[發(fā)明專利]一種熒光氧化鉬量子點(diǎn)測(cè)定痕量鈾（Ⅵ）的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810205403.8
• 申請(qǐng)日: 2018-03-13
• 公開（公告）號(hào): CN108680541B
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 肖賽金;楚曌君;劉云海;張志賓;戴熒;徐函
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東華理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N21/64
• 分類號(hào): G01N21/64
• 代理公司: 北京眾合誠成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246
• 代理人: 夏艷

1.一種熒光氧化鉬量子點(diǎn)測(cè)定痕量鈾(Ⅵ)的方法，其特征在于，以熒光氧化鉬量子點(diǎn)作為指示劑，通過鈾(Ⅵ)加入前后的氧化鉬量子點(diǎn)的熒光強(qiáng)度對(duì)鈾(Ⅵ)進(jìn)行定性和定量分析；

該熒光氧化鉬量子點(diǎn)可對(duì)環(huán)境水樣中的鈾(Ⅵ)進(jìn)行選擇性檢測(cè)；

包括以下步驟：

A、在硝酸介質(zhì)中，pH 4.5-5.5，將鈾(Ⅵ)加入氧化鉬量子點(diǎn)并混勻后靜置1-5分鐘，最后以激發(fā)波長380-450nm、發(fā)射波長525nm、激發(fā)和發(fā)射狹縫10nm測(cè)定氧化鉬量子點(diǎn)的熒光；

B、繪制硝酸鈾酰離子的標(biāo)準(zhǔn)曲線；

C、根據(jù)測(cè)定的氧化鉬量子點(diǎn)的熒光和標(biāo)準(zhǔn)曲線，計(jì)算得到痕量鈾(Ⅵ)的含量。

2.如權(quán)利要求1所述的熒光氧化鉬量子點(diǎn)測(cè)定痕量鈾(Ⅵ)的方法，其特征在于，當(dāng)硝酸鈾酰濃度為1.04-16.64μM時(shí)，氧化鉬量子點(diǎn)的熒光強(qiáng)度與其濃度呈很好的線性關(guān)系，線性方程為I_F＝1261.6-582.9log(c)，相關(guān)系數(shù)R²＝0.99。