[發明專利]時鐘校準電路及校準方法

有效

• 申請號: 201810203256.0
• 申請日: 2018-03-13
• 公開（公告）號: CN110277980B
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發明（設計）人: 范習安
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: H03K3/017
• 分類號: H03K3/017;H03K5/135
• 代理公司: 北京市鑄成律師事務所 11313
• 代理人: 張臻賢;李夠生

1.一種時鐘校準電路，其特征在于，包括：

多個處理電路，用于接收同一器件輸出的時鐘信號，并對接收到的所述時鐘信號進行不同的處理；

工藝角檢測電路，用于檢測器件的偏差類型；以及

多路選擇器，具有多個輸入端和一個輸出端，所述多路選擇器的各所述輸入端分別接收一個所述處理電路的處理結果，所述多路選擇器用于根據所述工藝角檢測電路檢測到的所述器件的所述偏差類型，通過所述輸出端選擇性地輸出一個所述輸入端接收到的所述處理結果作為矯正信號；

其中，所述偏差類型通過對比所述器件輸出的時鐘信號的上升沿的上升時間與下降沿的下降時間而確定；以及所述器件的多個偏差類型與所述多個處理電路一一對應。

2.如權利要求1所述的時鐘校準電路，其特征在于，還包括接收器，用于對所述器件輸出的所述時鐘信號進行放大，并將放大的所述時鐘信號提供給每個所述處理電路。

3.如權利要求1所述的時鐘校準電路，其特征在于，還包括熔斷電路，所述熔斷電路與各所述處理電路的輸入端連接，所述熔斷電路用于根據所述工藝角檢測電路檢測到的所述器件的所述偏差類型，選擇性地使多個所述處理電路中的一個工作，并斷開其余所述處理電路。

4.如權利要求1所述的時鐘校準電路，其特征在于，所述處理電路包括：

第一矯正電路，用于對第一偏差類型的所述器件輸出的所述時鐘信號進行整形處理；

第二矯正電路，用于對第二偏差類型的所述器件輸出的所述時鐘信號進行整形處理；以及

傳輸電路，用于將第三偏差類型的所述器件輸出的所述時鐘信號傳輸給所述多路選擇器的所述輸入端。

5.如權利要求4所述的時鐘校準電路，其特征在于，所述第一偏差類型的所述器件輸出的所述時鐘信號具有第一斜率的上升沿及具有第二斜率的下降沿，其中，所述第一斜率大于所述第二斜率；所述第一矯正電路用于將所述時鐘信號矯正為上升沿與下降沿的斜率均為第一斜率的信號。

6.如權利要求5所述的時鐘校準電路，其特征在于，所述第二偏差類型的所述器件輸出的所述時鐘信號具有第三斜率的上升沿及具有第四斜率的下降沿，其中，所述第三斜率小于所述第四斜率；所述第二矯正電路用于將所述時鐘信號矯正為上升沿與下降沿的斜率均為第四斜率的信號。

7.如權利要求6所述的時鐘校準電路，其特征在于，所述第三偏差類型的所述器件輸出的所述時鐘信號具有相等斜率的上升沿和下降沿。

8.如權利要求1至7任一項所述的時鐘校準電路，其特征在于，所述工藝角檢測電路包括：

檢測電路，用于檢測所述時鐘信號上升沿上升到高電平的10%的第一時間以及所述時鐘信號上升沿上升到高電平的90%的第二時間，以計算所述第二時間與所述第一時間的第一時間差；所述檢測電路還用于檢測所述時鐘信號下降沿下降到高電平的90%的第三時間以及所述時鐘信號下降沿下降到高電平的10%的第四時間，以計算所述第四時間與所述第三時間的第二時間差；

寄存器，用于存儲所述第一時間差和所述第二時間差；以及

比較器，用于對所述寄存器存儲的所述第一時間差和所述第二時間差進行對比，判斷所述器件的所述偏差類型。

9.一種時鐘校準方法，其特征在于，包括：

提供如權利要求1所述的時鐘校準電路；

所述工藝角檢測電路根據所述器件輸出的所述時鐘信號的波形判斷所述器件的偏差類型；以及

所述多路選擇器根據檢測到的所述器件的所述偏差類型，通過所述輸出端選擇性地輸出一個所述輸入端接收到的所述處理結果作為矯正信號；

其中，所述偏差類型通過對比所述器件輸出的時鐘信號的上升沿的上升時間與下降沿的下降時間而確定；以及所述器件的多個偏差類型與所述多個處理電路一一對應。

10.如權利要求9所述的時鐘校準方法，其特征在于，所述工藝角檢測電路判斷所述器件的偏差類型的步驟包括：

藉由所述工藝角檢測電路檢測所述時鐘信號上升沿上升到高電平的10%的第一時間以及所述時鐘信號上升沿上升到高電平的90%的第二時間，計算所述第二時間與所述第一時間的第一時間差；

藉由所述工藝角檢測電路檢測所述時鐘信號下降沿下降到高電平的90%的第三時間以及所述時鐘信號下降沿下降到高電平的10%的第四時間，計算所述第四時間與所述第三時間的第二時間差；以及

比較所述第二時間差與所述第一時間差，并根據比較結果判斷所述器件的偏差類型。