方向和第二方向的對應多組任意兩個測試點的成像距離和實際距離,計算產品待測表面的平均傾斜角度。
優選地,沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取多個測試點,并分別沿第一方向和第二方向獲取多組相鄰兩個測試點之間的實際距離;
分別計算沿第一方向和第二方向的對應多組相鄰兩個測試點之間的成像距離;以及
分別根據第一方向和第二方向的對應多組相鄰兩個測試點的成像距離和實際距離,計算產品待測表面的平均傾斜角度。
優選地,所述產品待測表面為長方形,所述第一方向平行于長方形的長邊,所述第二方向平行于長方形的短邊。
優選地,該方法進一步包括:
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