[發明專利]一種產品表面水平傾斜角度的測量方法及系統

有效

• 申請號: 201810226002.0
• 申請日: 2018-03-19
• 公開（公告）號: CN108489423B
• 公開（公告）日: 2020-04-10
• 發明（設計）人: 陳文源;姚憲
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張雪梅

1.一種產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，該方法包括：

沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取至少兩個測試點，并分別沿第一方向和第二方向獲取測試點之間的實際距離，所述第一方向垂直于第二方向；

在已知CCD相機成像清晰度的成像系統中對所述產品的待測表面成像，并分別計算沿第一方向和第二方向的相應測試點之間的成像距離；以及

分別根據第一方向和第二方向的相應測試點的成像距離和實際距離計算產品待測表面的傾斜角度。

2.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，所述在已知CCD相機成像清晰度的成像系統中對所述產品的待測表面成像，并分別計算沿第一方向和第二方向的相應測試點之間的成像距離，進一步包括：

對產品待測表面進行成像，確定清晰度；

獲取CCD成像測試點之間的像素個數；

根據已知的清晰度與CCD成像單位像素長度的對應關系，計算測試點之間的成像距離。

3.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取多個測試點，并分別沿第一方向和第二方向獲取多組任意兩個測試點之間的實際距離；

分別計算沿第一方向和第二方向的對應多組任意兩個測試點之間的成像距離；以及

分別根據第一方向和第二方向的對應多組任意兩個測試點的成像距離和實際距離，計算產品待測表面的平均傾斜角度。

4.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，沿產品待測表面的第一方向和第二方向分別選取多個測試點，并分別沿第一方向和第二方向獲取多組相鄰兩個測試點之間的實際距離；

分別計算沿第一方向和第二方向的對應多組相鄰兩個測試點之間的成像距離；以及

分別根據第一方向和第二方向的對應多組相鄰兩個測試點的成像距離和實際距離，計算產品待測表面的平均傾斜角度。

5.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，所述產品待測表面為長方形，所述第一方向平行于長方形的長邊，所述第二方向平行于長方形的短邊。

6.根據權利要求4所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，該方法進一步包括：

判斷第一方向相鄰測試點的圖像清晰度是否相同，若不同則在第一方向相鄰測試點間增加測試點，并分別獲取增加測試點后相鄰測試點之間的實際距離和成像距離；

判斷第二方向相鄰測試點的圖像清晰度是否相同，若不同則在第二方向相鄰測試點間增加測試點，并分別獲取增加測試點后相鄰測試點之間的實際距離和成像距離。

7.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，該方法還包括：判斷CCD相機對產品成像后的圖像中產品是否存在水平面角度旋轉，若存在則根據旋轉的角度分別對第一方向和第二方向測試點之間的實際距離進行修正。

8.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量方法，其特征在于，采用標準圖像對產品待測表面選取測試點。

9.一種產品表面水平傾斜角度的測量系統，其特征在于，該系統包括：

測量平臺；

CCD相機，用于對產品待測表面進行成像；

數據處理單元，根據產品待測表面分別沿第一方向和第二方向的兩個測試點測量得到的成像距離和實際距離，計算產品待測表面的傾斜角度。

10.根據權利要求1所述的產品表面水平傾斜角度的測量系統，其特征在于，所述測量系統進一步包括存儲單元，用于存儲已知的清晰度與CCD成像單位像素長度的對應關系，所述數據處理單元根據CCD相機得到的測試點之間的像素個數，計算測試點之間的成像距離。